专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体组件及其制造方法-CN202010499377.1有效
  • 李浩;郑浩宁;张安邦 - 英诺赛科(珠海)科技有限公司
  • 2020-06-04 - 2023-04-18 - H01L29/40
  • 本发明公开一种半导体组件及一种形成半导体组件的方法。所述半导体组件包含衬底、III‑V族层、经掺杂III‑V族层、栅极接触、第一场板及第二场板。所述III‑V族层设置于所述衬底上。所述经掺杂III‑V族层设置于所述III‑V族层上。所述栅极接触直接位于所述经掺杂III‑V族层上,所述栅极接触具有第一侧及第二侧皆远离所述经掺杂III‑V族层。所述第一场板具有第一侧及第二侧,所述第一场板的所述第一侧较所述第二侧更接近所述栅极接触的所述第二侧。所述第二场板具有第一侧及第二侧,所述第二场板的所述第一侧较所述第二侧更接近所述栅极接触的所述第二侧。所述第一场板比所述第二场板及所述栅极接触的所述第一侧及所述第二侧更靠近所述经掺杂III‑V族层。
  • 半导体组件及其制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN202210664378.6在审
  • 李浩;张安邦;郑浩宁 - 英诺赛科(苏州)半导体有限公司
  • 2021-01-12 - 2022-09-13 - H01L29/417
  • 本公开提供一种半导体器件及其制造方法。半导体器件包含半导体堆叠、第一栅极、第二栅极以及第一欧姆接触件。半导体堆叠形成于衬底上。半导体堆叠具有第一氮化物半导体层和第二氮化物半导体层。第二氮化物半导体层形成于第一氮化物半导体层上且具有比第一氮化物半导体层的带隙更宽的带隙。第一栅极与第二栅极安置于半导体堆叠上方。第一欧姆接触件安置于半导体堆叠上方。第一欧姆接触件具有彼此分离的第一、第二以及第三部分。第一、第二以及第三部分位于第一栅极与第二栅极之间。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [实用新型]一种三角梅的造型装置-CN202122007159.4有效
  • 吴小业;谭秀敏;牛彦嫔;殷权斌;郑浩宁 - 广东百林生态科技股份有限公司
  • 2021-08-24 - 2021-12-28 - A01G17/10
  • 本实用新型涉及三角梅的造型装置技术领域,公开了一种三角梅的造型装置,包括支撑板,以及设置在支撑板上的造型组件;造型组件包括花盆、螺纹杆、升降块、第一螺帽、第二螺帽和圆环,花盆安装在支撑板顶部的中心位置,螺纹杆安装在支撑板上,螺纹杆侧壁上套设升降块、第一螺帽和第二螺帽,升降块的下方设置第一螺帽,升降块的上方设置第二螺帽,升降块临近花盆的一侧安装圆环,圆环上开设有贯穿孔。通过造型组件的设置,便于对三角梅进行造型且不会损伤树干。
  • 一种三角梅造型装置
  • [发明专利]在图案化衬底上的III族氮化物半导体器件-CN202180002254.5在审
  • 陈亮;李浩;郑浩宁;黄敬源 - 英诺赛科(苏州)科技有限公司
  • 2021-03-30 - 2021-10-15 - H01L29/06
  • 在此提供一种III族氮基半导体器件。III族氮基半导体器件包括硅衬底。硅衬底具有形成在其中的周期性凹槽阵列的表面。在周期性凹槽阵列的每个凹槽内形成不连续绝缘层,使得相邻的凹槽之间的硅衬底表面的一部分未被不连续绝缘层覆盖。在具有周期性凹槽阵列和不连续绝缘层的硅衬底其上形成第一外延III族氮基半导体层。第二III族氮基半导体层设置在第一III族氮基半导体层上并且其具有的带隙大于第一III族氮基半导体层的带隙。至少一个源极和至少一个漏极设置在第二III族氮基半导体层上。栅极还设置在源极和漏极之间的第二III族氮基半导体层上。
  • 图案衬底iii氮化物半导体器件
  • [实用新型]氮化镓半导体器件-CN202022638462.X有效
  • 张安邦;李浩;郑浩宁;陈亮 - 英诺赛科(珠海)科技有限公司
  • 2020-11-13 - 2021-07-16 - H01L29/778
  • 本实用新型提供一种氮化镓半导体器件,氮化镓半导体器件包括氮化镓外延片及其上方的源极、栅极、漏极,还包括依次形成在氮化镓外延片上的第一介质层、欧姆金属层、第二介质层、第三介质层和栅极金属接触部;欧姆金属层包括源极欧姆接触部和漏极欧姆接触部,源极依次穿过第三介质层和第二介质层后与源极欧姆接触部连接,漏极依次穿过第三介质层和第二介质层后与漏极欧姆接触部连接,栅极与栅极金属接触部连接;氮化镓外延片包括势垒层和帽层,源极欧姆接触部和漏极欧姆接触部均向下延伸至势垒层,栅极金属接触部向下延伸至帽层。该氮化镓半导体器件在栅极金属刻蚀过程中欧姆金属能够得到额外保护,从而降低栅极金属刻蚀工艺难度。
  • 氮化半导体器件
  • [发明专利]氮化镓半导体器件及其制备方法-CN202011265890.0在审
  • 张安邦;李浩;郑浩宁;陈亮 - 英诺赛科(珠海)科技有限公司
  • 2020-11-13 - 2021-01-22 - H01L29/778
  • 本发明提供一种氮化镓半导体器件及其制备方法,氮化镓半导体器件包括氮化镓外延片及其上方的源极、栅极、漏极,还包括依次形成在氮化镓外延片上的第一介质层、欧姆金属层、第二介质层、第三介质层和栅极金属接触部;欧姆金属层包括源极欧姆接触部和漏极欧姆接触部,源极依次穿过第三介质层和第二介质层后与源极欧姆接触部连接,漏极依次穿过第三介质层和第二介质层后与漏极欧姆接触部连接,栅极与栅极金属接触部连接;氮化镓外延片包括势垒层和帽层,源极欧姆接触部和漏极欧姆接触部均向下延伸至势垒层,栅极金属接触部向下延伸至帽层。该氮化镓半导体器件在栅极金属刻蚀过程中欧姆金属能够得到额外保护,从而降低栅极金属刻蚀工艺难度。
  • 氮化半导体器件及其制备方法
  • [发明专利]半导体装置和其制作方法-CN202080001442.1在审
  • 李浩;张安邦;王剑;郑浩宁 - 英诺赛科(珠海)科技有限公司
  • 2020-04-13 - 2020-10-09 - H01L29/778
  • 本公开提供了一种半导体装置和其制作方法。所述半导体装置包含第一III族氮化物层、第二III族氮化物层、第一接触层、第二接触层、结构以及栅极层。所述第二III族氮化物层与所述第一III族氮化物层直接接触。所述第一接触层和所述第二接触层安置在所述第二III族氮化物层之上。所述结构邻近所述第一III族氮化物层和所述第二III族氮化物层的界面,并且所述结构的材料与所述第一III族氮化物层的材料或所述第二III族氮化物层的材料不同。所述栅极层安置在所述第一接触层与所述第二接触层之间。
  • 半导体装置制作方法

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