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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种基于微片固体激光移频回馈位移传感器的面形测量装置-CN202310275485.4在审
发明人： 王圣浩;李灵巧;徐学科;吴福林;隋展 -专利权人：恒迈光学精密机械（杭州）有限公司
申请日： 2023-03-14 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了基于正交偏振激光位移传感器的面形测量装置，其特征在于，包括第一正交偏振激光位移传感器、第二正交偏振激光位移传感器二维扫描仪和控制器，第一正交偏振激光位移传感器和均安装在二维扫描仪上，二维扫描仪驱动第一正交偏振激光位移传感器和第二正交偏振激光位移传感器沿预定轨迹移动，控制器与第一正交偏振激光位移传感器、第二正交偏振激光位移传感器、二维扫描仪相连，根据各个采样点位置处参考样品与待测样品的距离，获得待测样品的面形参数，该装置成本低，可测量自由曲面，能够实现样品的原位测量。
一种基于固体激光回馈位移传感器测量装置

[发明专利]用于校准高透反射率测量系统的标准结构及校准方法-CN202010679089.4有效
发明人： 王圣浩;刘世杰;徐学科 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2020-07-15 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：一种用于校准高透反射率测量系统的标准结构，包括二氧化碳气源、真空泵、阀门1、阀门2、腔体和空气压力计，所述的二氧化碳气源通过管道与所述的腔体相连接，所述的管道内安装所述的阀门1，所述的真空泵通过管道与所述的腔体相连接，所述的管道内安装所述的阀门2，所述的空气压力计通过管道与所述的腔体相连接。本发明标准结构解决了现有高透反射率测量系统无法校准的问题，可实现0.99到0.99999范围内高透反射率的校准。
用于校准反射率测量系统标准结构方法

[实用新型]新型光栅衍射效率光谱测量装置-CN202123400512.1有效
发明人： 王圣浩;吴福林;刘世杰 -专利权人：恒迈光学精密机械（杭州）有限公司
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了新型光栅衍射效率光谱测量装置，涉及光谱分析技术领域，光栅单色器造价昂贵，使得测量系统的成本比较高，旋转盘安装有待测光栅固定机架，待测光栅固定机架上设置有待测光栅，待测光栅固定机架一侧设置有光源，光源的一侧设置有棱镜单色器，待测光栅固定机架另一侧设置有测试光探测器，所述光源和棱镜单色器与待测光栅固定机架之间固定连接有探测器连接杆，所述待测光栅固定机架与测试光探测器之间固定连接有探测器连接杆；采用棱镜单色器替换现有光栅衍射效率光谱测量仪器中的光栅单色器，由于棱镜单色器造价非常便宜，这使得本实用新型专利构建的测量系统具有较低的成本。
新型光栅衍射效率光谱测量装置

[发明专利]基于电光效应的硬X射线单色器-CN202210430718.9在审
发明人： 王圣浩;吴福林;刘世杰;徐学科 -专利权人：恒迈光学精密机械（杭州）有限公司
申请日： 2022-04-22 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于电光效应的硬X射线单色器，包括若干晶体、与晶体数量相同的电压产生装置，相邻两个晶体平行设置，射入硬X射线单色器的复色X射线和晶体之间形成有夹角，电压产生装置与晶体相连并对晶体施加一个电场，通过同步调节各电压产生装置施加在晶体上的电压，使得电场强度变化的同时X射线在晶体中折射率随之改变，从而使得硬X射线单色器射出的单色X射线的波长实现微秒量级切换至目标波长。本发明具有X射线的输出波长切换速度快达到微秒量级切换，X射线吸收谱的测量速度快达到毫秒量级测量等优点。
基于电光效应射线单色

[发明专利]光学元件表层缺陷快速探测和识别的检测装置和检测方法-CN201910840235.4有效
发明人：邵建达;倪开灶;刘世杰;周游;王圣浩;徐天柱;潘靖宇;白云波 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：一种光学元件表层缺陷快速探测和识别装置和检测方法，该装置主要包括激光器、光束整形器、扩束器、反射镜、会聚透镜、样品、XY精密位移平台、变倍镜头、电动光路切换器、第一成像透镜、长波通滤光器、第一面阵光电探测器、准直器、可调谐滤波器、第二成像透镜、第二面阵光电探测器和计算机。本发明利用缺陷光致发光特性，对缺陷成像，实现快速探测；结合高光谱成像技术，根据缺陷的发光光谱峰值特征，对各类缺陷进行识别，并确定缺陷是何种缺陷。本发明设计的测量装置集快速探测和识别于一体，非常适用于大口径光学元件表层缺陷探测。
光学元件表层缺陷快速探测识别检测装置方法

