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[发明专利]一种柔性显示喷印薄膜边缘直线度控制方法和系统-CN202210523351.5有效
发明人：陈建魁;喻梦雯;肖小亮;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-05-13 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： B41J2/07 文献下载
摘要：本发明属于柔性显示技术领域，具体涉及一种柔性显示喷印薄膜边缘直线度控制方法和系统，包括：在打印用各输入参数的有效范围内，调整输入参数并控制液膜试打印，使得液膜厚度达到液膜要求；采集液膜边缘轮廓图片，用以计算当前输入参数下液膜边缘直线度参数，若直线度参数未到达直线度约束，修正输入参数继续控制试打印，直至达到直线度约束，得到最优输入参数；采用最优输入参数控制正式打印，完成喷印薄膜边缘直线度控制；其中，直线度参数包括：幅度参数，最大宽度参数，间距特征参数，以及轮廓长度率。本发明在喷墨试打印阶段获得使得液膜边缘直线度均满足要求的最优输入参数，并应用于正式打印中，从而获取高质量的液膜。
一种柔性显示薄膜边缘直线控制方法系统

[发明专利]一种适用于喷墨打印的微墨滴沉积过程观测方法及装置-CN202111121064.3在审
发明人：陈建魁;尹周平;张森;李永良;刘强强;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2021-09-24 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于喷墨打印的微墨滴沉积过程观测方法，具体为：将微墨滴的沉积过程按时间顺序分为多个状态，针对每个状态设定对应的相机曝光时间及延时；向基板喷印微墨滴，启用双目相机采集预定状态下的微墨滴沉积图像，启用下视相机采集微墨滴沉积铺展后图像，得到喷印过程完整图像序列；对完整图像序列提取运动目标，进而进行三维重建，由此完成微墨滴沉积过程观测。本发明还提供了实现上述方法的装置。通过本发明，可以实现普通工业相机高帧率采图，完成多角度的微墨滴高动态实时观测与捕捉、微墨滴撞击像素坑的均匀成膜过程捕获，实现了低成本、高精度的微墨滴高动态变化的沉积过程观测。
一种适用于喷墨打印微墨滴沉积过程观测方法装置

[发明专利]一种基于双向扩晶法的微器件巨量转移装置及方法-CN201810991566.3有效
发明人：尹周平;陈建魁;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2018-08-29 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： H01L21/677 文献下载
摘要：本发明属于半导体技术领域，并具体公开了一种基于双向扩晶法的微器件巨量转移装置及方法，包括微器件剥离转移模块、X向扩晶模块、过渡承接模块、Y向扩晶模块、目标基板承载模块、微器件补缺模块、固化模块、封装模块和目标基板搬运模块，微器件剥离转移模块用于剥离微器件；X向扩晶模块用于将微器件沿晶元盘的X向扩晶；过渡承接模块用于将晶元盘旋转90度；Y向扩晶模块用于将微器件沿晶元盘的Y向扩晶；目标基板承载模块用于接收微器件并将目标基板送入微器件补缺模块、固化模块、封装模块、基板搬运模块中，实现补缺、固化、封装及上下料。通过本发明，利用卷绕工艺实现微器件的巨量转移，具有生产效率高、生产成本低等优点。
一种基于双向扩晶法器件巨量转移装置方法

[发明专利]一种基于转印轴差速匹配的微器件巨量转移装置及方法-CN201810991530.5有效
发明人：陈建魁;尹周平;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2018-08-29 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： H01L21/677 文献下载
摘要：本发明属于半导体技术领域，并具体公开了一种基于转印轴差速匹配的微器件巨量转移装置及方法，包括微器件剥离转移模块、初级转印轴模块、次级转印轴模块、基板承载模块、微器件补缺模块、固化模块、封装模块与基板搬运模块，微器件剥离转移模块用于将微器件剥离并转移至初级转印轴模块；初级转印轴模块用于拾取微器件并对微器件间距进行调整；次级转印轴模块用于拾取初级转印轴模块上的微器件并对微器件间距进行调整；基板承载模块用于拾取次级转印轴模块上的微器件并将其送入微器件补缺模块、固化模块、封装模块、基板搬运模块中实现补缺、固化、封装及上下料。通过本发明，利用转印轴差速匹配实现微器件的巨量转移，生产效率高，生产成本低。
一种基于转印轴差速匹配器件巨量转移装置方法

