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[发明专利]一种用于高分辨率测量的激光测距装置及方法-CN202010433495.2有效
发明人：许新科;孔明;徐靖翔;赵军;王道档;刘璐;郭天太;刘维 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2020-05-21 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01S17/34 文献下载
摘要：本发明提供一种用于高分辨率测量的激光测距装置。可调谐激光器发出的激光信号经过分束器后被分为两路进入主光路和辅助光路，主光路中的信号通过变焦透镜照射目标后原路返回至光路，信号经过耦合器耦合后被探测器采集。进入辅助光路中的信号同样被探测器采集，两部分的信号存在光程差因此会产生干涉，数据采集卡将探测器中的信号以正弦形式输出。通过ESPRIT算法对该信号数据进行计算，实现被测目标的高分辨率测量。本发明解决现有激光测距时难以实现的高分辨率测量的问题。有益效果：利用ESPRIT算法对目标信号的数据进行计算，提高了该装置测量的分辨率。
一种用于高分辨率测量激光测距装置方法

[发明专利]基于激光调频连续波正反向调谐色散对消方法及装置-CN202010788052.5有效
发明人：许新科;孔明;赵军;王道档;刘维;刘璐;郭天太 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01S17/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于激光调频连续波正反向调谐色散对消方法及装置；通过外腔可调谐激光器进行正反向调谐，得到正向调谐的测量信号以及反向调谐的测量信号；分别提取正反向测量信号的相位，并进行相位展开；通过将两个信号的相位相加求平均，实现色散相位的抵消,得到降低色散影响后的测量信号；对测量信号进行ChirpZ变换，即可得到降低色散影响的目标距离。本方法可以不需要预先标定装置的色散系数，也不需要循环迭代补偿，单次测量即可完成系统色散补偿，得到降低色散影响的目标距离，提高了FMCW激光测距装置的稳定性及测量精度。
基于激光调频连续反向调谐色散对消方法装置

[发明专利]一种基于BP神经网络的手语翻译方法-CN202010243856.7有效
发明人：谢张宁;朱惠臣;孙晓光;吴俊杰;李智玮;傅云霞;雷李华;孔明;管钰晴;刘娜;王道档 -专利权人：上海市计量测试技术研究院;中国计量大学
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G06N3/063 文献下载
摘要：本发明为一种基于BP神经网络的手语翻译方法，其特征在于：包括以下步骤：1、利用树莓派3B通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子编制成手语语句库；3、编写包括BP神经网络结构框架模型、数据传输模块和储存模块的神经网络分类程序，BP神经网络结构框架模型采用输入层、输出层以及隐藏层的三层神经网络；4、将每次收到的手势电压信号通过BP神经网络框架模型转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合神经网络及传感技术实现了手语自动实时翻译识别。
一种基于 bp 神经网络手语翻译方法

[发明专利]一种基于支持向量机的手语翻译方法-CN202010242973.1有效
发明人：雷李华;傅云霞;朱惠臣;孙晓光;谢张宁;李智玮;刘娜;孔明;管钰晴;王道档 -专利权人：上海市计量测试技术研究院;中国计量大学
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2023-02-07 - 主分类号： G06V40/20 文献下载
摘要：本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法，其特征在于：包括以下：1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库；3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序，所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法，采用有向无环方案构成的多分类模型；4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。
一种基于支持向量手语翻译方法

[发明专利]一种基于光学偏折的显微大动态范围微透镜测量方法-CN202211004603.X在审
发明人：阮旸;孔明;王道档;禹静 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2022-08-22 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光学偏折的显微大动态范围微透镜测量方法，涉及测量技术领域，包括高亮投影屏、待测大动态范围微透镜、显微物镜、成像透镜、CCD探测器及处理器，以所述高亮投影屏、显微物镜、成像透镜和CCD探测器构建同轴光学系统，通过三坐标机对装置标定后，用处理器建立理想光学显微偏折模型，将待测大动态范围微透镜厚度中心平面位置设为理想面，获取理想光斑分布，本发明解决了传统偏折测量装置横向分辨率不足及现有反射显微偏折技术只能检测反射待测元件、景深不足、精度不高、通用性差等的技术问题，为复杂微透镜微观测量提供了一种高精度、结构简单、低成本、速度快、大景深和大动态范围测量装置及方法。
一种基于光学显微动态范围透镜测量方法

