专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种改善晶圆表面质量的显影装置-CN202220791582.X有效
  • 李志坚;顾军魏;马成鸿;陈兆萍;陈亮;任艳炯 - 江苏新顺微电子股份有限公司
  • 2022-04-07 - 2022-11-04 - G03F7/30
  • 本实用新型涉及一种改善晶圆表面质量的显影装置,属于集成电路或分立器件芯片制造技术领域。包括喷头,所述喷头固定于支架上,所述支架上设有气管和液管,所述液管出口、气管出口和喷头进口通过三通接头连通,所述液管上设有液阀,所述气管上设有控制阀,打开所述液阀,关闭所述控制阀,所述液管导通、气管断开,使得显影液经液管流至喷头进行喷液;关闭所述液阀,打开所述控制阀,所述液管断开,气管导通,使得气体流入液管、喷头,对气管、喷头内的残液进行吹扫。所述气管上设有单向阀。本申请结构简单,操作便捷,既能杜绝液管内存在气泡,又能防止喷头处残液滴落在晶圆表面,提高了晶圆表面质量。
  • 一种改善表面质量显影装置
  • [实用新型]一种适用于抛光垫坑深的测量装置-CN202220514791.X有效
  • 任晓塍;王旭;徐占勤;孙岩;任艳炯;陶勇 - 江苏新顺微电子股份有限公司
  • 2022-03-09 - 2022-09-20 - G01B5/18
  • 本实用新型涉及一种适用于抛光垫坑深的测量装置,属于集成电路或分立器件制造技术领域。包括测量平台,所述测量平台下方设有抛光垫,所述抛光垫放于放置台上,所述测量平台上设置竖向布置的测量仪,所述测量平台上开设多个平衡调节孔,所述平衡调节孔内分别穿设平衡螺丝,调节所述平衡螺丝的旋入长度,使得所述测量平台呈水平状态;所述抛光垫上设有多个硅片坑,所述硅片坑内设有硅片;所述平衡螺丝分别支撑于对应的硅片上,测量仪的探头对硅片坑的深度进行测量。本申请结构简单,操作便捷,测量装置能够重复使用,提高了测量装置的重复使用性;提高了抛光垫坑深测量精度,有利于监控采购的抛光垫质量,控制材料片加工质量的稳定性。
  • 一种适用于抛光垫坑深测量装置

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