专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于低频磁场磁感应特性的涂镀覆层厚度检测方法-CN202310191640.4在审
  • 周权;冷贵鋆;时涵;钟卓文;白利兵;张杰 - 电子科技大学
  • 2023-03-02 - 2023-06-09 - G01B7/06
  • 本发明公开了一种基于低频磁场磁感应特性的涂镀覆层厚度检测方法,首先构建一个低频磁感应测厚装置,利用低频的动态磁场作为激励源。在此基础上,基于标准基底通过数据降维、多周期平均建立标准基底建立厚度曲线,再基于没有涂镀覆层的待测基底建立与标准基体的校准关系,最后获得的特征量经过校准关系得到校准后的特征量,并通入厚度曲线得到待测基底涂镀覆层厚度。本发明利用低频的动态磁场作为激励源,降低磁感应测厚与测量基底的相关性,消除基底磁滞对涂镀覆层厚度测量结果的影响,同时,对采集数据为多个周期磁滞回线进行降维、平均,相对于现有的单点磁芯信号,更为精准地反应了涂镀覆层的厚度,因此,本发明提升磁感应测厚法的测量精度。
  • 一种基于低频磁场感应特性镀覆厚度检测方法
  • [发明专利]一种光学相干断层多点分布式成像方法-CN202310054182.X在审
  • 丁尧禹;雷晨光;李浩;李金键;赵天意;白利兵;周权;张杰;田露露;程玉华 - 电子科技大学
  • 2023-02-03 - 2023-06-06 - G01N21/01
  • 本发明公开了一种光学相干断层多点分布式成像方法,将相干光源在测量臂和参考臂分成若干子光路干涉对,通过对参考臂进行偏移,使得每个子光路干涉对在系统成像深度范围内不同的深度区间内干涉成像,最后根据预先设定的A扫窗口位置及宽度对每个干涉对进行截断与后处理,得到每个相应测点的A扫图。相较于传统机械式扫描方法,本发明能够同步高速地采集多个兴趣点的断层图像,具有布点灵活、检测原位同步等优点,特别是对多测点同步要求高的高频动态过程监测,以及测点分布在狭窄、凹凸复杂的空间等机械式扫描难以扫描到的应用场景。另外,相较于现有的多探头系统实现多点分布式测量,本发明具有同步性高、算力功耗小、集成度高、硬件成本低的优势。
  • 一种光学相干断层多点分布式成像方法

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