[发明专利]一种激光超声无损检测装置及方法-CN202111226911.2在审
发明人： 王道档;朱东旭;杨世锡;何俊;程启超;洪伟荣 -专利权人：浙江大学温州研究院;浙江大学
申请日： 2021-10-21 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光超声无损检测装置，包括：处理模块、同步信号发生模块、脉冲激光器、二维扫描振镜、检测模块和数据采集模块。本发明能够对被测试件的微小表面裂纹进行非接触式的高精度无损检测。本发明还提出一种激光无损检测方法，脉冲激光照射在被测试件中并在被测试件中激发出超声波信号，超声波信号被试件表面裂纹调制，检测模块输出的信号进入数据采集模块并通过总线进入处理模块，处理模块对信号进行分析处理最终得出缺陷的位置及深度信息。
一种激光超声无损检测装置方法

[发明专利]一种基于双波混频的激光超声无损检测装置及其方法-CN202111226916.5在审
发明人： 王道档;朱东旭;杨世锡;何俊;程启超;洪伟荣 -专利权人：中国计量大学;浙江大学;浙江大学温州研究院
申请日： 2021-10-21 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于双波混频的激光超声无损检测装置及其方法，包括：光纤脉冲激光器、阵列产生模块、第一扫描振镜、检测模块、同步发生模块和处理模块。脉冲激光经过阵列产生模块变为多束脉冲激光，每束脉冲激光照射到被测试件并在被测试件的不同位置同时激发出超声波信号，超声波信号被试件表面裂纹调制，检测模块对超声波信号进行检测并将超声波信号转换为电信号，处理模块对电信号进行分析处理并对被测试件进行评价。本发明还公开了一种激光超声无损检测方法。本发明具有检测范围广、可以抵抗低频噪声干扰、检测效率高等优点。
一种基于混频激光超声无损检测装置及其方法

[发明专利]一种瞬态移相横向剪切干涉仪及测量方法-CN202010075881.9有效
发明人： 王道档;古志雄;孔明;许新科;赵军;刘维;郭天太 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2020-01-22 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种瞬态移相横向剪切干涉仪，包括线性偏振器、偏振分光板、平面反射镜、四分之一波片、成像透镜以及偏振相机，其中，所述线性偏振器设置于偏振分光板的上方，所述四分之一波片、成像透镜、偏振相机依次设置于所述偏振分光板的一侧，所述偏振分光板与X轴方向呈45°夹角，所述平面反射镜设置于偏振分光板下方并与偏振分光板平行。相应的，本发明还公开了瞬态移相横向剪切干涉仪的测量方法。通过本发明提供了一种测量速度快、剪切量任意可调的瞬态移相横向剪切干涉仪。
一种瞬态横向剪切干涉仪测量方法

[发明专利]一种光学偏折显微表面测量装置及方法-CN201911061488.8有效
发明人： 王道档;吴振东;孔明;付翔宇;许新科;赵军;刘维;郭天太 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2019-11-01 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明公开了光学偏折显微表面测量方法，所述方法包括：采用三坐标测量设备对所述光学偏折显微表面测量装置的结构位置参数S进行测量标定；根据测量标定的结构位置参数S，计算所述变形条纹光信号的相位分布，所述变形条纹光信号包括待测元件微观面形轮廓特征信息；根据所述相位分布，获取所述待测元件微观表面对应的实际光斑分布；将所述实际光斑分布与一预设的理想光斑分布进行比较，得到所述待测元件的微观面形轮廓。相应的，本发明还公开了光学偏折显微表面测量装置。通过本发明实现了高精度、低成本、空间分辨率高、测量速度快的显微测量技术方案。
一种光学显微表面测量装置方法