[实用新型]新型透反射光谱测量仪-CN202123285673.0有效
发明人： 王圣浩;吴福林;刘世杰 -专利权人：恒迈光学精密机械（杭州）有限公司
申请日： 2021-12-24 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01J3/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新型透反射光谱测量仪，涉及透反射光谱测量仪技术领域，在传统测量过程中，单色器内部的机械结构需要断断续续的完成不连续的间歇运动，探测器需要进行间歇的数据采集，他们之间的动作是分时间先后顺序完成的，因而样品透反射光谱的测试速度比较缓慢，包括光源，光源的光束输出方向依次是光阑、偏振片，所述光源和光阑之间设置有液晶可调谐滤波器，偏振片的光束出射方向是待测样品、探测器，本实用新型专利采用液晶可调谐滤波器替换现有透反射光谱测量仪器中的光栅单色器，由于液晶可调谐滤波器的波长切换速度极快，远远快于现有技术中采用的光栅单色器，因此本实用新型专利构建的测量系统具有极快的测量速度。
新型反射光谱测量仪

[发明专利]一种算力中心化的短距离运算托管系统及运行方法-CN202111533875.4在审
发明人：张裕;王圣浩 -专利权人：上海应用技术大学
申请日： 2021-12-15 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06F9/50 文献下载
摘要：本发明涉及一种算力中心化的短距离运算托管系统及运行方法，该系统包括：子节点：连接终端设备，进行数据收集及终端设备的电气控制；算力中心节点：为众多子节点所共享，用于接收子节点的数据计算请求、进行数据计算并返回至对应的子节点。与现有技术相比，本发明将算力资源中心化，实现算力资源均衡以及算力互联，降低算力冗余以及终端设备成本的目的。
一种中心短距离运算托管系统运行方法

[发明专利]显微散射偏振成像表面缺陷测量装置和测量方法-CN201910609670.6有效
发明人：邵建达;刘世杰;倪开灶;王圣浩;周游;王微微;徐天柱;鲁棋 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2019-07-08 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种显微散射偏振成像表面缺陷测量装置和测量方法，该装置主要包括激光器、第一会聚透镜、旋转扩散器、第二会聚透镜、光阑、第三会聚透镜、针孔、第四会聚透镜、偏振片、半波片、偏振分束器、X‑Y位移平台、样品、显微镜头、四分之一波片、微偏振片阵列、相机和计算机。本发明采用微偏振片阵列实现表面缺陷实时显微散射偏振成像，通过计算偏振度图像，提升了超光滑元件表面缺陷探测的灵敏度，实现高反膜元件表面缺陷有效检测，能够满足米级大口径超光滑元件表面缺陷快速检测需求。
显微散射偏振成像表面缺陷测量装置测量方法

[发明专利]宽光谱球面透射标准镜-CN202010199957.9有效
发明人：刘世杰;鲁棋;周游;王圣浩;徐天柱;王微微;邵建达 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-03-20 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：一种宽光谱球面透射标准镜，其构成包括沿激光入射方向上依次的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜和第五透镜构成的镜组，第四透镜可沿光轴方向移动。该镜组最大通光口径为Φ100mm、镜组长度不大于150mm、F数设计范围为0.75～3.30、工作波段为532nm～1550nm，本发明在不同波长下工作时的F数保持不变、波前误差峰谷值均≤0.025λ。本发明可应用于多波长平面激光干涉仪中，实现在多种波长下，对凸面或凹面光学元件的波前参数进行高精度测量。
光谱球面透射标准

[发明专利]光学元件高反射率测量系统和测量方法-CN201810972476.X有效
发明人：邵建达;刘世杰;王圣浩 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2018-08-24 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：一种光学元件高反射率测量系统和测量方法，系统包括激光光源、光电探测器、示波器、信号发生器、第一光纤、光纤隔离器、第二光纤、第三光纤、第一光纤耦合器、第四光纤、样品台、第一姿态调节机构、第二姿态调节机构、第五光纤、第二光纤耦合器和第六光纤，与现有普遍采用的基于高反射镜构成的谐振腔高反射率测量技术相比，本发明的测量灵敏度提高1000多倍，测量系统具有结构紧凑、布局灵活、抗干扰能力强、测量简便的特点。
光学元件反射率测量系统测量方法

