专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种原子芯片用双重保护电路-CN202010396020.0有效
  • 周蜀渝;巩冬梅;王颖 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2020-05-12 - 2022-06-28 - H02H7/20
  • 一种原子芯片用双重保护电路,包括:第一级保护电路、第二级保护电路、数字型光电耦合器、稳压二极管、芯片导线接线柱和警报器。所述第一级保护电路的输入端连接数字型光电耦合器的输出端,所述第一级保护电路的输出端连接芯片导线接线柱;所述第二级保护电路的输入端连接数字型光电耦合器的输出端,所述第二级保护电路的输出端连接芯片导线接线柱以及警报器。本发明结构简单,可靠性高,在芯片导线的供电电源或者控制程序发生故障时可以限制导通时间,从而实现对芯片上微导线的保护。
  • 一种原子芯片双重保护电路
  • [发明专利]信号发生装置、芯片的可靠性测试系统-CN202111617260.X在审
  • 吕进阁;曹磊;巩冬梅;贺延聪 - 展讯通信(上海)有限公司
  • 2021-12-27 - 2022-04-12 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种信号发生装置、芯片的可靠性测试系统,该信号发生装置包括控制器、第一电路选择器和第一连接器,控制器用于基于触发信号生成第一控制指令,根据第一控制指令控制第一电路选择器的工作状态以输出对应的控制信号至第一连接器,第一连接器用于输出控制信号,以对可靠性测试板上不同的负载进行切换控制。本发明提出一种芯片可靠性测试中外挂可控负载的可编程的信号发生装置S,克服了传统的芯片可靠性测试中固定负载单一及数据信号可选电压较少,不能满足需要切换不同工作负载或需要两种以上老化信号电压的HTOL以及Bhast测试的缺陷,大大地提高了芯片可靠性实验效率及测试覆盖率,保证了芯片可靠性测试的测试精度。
  • 信号发生装置芯片可靠性测试系统
  • [发明专利]兼容性测试装置、兼容性测试方法及系统-CN202110707675.X在审
  • 刘媛媛;巩冬梅;曹磊;刘勇杰 - 展讯通信(上海)有限公司
  • 2021-06-24 - 2021-09-21 - G06F11/22
  • 本发明提供一种兼容性测试装置、兼容性测试方法及系统,其中,兼容性测试装置包括:测试板、控制接口、第一连接口和至少两个第二连接口;所述控制接口、所述第一连接口和所述至少两个第二连接口分别与所述测试板电连接;所述控制接口用于接收控制信息;所述第一连接口用于连接主测试设备;所述至少两个第二连接口用于连接至少两个从测试设备;所述测试板用于根据所述控制信息控制所述第一连接口与目标接口连通,以测试主测试设备与从测试设备的兼容性,所述目标接口为所述至少两个第二连接口中的一个连接口。本发明能够提高兼容性测试的效率。
  • 兼容性测试装置方法系统
  • [发明专利]基于空间调制光束补偿非均匀外势的装置-CN201910230702.1有效
  • 巩冬梅;周蜀渝 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2019-03-26 - 2021-07-27 - G01N21/17
  • 本发明提供了一种基于空间调制光束补偿非均匀外势的装置,涉及采用光学偶极势场抵消非均匀外势场,用于pK量级温度的冷原子样品的制备。该装置包括两台激光器输出的两束激光,分别经光纤耦合器进入保偏光纤,再经保偏光纤匹配管输出后被光束取样板分成透射光和反射光,反射光经光电探测器转换成电信号进入光功率反馈控制模块,再反馈给激光器;沿透射光输出方向上依次是耦合透镜、液晶空间光调制器、傅里叶变换透镜、非均匀外势场、成像透镜、CCD相机,两束激光在非均匀外势场中心位置处正交。同时提供一种用两个二维光场合成一个所需的三维光场的方法,该方法解决了直接用三维计算全息获得所需光场分布的弊端,且简单易行。
  • 基于空间调制光束补偿均匀装置

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