[发明专利]一种基于逐级均匀扩展的微器件巨量转移装置及方法-CN201810991541.3有效
发明人：陈建魁;尹周平;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2018-08-29 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： H01L21/677 文献下载
摘要：本发明属于半导体技术领域，并具体公开了一种基于逐级均匀扩展的微器件巨量转移装置及方法，包括微器件剥离转移模块、初级搬运模块、初级扩晶转印模块、次级搬运模块、次级扩晶转印模块、基板承载模块、微器件补缺模块、固化模块、封装模块和基板搬运模块，上述各模块分别用于将微器件转移至初级承载基板、将初级承载基板搬运至初级扩晶转印模块、实现微器件的初次扩晶转印、将次级承载基板搬运至次级扩晶转印模块、实现第二次扩晶转印、将微器件送入补缺模块、固化模块、封装模块、基板搬运模块中实现补缺、固化、封装及上下料。通过本发明，利用多级扩晶转移工艺实现了微器件的巨量转移，有效的提高了生产效率，降低了生产成本。
一种基于逐级均匀扩展器件巨量转移装置方法

[发明专利]一种用于电流体动力喷印的轨迹诱导沉积控制系统及方法-CN201910917396.9有效
发明人：陈建魁;黄萌萌;尹周平;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： B41J2/045 文献下载
摘要：本发明属于电流体动力喷印相关技术领域，并公开了一种用于电流体动力喷印的轨迹诱导沉积控制系统，其包括电流体动力喷印模块、视觉监测模块、系统控制模块、轨迹诱导沉积模块等多个功能模块；其中视觉监测模块用于获取墨滴的飞行轨迹、判断飞行速度与方向、观测落点、观测沉积形貌；系统控制模块用于实时控制诱导辅助电极背板的电极信号变化，以实现墨滴轨迹诱导及形态控制；轨迹诱导沉积模块则用于根据沉积图案设计辅助电极阵列分布，电场变化时调整墨滴轨迹朝目标落点飞行，同时在靠近落点时使墨滴能减速并平稳沉积。通过本发明，可进行精确的墨滴轨迹诱导并平稳沉积，能防止墨滴偏移、摊开、飞溅等，实现高精度、高质量电流体动力喷印。
一种用于流体动力轨迹诱导沉积控制系统方法

[发明专利]一种基于卷绕工艺的微器件激光剥离巨量转移装置及方法-CN201810991542.8有效
发明人：陈建魁;尹周平;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2018-08-29 - 公布日： 2020-01-03 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明属于半导体技术领域，并具体公开了一种基于卷绕工艺的微器件激光剥离巨量转移装置及方法，其包括微器件剥离转移模块、辅助载带模块、过渡载带模块、转印载带模块、基板承载模块、微器件补缺模块、固化模块、封装模块及基板搬运模块，微器件剥离转移模块用于实现微器件的检测及剥离；辅助载带模块用于粘附剥微器件；过渡载带模块用于拾取微器件，并将其转移至转印载带模块；转印载带模块用于拾取微器件，并将其转移至基板承载模块；基板承载模块用于将微器件送入补缺模块、固化模块、封装模块、基板搬运模块中实现补缺、固化、封装及上下料。通过本发明，利用卷绕工艺和激光技术实现微器件的巨量转移，具有生产效率高、生产成本低等优点。
微器件载带基板承载转印剥离封装模块固化模块基板搬运转移模块卷绕拾取半导体技术领域激光剥离激光技术生产效率转移装置上下料粘附生产成本封装固化送入检测

[发明专利]一种局部接触式薄膜张力测量装置及方法-CN201711317549.3有效
发明人：陈建魁;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2017-12-12 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G01L5/04 文献下载
摘要：本发明属于柔性薄膜加工制造相关设备领域，并公开了一种局部接触式薄膜张力测量装置，其包括位置调节模块、力检测模块、滚轮模块、下压深度检测模块和人机交互模块，其中位置调节模块用于实现调节滚轮的下压位置与下压深度；力检测模块用于测量滚轮下压后所受到的反作用力；下压深度检测模块用于精确检测滚轮的下压深度；滚轮模块用于实现将薄膜的反作用力传递给力检测模块，并同时实现薄膜进给速度的测量；人机交互模块用于参数输入与信号的处理运算等。本发明还公开了相应的测量方法。通过本发明，可以在不改变卷到卷设备整体布局的情况下，将该张力检测装置灵活布置于卷到卷设备的各个区域，并具备高精度、高效率和操控方便等特点。
一种局部接触薄膜张力测量装置方法

