专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器-CN202110441423.7有效
  • 李军辉;沈保家;於成星;周静兰 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2020-06-08 - 2022-12-02 - H01L27/1157
  • 本公开实施例公开了一种存储器,包括:第一栅叠层结构,位于衬底表面,包括依次交替层叠设置的第一绝缘层和第一栅极层;第二栅叠层结构,位于第一栅叠层结构表面,包括依次交替层叠设置的第二绝缘层和第二栅极层;沟道结构,贯穿第一栅叠层结构和第二栅叠层结构;第一电荷阻挡结构,位于沟道结构和第一栅极层之间;第二电荷阻挡结构,贯穿第一栅叠层结构和第二栅叠层结构;其中,位于第一栅叠层结构中的第二电荷阻挡结构,位于沟道结构和第一电荷阻挡结构之间,且位于沟道结构和第一绝缘层之间;位于第二栅叠层结构中的第二电荷阻挡结构,位于沟道结构和第二栅极层之间,且位于沟道结构和第二绝缘层之间。
  • 存储器
  • [发明专利]离子注入装置及离子注入方法-CN202110028004.0有效
  • 刘小辉;於成星;张和;周静兰;刘修忠;沈保家;李军辉 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-01-11 - 2022-04-22 - H01J37/317
  • 本申请公开了一种离子注入装置和离子注入方法。该离子注入装置包括:反应腔室;气体供应源,连接至所述反应腔室,向所述反应腔室内通入待电离气体;承载台,位于所述反应腔室底部,用于承载晶片;第一电极,位于所述承载台上,连接第一电源,所述晶片位于所述第一电极上;第二电极,位于所述晶片上方,连接第二电源,与所述第一电极之间产生离子束;磁场产生体,位于所述第一电极或所述承载台之上,用于在所述晶片周边产生磁场,通过调节所述磁场产生体产生的磁场大小来改变所述离子束照射在所述晶片上的角度。从而在对具有通道孔的晶片进行离子注入时,可以使离子束直接沿倾斜角度注入底部而不损伤侧壁。
  • 离子注入装置方法
  • [发明专利]一种检测方法和装置-CN202110825374.7在审
  • 张和;艾义明;於成星;颜元;顾鹏 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-07-21 - 2021-11-12 - H01L21/66
  • 本申请公开了一种检测方法和装置,其中,所述方法包括:将测试晶圆放置到离子注入机台中,对所述测试晶圆进行离子注入;在所述离子注入后,获取所述测试晶圆的彩色图像;根据所述测试晶圆的彩色图像,判断所述测试晶圆的离子注入情况。本申请提供的一种检测方法通过获取测试晶圆的彩色图像,并基于彩色图像反映出的颜色特征,能够准确地判断出测试晶圆的离子注入情况是否正常,操作简单,提高了检测效率,并且可以做到及时预警,避免由于检测不及时,造成测试晶圆的永久损坏,提高了产品良率。
  • 一种检测方法装置
  • [发明专利]一种3D NAND存储器件的制造方法-CN202110251919.8在审
  • 沈保家;吴保润;刘小辉;於成星 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-03-08 - 2021-06-22 - H01L27/11524
  • 本申请提供一种3D NAND存储器件的制造方法,在对沟道孔侧壁的氮化硅层进行氧化时,首先在第一温度下进行氧化,得到沟道孔的顶部和底部氧化较为均匀的第一氧化膜,之后再在第二温度下继续进行氧化,由于第一氧化膜对含氧化合物的消耗较少,使得含氧化合物能够较均匀的分布在沟道孔内部,因此氮化硅层在高温下也能继续进行均匀的氧化,得到沟道孔的顶部和底部氧化较为均匀的第二氧化膜。由此可见,本申请实施例的方法能够解决在3D NAND存储器件制造过程中沟道孔的顶部反应过快而底部反应较慢,导致顶部的氧化硅较厚而底部氧化硅较薄的问题,制造得到可靠性高的器件。
  • 一种nand存储器件制造方法
  • [发明专利]存储器制作方法及存储器-CN202010514483.2有效
  • 李军辉;沈保家;於成星;周静兰 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2020-06-08 - 2021-06-04 - H01L27/1157
  • 本公开实施例公开了一种存储器制作方法及存储器,所述方法包括:在衬底表面形成第一堆叠结构;其中,所述第一堆叠结构包括依次交替层叠设置的第一绝缘层和第一牺牲层;形成贯穿所述第一堆叠结构的至少一个第一通孔;在所述第一通孔侧壁形成第一电荷阻挡结构;在形成所述第一电荷阻挡结构后,在所述第一堆叠结构表面形成第二堆叠结构;其中,所述第二堆叠结构包括依次交替层叠设置的第二绝缘层和第二牺牲层;形成贯穿所述第二堆叠结构的至少一个第二通孔;其中,所述第二通孔与所述第一通孔连通;形成覆盖所述第一通孔侧壁和所述第二通孔侧壁的第二电荷阻挡结构;其中,所述第二电荷阻挡结构覆盖所述第一电荷阻挡结构。
  • 存储器制作方法

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