[发明专利]基于混沌激光的光学元件高反射率测量系统-CN202011144722.6在审
发明人： 王圣浩;刘世杰;李灵巧;徐学科;吴福林;潘靖宇;王微微;徐天柱;邵建达 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： H01S3/083 文献下载
摘要：一种基于混沌激光的光学元件高反射率的测量系统，包括激光器、光电探测器和示波器，还包括光纤隔离器、第一光纤耦合器、供待测光学元件放置的样品台、第一姿态调节机构、第二姿态调节机构和第二光纤耦合器。本发明的测量灵敏度大大提高，测量系统可以实现小型化。
基于混沌激光光学元件反射率测量系统

[发明专利]用于干涉仪平面标准镜绝对面形检测的旋转机构-CN201910206648.7有效
发明人：白云波;周游;刘世杰;邵建达;鲁棋;徐天柱;王圣浩;潘靖宇 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2019-03-19 - 公布日： 2020-11-10 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：一种用于干涉仪平面标准镜绝对面形检测的旋转机构，主要包括待测平面标准镜、供待测平面标准镜放置的平面标准镜固定环、镜框、圆形测角光栅尺、圆形测角光栅尺链接板、圆形测角光栅尺固定板、电动旋转机构及其控制系统。本发明实现了平面标准镜面形绝对检测的快速替换和旋转角度精密控制，实现了提高检测精度的目的，更能有标志性的评价加工水平，为加工精度的进一步提高提供指导意义，同时可为各类口径干涉仪的计量校准提供重要的参考意义。
用于干涉仪平面标准绝对检测旋转机构

[发明专利]原位时间分辨X射线吸收谱的测量装置和测量方法-CN201710312948.4有效
发明人：邵建达;刘世杰;王圣浩 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2017-05-05 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01N23/083 文献下载
摘要：一种原位时间分辨X射线吸收谱的测量装置和方法。测量装置主要包括X射线源、第一狭缝、声光X射线滤波器、射频发射器、第二狭缝、前电离室、前电离室信号放大器、待测样品、后电离室、后电离室信号放大器、数据采集器和计算机等部分。X射线源、声光X射线滤波器和射频发射器用于产生单色X光束，前电离室用于测量X光束穿过样品前的强度，后电离室用于测量X光束穿过样品后的强度，前电离室信号放大器、后电离室信号放大器、数据采集器和计算机用于数据采集和数据处理。本发明在测量过程中不存在任何机械部件的运动，因而可实现X射线吸收谱的时间分辨测量，此外对X射线吸收谱具有较高的测量精度。
原位时间分辨射线吸收测量装置测量方法

[发明专利]倍频晶体定轴误差测量装置及测量方法-CN201910116649.2有效
发明人：刘世杰;鲁棋;徐天柱;潘靖宇;周游;王圣浩;邵建达 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2019-02-14 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：一种倍频晶体定轴误差测量装置及测量方法，该装置包括：激光器、孔径光阑、激光隔离器、格兰激光棱镜、光挡、第一分光板、平面反射镜、第一激光自准直仪、第一旋转台、第二分光板、第一能量计、分光棱镜、待测倍频晶体、第二旋转台、第二能量计、直角棱镜、校准倍频晶体、第三旋转台、第三能量计和第二激光自准直仪。本发明装置通过获取待测倍频晶体和校准倍频晶体的倍频转换效率同步调谐曲线，从而计算待测倍频晶体光轴与校准晶体倍频光轴之间的角度差，即待测倍频晶体的定轴误差。本发明的测量精度较高，相对测量误差优于1″。
倍频晶体误差测量装置测量方法

[发明专利]紫外-可见光-近红外透反射光谱测量装置和测量方法-CN201710000703.8有效
发明人：刘世杰;王圣浩;王微微;徐天柱 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2017-01-03 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：一种紫外‑可见光‑近红外透反射光谱测量装置和测量方法。测量装置包括复色光源、光栅单色器、光阑、偏振片、分束器、参考光高速探测器、测试光高速探测器、示波器和计算机，本发明优点是：(1)显著提高了透反射光谱的采集速度，可以实现样品透反射光谱的快速测量；(2)测量系统具有较高的测量精度，样品透反射率的测量误差约为0.1％‑0.3％；(3)在测量过程中，光栅单色器内部的机械部件始终保持匀速的运动状态，测试系统因而具有较高的机械稳定性。
紫外可见光红外反射光谱测量装置测量方法

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