[发明专利]一种薄膜张力测量装置及方法-CN201710504632.5有效
发明人：陈建魁;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2017-06-28 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：本发明属于张力检测技术领域，并公开了一种薄膜张力测量装置，包括位置调节模块、力放大模块、滚轮自重平衡模块、转速测量模块、人机交互模块与信号测量处理模块，其中位置调节模块实现滚轮下压位置与下压量调节，力放大模块用于放大滚轮受到的推力并传递给推力传感器，滚轮自重平衡模块用于平衡整个转速测量模块的自重，转速检测模块用于实现薄膜进给速度的检测，人机交互模块用于实现设定参数的输入，信号测量处理模块则用于将检测到的滚轮上的推力换算为薄膜张力。本发明还公开了相应的测量方法。通过本发明，可实现整体装置的模块化和紧凑化，灵活布置于卷到卷柔性膜输送设备的各个区域，并能够在张力测量的过程中实现薄膜进给速度的测量。
一种薄膜张力测量装置方法

[发明专利]一种面向变截面柔性电子的恒应力收卷控制系统及其方法-CN201710430502.1有效
发明人：陈建魁;金一威;刘强强 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2017-06-09 - 公布日： 2018-10-16 - 主分类号： B65H23/188 文献下载
摘要：本发明属于柔性电子收卷控制相关技术领域，并公开了一种面向变截面柔性电子的恒应力收卷控制系统，其包括张力传感器、张力控制器、卷径传感器、内应力测量装置、内应力控制器和执行件等；其中卷径传感器用于实现料卷外径的测量；张力传感器用于检测薄膜张力并反馈给张力控制器实现张力的闭环控制；内应力测量装置包括一组压力传感器、导电滑环以及若干固定零件，并用于实现料卷内部应力分布状态的测量并将其馈给张力控制器，实现料卷内部应力的闭环控制。本发明还公开了相应的收卷控制工艺。通过本发明，能够以更为高效和高精度的方式实现料卷内部应力分布状态的检测，并实现料卷内部应力均匀分布，提高料卷的质量。
一种面向截面柔性电子应力控制系统及其方法

[发明专利]一种多层结构柔性电子连续复合系统-CN201611219615.9有效
发明人：陈建魁;丁汉;金一威;尹周平 -专利权人：华中科技大学;广东思谷智能技术有限公司
申请日： 2016-12-26 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： B32B37/00 文献下载
摘要：本发明属于多层结构柔性电子复合加工相关领域，并公开了一种多层结构柔性电子连续复合系统，其包括4个收放卷模块、一次层合模切模块、转步距模块、二次层合模切模块、剔废模块以及标签收卷模块等多个功能模块，并对这些模块的内部组成及其相互连接方式进行了设计。本发明还对该系统的层合模切控制、张力控制等工艺原理给出了优化研究结果。通过本发明，不仅可根据需求工况实现多种工况模式之间的自由调换，同时能有效满足单条复合、良率检测、剔废、纠偏、高精度模切和连续进给、确保良好张力控制等功能。
一种多层结构柔性电子连续复合系统

[实用新型]一种具备速度检测功能的张力测量装置-CN201720760861.9有效
发明人：陈建魁;金一威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2017-06-28 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： G01L5/04 文献下载
摘要：本实用新型属于张力检测技术相关领域，并公开了一种具备速度检测功能的张力测量装置，包括位置调节模块、力放大模块、转速测量模块和人机交互模块，其中位置调节模块实现滚轮下压位置与下压量的调节，力放大模块用于放大滚轮受到的推力并将放大后的力传递给推力传感器，转速检测模块用于实现薄膜进给速度的检测，人机交互模块用于实现设定参数的输入。通过本实用新型，可实现整体装置的模块化和紧凑化，灵活布置于卷到卷柔性膜输送设备的各个区域，并能够在张力测量的过程中实现薄膜进给速度的高效测量。
一种具备速度检测功能张力测量装置

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