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[发明专利]光学检测设备-CN202010595965.5在审
发明人： 毛秦军;朱怡;袁春辉;杨鹏;曹葵康;周明;徐一华 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2020-06-28 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明提供一种光学检测设备，包括：载台，所述载台用于承载待检测产品；相机，所述相机设置在所述载台的上方和/或下方，用于采集待检测产品的图像；多个灯，多个所述灯以与所述载台呈不同角度地设置在所述载台的上方和/或下方，且与所述相机相邻设置，用于对待检测产品进行照明；控制器，所述控制器分别连接多个所述灯以及所述相机，所述控制器用于控制多个所述灯轮流亮灯并控制所述相机拍照的频率与多个所述灯轮流亮灯的频率一致。根据本发明的光学检测设备，能够获取待检测产品在不同角度的灯光照明下的图像，通过这些图像，能够快速准确判定产品是否有瑕疵。
光学检测设备

[实用新型]一种曲面玻璃轮廓度检测装置-CN201821219793.6有效
发明人：孔晨晖;王志伟;毛秦军 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2018-07-31 - 公布日： 2019-03-22 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种玻璃轮廓检测装置，尤其是一种曲面玻璃轮廓度检测装置，包括与检测控制系统连接的输送带，曲面玻璃放置在输送带上；还包括均与检测控制系统连接的喷雾装置和线激光3D扫描仪，喷雾装置位于输送带送料端上方的一侧，线激光3D扫描仪位于喷雾装置的一侧，喷雾装置的喷嘴位于被测曲面玻璃的上方，喷嘴的形状与曲面玻璃的轮廓一致，喷嘴将水雾均匀的喷在曲面玻璃的表面，曲面玻璃的表面均匀的覆盖一层微小雾滴，线激光3D扫描仪在雾滴消失前扫描曲面玻璃的轮廓。该装置在玻璃表面生成一层微米级均匀水雾，使表面不透明，对入射光有较强的散射，同时又不改变玻璃表面形状和尺寸、通过3D扫描仪进行快速测量、测量结果准确。
曲面玻璃喷雾装置扫描仪输送带喷嘴线激光轮廓度检测装置玻璃表面控制系统水雾雾滴轮廓检测装置本实用新型玻璃快速测量轮廓一致扫描曲面不透明入射光送料端微米级散射检测覆盖

[实用新型]一种手机玻璃AF膜表面瑕疵检测装置-CN201821224132.2有效
发明人： 毛秦军;朱怡;秦锡锋;魏小寅 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2018-07-31 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种膜表面的检测方法，尤其是一种手机玻璃AF膜表面瑕疵检测装置，包括均与检测控制系统连接的输送带、相机和光源，玻璃放置在输送带上，所述相机和光源均位于输送带上方，相机拍摄被测玻璃AF膜，光源照射被测玻璃AF膜；还包括喷雾装置，喷雾装置位于相机的一侧，喷雾装置与检测控制系统连接，喷雾装置的喷嘴位于被测玻璃AF膜的上方，喷嘴将水雾均匀的喷在玻璃AF膜的表面，玻璃AF膜的表面均匀的覆盖一层微小雾滴，相机在雾滴消失前拍摄玻璃AF膜的表面。该检测装置结构简单、成本低、检测效率高、检测的结果准确，能够有效检测AF膜的瑕疵，此外还能提高玻璃表面划伤、碰伤、脏污等瑕疵的检出率。
喷雾装置玻璃输送带检测装置相机检测表面瑕疵控制系统手机玻璃喷嘴雾滴瑕疵光源玻璃表面划伤本实用新型玻璃放置光源照射相机拍摄有效检测检出率膜表面碰伤水雾脏污拍摄覆盖

[发明专利]一种手机玻璃AF膜表面瑕疵检测装置及检测方法-CN201810857934.5在审
发明人： 毛秦军;朱怡;秦锡锋;魏小寅 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2018-07-31 - 公布日： 2018-12-18 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及一种膜表面的检测方法，尤其是一种手机玻璃AF膜表面瑕疵检测装置，包括均与检测控制系统连接的输送带、相机和光源，玻璃放置在输送带上，所述相机和光源均位于输送带上方，相机拍摄被测玻璃AF膜，光源照射被测玻璃AF膜；还包括喷雾装置，喷雾装置位于相机的一侧，喷雾装置与检测控制系统连接，喷雾装置的喷嘴位于被测玻璃AF膜的上方，喷嘴将水雾均匀的喷在玻璃AF膜的表面，玻璃AF膜的表面均匀的覆盖一层微小雾滴，相机在雾滴消失前拍摄玻璃AF膜的表面。该检测装置结构简单、成本低、检测效率高、检测的结果准确，能够有效检测AF膜的瑕疵，此外还能提高玻璃表面划伤、碰伤、脏污等瑕疵的检出率。
喷雾装置玻璃输送带检测检测装置相机表面瑕疵控制系统手机玻璃喷嘴雾滴瑕疵光源玻璃表面划伤玻璃放置光源照射相机拍摄有效检测检出率膜表面碰伤水雾脏污拍摄覆盖

