专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]激光加工装置及激光加工方法-CN201980071657.8有效
  • 坂本刚志;是松克洋 - 浜松光子学株式会社
  • 2019-10-30 - 2023-10-13 - B23K26/53
  • 激光加工装置具备支撑部、照射部及控制部。照射部具有以与激光的光轴垂直的面内的聚光区域的一部分的形状具有长边方向的方式成形激光的成形部。控制部具有:决定部,其决定沿着线使聚光区域的一部分相对地移动的情况下的长边方向的朝向,以使长边方向与聚光区域的一部分的移动方向交叉;及调整部,其在沿着线使聚光区域的一部分相对地移动的期间,调整长边方向的朝向以成为通过决定部决定的朝向。
  • 激光加工装置方法
  • [发明专利]加工对象物切断方法和半导体芯片-CN201880025364.1有效
  • 坂本刚志 - 浜松光子学株式会社
  • 2018-04-12 - 2023-09-19 - H01L21/301
  • 加工对象物切断方法包括:第一步骤,准备具有单晶硅基板和设置于第一主面侧的功能元件层的加工对象物;第二步骤,通过对加工对象物照射激光,分别沿多条切断预定线在单晶硅基板的内部形成至少1列改质区域,并分别沿多条切断预定线在加工对象物以跨至少1列改质区域与加工对象物的第二主面之间的方式形成龟裂;以及第三步骤,通过对加工对象物从第二主面侧实施干式蚀刻,分别沿多条切断预定线在加工对象物形成开口于第二主面的沟槽。在第三步骤中,从第二主面侧实施干式蚀刻而去除至少1列改质区域,由此在沟槽的内表面形成呈现对应于被去除的改质区域的凹凸形状且使单晶硅露出的凹凸区域。
  • 加工对象切断方法半导体芯片
  • [发明专利]激光加工装置-CN201980071415.9有效
  • 坂本刚志;奥间惇治 - 浜松光子学株式会社
  • 2019-10-30 - 2023-08-29 - B23K26/08
  • 激光加工装置包括:支承部,其能够沿着第1方向移动,用于沿着所述第1方向和与所述第1方向交叉的第2方向支承对象物;第1激光加工头和第2激光加工头,其沿着所述第2方向以彼此相对的方式配置,用于对支承于所述支承部的所述对象物照射激光;第1安装部,其用于安装所述第1激光加工头,能够沿着与所述第1方向和所述第2方向交叉的第3方向和所述第2方向分别进行移动;第2安装部,其用于安装所述第2激光加工头,能够沿着所述第2方向和所述第3方向分别进行移动;和摄像单元,其安装于所述第1安装部,利用透过所述对象物的光对所述对象物进行摄像。
  • 激光加工装置
  • [发明专利]摄像装置、激光加工装置和摄像方法-CN201980065098.X有效
  • 坂本刚志;铃木康孝;佐野育 - 浜松光子学株式会社
  • 2019-10-02 - 2023-08-08 - B23K26/00
  • 本发明的摄像装置,用于拍摄因照射激光而形成于对象物(11)的改性区域和/或从上述改性区域(12)延伸的裂纹(14),其包括:利用透射上述对象物的光拍摄上述对象物的第1摄像单元;和控制上述第1摄像单元(4)的第1控制部,从与上述激光的入射面交叉的方向看时,上述对象物包含由第1线(15a)和与上述第1线交叉的第2线(15b)界定出的多个功能元件(22a),上述第1控制部,在沿着上述第1线和上述第2线形成上述改性区域之后,执行第1摄像处理,该第1摄像处理为控制上述第1摄像单元以拍摄从上述方向看时上述功能元件的与上述第1线对应的边的区域,该区域包含上述改性区域和/或从该改性区域延伸的上述裂纹。
  • 摄像装置激光加工方法
  • [发明专利]芯片的制造方法及硅芯片-CN201880025659.9有效
  • 田口智也;坂本刚志 - 浜松光子学株式会社
  • 2018-02-09 - 2023-08-08 - H01L21/304
  • 一种芯片的制造方法,包括:第1工序,对包含多个功能元件的基板设定第1切断预定线及第2切断预定线;第2工序,以覆盖上述功能元件且使包含上述第1切断预定线和上述第2切断预定线的交叉点的交叉区域露出的方式在上述基板形成掩模;第3工序,通过使用上述掩模将上述基板蚀刻,从上述基板将上述交叉区域除去而形成贯通孔;第4工序,沿着上述第1切断预定线在上述基板形成改质区域;第5工序,沿着上述第2切断预定线在上述基板形成改质区域;第6工序,沿着上述第1切断预定线及上述第2切断预定线将上述基板切断而形成芯片。
  • 芯片制造方法
  • [发明专利]观察装置-CN202211571941.1在审
  • 佐野育;坂本刚志;荒谷知巳 - 浜松光子学株式会社
  • 2022-12-08 - 2023-06-13 - B23K26/03
  • 观察装置具备将透过光朝向对象物聚光的聚光透镜、接收由对象物反射的透过光并对对象物进行摄像的摄像部、使聚光透镜相对于对象物相对移动的移动部、接收来自用户的输入的输入部、进行透过光的像差修正的像差修正部、以及至少控制像差修正部的控制部。像差修正部构成为能够切换像差修正的修正量。控制部根据由输入部接收的输入切换由摄像部对对象物中的透过光入射面侧的第一区间进行摄像时的像差修正部所进行的像差修正即第一区间用像差修正、由摄像部对对象物中的内部的第二区间进行摄像时的像差修正部所进行的像差修正即第二区间用像差修正、以及由摄像部对对象物中的透过光入射面的相反面侧的第三区间进行摄像时的像差修正部所进行的像差修正即第三区间用像差修正中的至少任一个的修正量。
  • 观察装置
  • [发明专利]激光加工装置-CN202211554517.6在审
  • 佐野育;坂本刚志;吉田敬正;星川雅春 - 浜松光子学株式会社
  • 2022-12-06 - 2023-06-13 - B23K26/00
  • 一种用于通过对对象物照射激光而在所述对象物形成改质区域的激光加工装置,具备:支撑部,其支撑所述对象物;激光光源,其输出所述激光;第一聚光透镜,其将所述激光聚光于被所述支撑部支撑的所述对象物;第一标线,其具有投影于所述对象物的第一图案;照明光源,其对所述第一标线照射照明光;第一投影光学系统,其利用通过了所述第一标线的所述照明光使所述第一标线的投影像成像于所述对象物,将所述第一图案投影于所述对象物;第一相机,其拍摄投影于所述对象物的所述第一图案的像而获取第一图案图像;以及显示部,其显示所述第一图案图像,所述第一图案具有相对于所述照明光的光轴的周围的所述第一标线的旋转角度不具有依赖性的形状。
  • 激光加工装置

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