[发明专利]一种微透射元件多面形大动态范围同步测量方法-CN201911081357.6有效
发明人： 王道档;吴振东;孔明;付翔宇;许新科;赵军;刘维;郭天太 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供一种微透射元件多表面面形同步检测方法，涉及测量技术领域。利用逆向哈特曼光路检测装置，使用计算机建立的模型化检测系统，测得待测微透射元件波像差，基于光线追迹法对微透射元件模型各表面面形误差进行迭代优化求解，获得相应的重构待测微透射元件波像差，通过优化重构待测微透射元件波像差使之与实测待测微透射元件波像差的偏差最小，最终重构出待测透射元件的实际各表面面形。本发明解决了现有技术中对微小透射元件多表面的测量实现难度较大、空间分辨率较低、检测精度较低、动态范围较小以及无法同步测量多表面的技术问题。本发明有益效果为：为微透射元件多表面面形同步检测提供了一种高精度大动态范围的检测方法。
一种透射元件多面动态范围同步测量方法

[发明专利]一种数字全息子孔径相位图自动拼接融合方法-CN202010034447.6在审
发明人：刘维;谢中思;郝玲;徐佳男;孔明;王道档;赵军;郭天太;许新科;刘璐 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2020-01-14 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G06T3/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种数字全息子孔径相位图自动拼接融合方法，包括：采用相位相关算法对相邻两子孔径相位图进行粗匹配，得到两子孔径相位图之间的初始相对位置和初始重叠区域；根据Harris算子分别对两幅子孔径相位图的初始重叠区域进行角点检测，并进行对应的角点匹配和误配点对的剔除，得到最佳Harris角点匹配点对；以得到的得到最佳Harris角点匹配点对为中心，分别在两幅子孔径相位图中选择相应的子图像块，并根据全匹配搜索算法(FS)计算得到最佳匹配点对及其对应的偏移量；根据两幅子孔径相位图、最佳匹配点对及其对应的偏移量，对两幅子孔径相位图进行平移，并对重叠区域进行相位融合,实现对数字全息子孔径相位图的自动拼接融合。
一种数字全息孔径相位自动拼接融合方法

[发明专利]基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法-CN201910163812.0有效
发明人：孔明;王道档;单良;赵军;许新科;刘维;徐平;龚志东 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2019-03-05 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息，采用反积分曲线三维重建算法计算得到测量空间内部存在的空气介质的折射率的变化数据；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
基于哈特曼光线均匀介质测量方法

[发明专利]基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统及其方法-CN201910164088.3有效
发明人：孔明;王道档;单良;赵军;许新科;刘维;徐平;龚志东 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2019-03-05 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统及其方法，包括内部存在非均匀介质场的测量空间、用于向测量空间射出与光轴形成偏转角为θ的入射光线的投影屏、用于对入射光线穿透测量空间内部的非均匀介质场折射形成平行于光轴的偏折光线进行汇聚成影像的物方远心光学系统；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且该系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
基于哈特曼光线均匀介质测量系统及其方法

[发明专利]基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法-CN201910164089.8有效
发明人：孔明;王道档;单良;赵军;许新科;刘维;徐平;龚志东 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2019-03-05 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息，采用反积分曲线三维重建算法计算得到测量空间内部存在的气液混合介质的折射率的变化数据；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
基于哈特曼光线均匀介质测量方法

[发明专利]一种显微表面测量装置及测量方法-CN202110335304.3在审
发明人： 王道档;阮旸;孔明;刘维;许新科;刘璐;郭天太 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种显微表面测量装置，包括投影屏、基座、显微物镜、成像透镜及CCD探测器，以所述投影屏、显微物镜、成像透镜和CCD探测器构建离轴光学系统，所述基座用于放置所述测试元件，其中，所述处理器连接所述投影屏和所述CCD探测器，所述处理器根据预存设置使所述投影屏产生一正弦条纹光信号，该正弦条纹光信号以一特定角度投射至测试元件上，经过所述测试元件的表面反射至所述显微物镜形成一汇聚光束，该汇聚光束经过所述成像透镜，在所述CCD探测器中呈现一变形条纹光信号，所述处理器对所述变形条纹光信号进行分析，获取所述测试元件的面形信息。
一种显微表面测量装置测量方法

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