[发明专利]一种曲面玻璃轮廓度检测装置及检测方法-CN201810857516.6在审
发明人：孔晨晖;王志伟;毛秦军 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2018-07-31 - 公布日： 2018-11-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种玻璃轮廓检测装置，尤其是一种曲面玻璃轮廓度检测装置，包括与检测控制系统连接的输送带，曲面玻璃放置在输送带上；还包括均与检测控制系统连接的喷雾装置和线激光3D扫描仪，喷雾装置位于输送带送料端上方的一侧，线激光3D扫描仪位于喷雾装置的一侧，喷雾装置的喷嘴位于被测曲面玻璃的上方，喷嘴的形状与曲面玻璃的轮廓一致，喷嘴将水雾均匀的喷在曲面玻璃的表面，曲面玻璃的表面均匀的覆盖一层微小雾滴，线激光3D扫描仪在雾滴消失前扫描曲面玻璃的轮廓。该装置在玻璃表面生成一层微米级均匀水雾，使表面不透明，对入射光有较强的散射，同时又不改变玻璃表面形状和尺寸、通过3D扫描仪进行快速测量、测量结果准确。
曲面玻璃喷雾装置扫描仪输送带喷嘴线激光轮廓度检测装置玻璃表面控制系统水雾雾滴检测轮廓检测装置玻璃快速测量轮廓一致扫描曲面不透明入射光送料端微米级散射覆盖

[实用新型]一种影像测量仪-CN201820299674.X有效
发明人：王志伟;毛秦军;周保同;龚伟林 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2018-03-05 - 公布日： 2018-09-04 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种影像测量仪，包括：底座、立柱、X滑台、Y滑台、Z滑台、影像测量系统、运动控制器和上位机，其中所述Y滑台设置在所述底座上，所述X滑台设置在所述Y滑台上，一被测件设置在所述Y滑台上；所述Z滑台滑动设置在所述立柱上，所述影像测量系统固定在所述Z滑台上，并与所述运动控制器和所述上位机连接；所述X滑台、所述Y滑台、所述Z滑台上均设有至少一个位置检测单元，每一所述位置检测单元均与所述运动控制器连接。本实用新型为提高影像测量效率和测量精度提供了结构上的支撑。
滑台运动控制器位置检测单元影像测量系统本实用新型影像测量仪上位机底座立柱滑动设置影像测量被测件测量支撑

[发明专利]一种高效影像测量系统-CN201810178286.0在审
发明人：王志伟;毛秦军;周保同;龚伟林 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2018-03-05 - 公布日： 2018-08-14 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高效影像测量系统，包括：影像测量单元，用于获取被测件的图像信息；工作台，用于承载被测件；若干位置采集单元，设置在所述影像测量单元和/或所述工作台上，用于采集当前的位置信息并发送给所述运动控制器；所述运动控制器，用于驱动所述工作台与所述影像测量单元的相对运动；上位机，用于从所述影像测量单元读取图像信息，并进行图像处理和坐标计算，获得几何尺寸测量结果。本发明在测量过程中取消了当前影像测量仪测量过程中的启动/停止动作，在连续的相对运动过程中，完成被测特征的捕捉，提高了影像测量的效率。
影像测量影像测量系统运动控制器测量过程图像信息被测件工作台几何尺寸测量位置采集单元相对运动过程影像测量仪单元读取停止动作图像处理坐标计算上位机并发捕捉采集承载驱动

[实用新型]一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置-CN201720864241.X有效
发明人： 毛秦军;杨广;杨鹏 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2017-07-17 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其检测的隐裂检出率达到95％以上，使得后续组装的光伏组件的成品质量稳定。其包括红外相机、红外光源，其还包括底部挡板，红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方，红外光源位于所述红外相机的一侧布置，红外光源斜向布置，所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α，α的取值范围为12°～20°，镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置，其还包括表面挡板，表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置，所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内。
太阳能硅片红外光源红外相机检测挡板上表面隐裂镜头光学检测装置底部挡板中垂线本实用新型光伏组件入射光线斜向布置质量稳定检出率成角组装垂直

[发明专利]一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置及检测方法-CN201710582300.9在审
发明人： 毛秦军;杨广;杨鹏 -专利权人：苏州天准科技股份有限公司
申请日： 2017-07-17 - 公布日： 2017-11-21 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其检测的隐裂检出率达到95％以上，使得后续组装的光伏组件的成品质量稳定。其包括红外相机、红外光源，其还包括底部挡板，红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方，红外光源位于所述红外相机的一侧布置，红外光源斜向布置，所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α，α的取值范围为12°～20°，镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置，其还包括表面挡板，表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置，所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内。
一种用于检测太阳能硅片光学装置方法

[发明专利]一种用于光谱仪的双向观测全谱直读光路系统-CN201110261903.1无效
发明人：刘召贵;黄冲;陈祖新;毛秦军;朱小琴 -专利权人：江苏天瑞仪器股份有限公司
申请日： 2011-09-06 - 公布日： 2012-04-18 - 主分类号： G01J3/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于光谱仪的双向观测全谱直读光路系统，其包括一双向观测前置照明系统和一交叉色散主光路系统，所述双向观测前置照明系统位于水平方向，所述交叉色散主光路系统位于竖直方向，两系统构成一T形结构，所述前置照明光路系统将目标成像在狭缝上，通过狭缝进入交叉色散主光路系统，得到的二维光谱图由面阵探测器接收，实现全谱直读。本发明具有以下特点：前置照明光路系统和竖直色散主光路系统构成T型，结构紧凑，节省空间；色散主光路系统采用竖直光路，能很好的改善彗差和象散，提高成像质量，改善分辨率，无任何移动部件，降低元件损耗；光学元件少且简单，无特殊非球面镜，加工容易，成本经济。
一种用于光谱仪双向观测直读系统

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