专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]激光加工装置和激光加工方法-CN202310309169.4在审
  • 是松克洋;荻原孝文 - 浜松光子学株式会社
  • 2023-03-27 - 2023-09-29 - B23K26/53
  • 本发明提供激光加工装置和激光加工方法。激光加工装置通过对在激光入射面上设置有具有光透过性的透过部件的对象物照射激光,从而在对象物的内部形成改质区域。激光加工装置包括支撑部、照射部、三角测距传感器、移动机构、存储部、决定部和对位部。决定部将存储部中存储的多个受光位置信息中的任1个决定为基准受光位置信息。对位部以三角测距传感器的受光元件阵列的受光位置成为与基准受光位置信息对应的受光位置的方式,使移动机构动作而使照射部和支撑部的至少一者移动,使聚光透镜相对于激光入射面的光轴方向上的位置对准规定高度位置。
  • 激光加工装置方法
  • [发明专利]激光加工装置和激光加工方法-CN202310179428.6在审
  • 荻原孝文;是松克洋 - 浜松光子学株式会社
  • 2023-02-27 - 2023-08-29 - B23K26/00
  • 本发明涉及激光加工装置和激光加工方法。转像部将空间光调制器中的激光的像转像到聚光部的入射瞳面。光检测器检测由对象物反射的激光的反射光。控制部取得基于反射光的检测结果的第1基准位置、和基于对象物的加工结果的第2基准位置作为空间光调制器中的相位图案的显示位置的基准即基准位置,在对象物的加工时,以第2基准位置为基准使相位图案显示于空间光调制器,在基准位置的确认时,取得基于反射光的检测结果的第3基准位置。
  • 激光加工装置方法
  • [发明专利]激光加工装置和激光加工方法-CN202180049245.1在审
  • 坂本刚志;是松克洋;荻原孝文 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-07-13 - 2023-03-17 - B23K26/53
  • 激光加工装置包括照射部和控制部。照射部具有空间光调制器和使由空间光调制器调制后的激光聚光于对象物的聚光部。控制部执行第1控制,该第1控制利用空间光调制器调制激光,以使激光分束成多束加工光,并且多束加工光的多个聚光点在与激光的照射方向垂直的方向上位于彼此不同的位置。在第1控制中,调制激光,以使得在照射方向上在激光的非调制光的聚光点与对象物的跟激光入射面相反的一侧的相反面之间,存在从构成改性区域的多个改性点延伸且沿着假想面伸展而相连的裂纹。
  • 激光加工装置方法
  • [发明专利]激光加工装置和激光加工方法-CN202180049260.6在审
  • 坂本刚志;是松克洋;荻原孝文 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-07-13 - 2023-03-17 - B23K26/067
  • 激光加工装置包括照射部和控制部。照射部具有空间光调制器和使由空间光调制器调制后的激光聚光于对象物的聚光部。控制部执行第1控制,该第1控制利用空间光调制器调制激光,以使激光分束成多束加工光,并且多束加工光的多个聚光点在与激光的照射方向垂直的方向上位于彼此不同的位置。在第1控制中,调制激光,以使得在照射方向上在激光的非调制光的聚光点与对象物的同激光入射面相反的一侧的相反面之间,存在改性区域。
  • 激光加工装置方法
  • [发明专利]激光加工装置和激光加工方法-CN202180049263.X在审
  • 坂本刚志;是松克洋;荻原孝文 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-07-13 - 2023-03-14 - B23K26/046
  • 激光加工装置包括照射部和控制部。照射部具有:空间光调制器和将由空间光调制器调制了的激光聚光于对象物的聚光部。控制部执行第1控制,该第1控制通过空间光调制器来调制激光,以使激光分束成多束加工光、并且多束加工光的多个聚光点在与激光的照射方向垂直的方向上位于彼此不同的位置。在第1控制中,对激光进行调制,以使得在照射方向上多束加工光各自的聚光点相对于该加工光的理想聚光点位于激光的非调制光的聚光点的相反侧,或者多束加工光各自的聚光点相对于非调制光的聚光点位于该加工光的理想聚光点的相反侧。
  • 激光加工装置方法
  • [发明专利]检查装置以及检查方法-CN202180026221.4在审
  • 坂本刚志;荻原孝文;佐野育 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-03-31 - 2022-12-02 - H01L21/301
  • 本发明的检查装置,具备:激光照射单元、摄像单元、控制部;控制部,构成为执行:加工处理,以设定为通过对晶圆照射激光而在晶圆的内部形成多个改质区域,并且成为使从改质区域延伸的龟裂到达背面及表面的全切割状态的配方控制激光照射单元;确定处理,基于从摄像单元输出的信号,确定背面的从改质区域延伸的龟裂的状态,以及晶圆的内部的改质区域及龟裂中的至少一者的状态;以及判断处理,基于在确定处理中确定的信息,判断相应于配方对晶圆施加的分割力是否适当。
  • 检查装置以及方法
  • [发明专利]激光加工装置及检查方法-CN202180025528.2在审
  • 近藤裕太;荻原孝文 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-03-04 - 2022-11-15 - B23K26/073
  • 激光加工装置具备:载置台,其支撑具有表面和该表面的相反侧的背面的晶圆,在表面形成有多个功能元件且切割道区域以通过相邻的功能元件之间的方式延伸;光源,其通过从表面侧对晶圆照射激光,从而在晶圆的内部形成一个或多个改质区域;空间光调制器,其作为调整激光的射束宽度的射束宽度调整部;以及控制部,其以将激光的射束宽度调整成与表面信息相应的目标射束宽度以下的方式控制空间光调制器,其中该表面信息包含切割道区域的宽度、以及构成与该切割道区域相邻的功能元件的结构体的位置及高度。
  • 激光加工装置检查方法
  • [发明专利]检查装置及处理系统-CN202180019117.2在审
  • 坂本刚志;荻原孝文;佐野育 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-03-03 - 2022-10-25 - H01L21/301
  • 检查装置具备:激光照射单元,其朝晶圆照射激光;显示器,其显示信息;及控制部,控制部执行:导出估计加工结果,该估计加工结果是包含依据所设定的配方(加工条件)通过激光照射单元对晶圆照射激光的情况时形成于晶圆的改质区域及从改质区域延伸的龟裂的信息;及控制显示器,考虑作为估计加工结果被导出的改质区域及龟裂的晶圆上的位置,显示将晶圆的影像图与该晶圆的改质区域及龟裂的影像图一同描绘的估计加工结果影像。
  • 检查装置处理系统
  • [发明专利]检查装置及检查方法-CN202180019931.4在审
  • 坂本刚志;荻原孝文;佐野育 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-03-03 - 2022-10-25 - H01L21/301
  • 检查装置具备激光照射单元、对晶圆进行摄像的摄像单元、接收输入的显示器、及控制部,显示器接收:包含晶圆的信息及对该晶圆的激光加工目标的晶圆加工信息的输入,控制部执行:基于通过显示器接收到的晶圆加工信息,决定包含通过激光照射单元的激光的照射条件的配方(加工条件);以决定的配方对晶圆照射有激光的方式,控制激光照射单元;通过以对晶圆进行摄像的方式控制摄像单元,取得通过激光的照射的晶圆的激光加工结果;及基于激光加工结果,评价配方的方式构成。
  • 检查装置方法

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