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[实用新型]芯片测试机的电源管理电路及芯片测试机-CN202321298456.1有效
发明人：周诚人;刘彩虹;柳宇丰 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F1/26 文献下载
摘要：本申请涉及半导体自动化测试领域，特别是涉及一种芯片测试机的电源管理电路及芯片测试机，所述芯片测试机包括计算机模块以及存储器，所述电路包括：供电电路，其与所述计算机模块以及所述存储器连接，用于为所述计算机模块和所述存储器模块供电；第一开关电路，其连接在所述供电电路的输出端以及公共地之间，在所述第一开关电路导通的情况下，所述计算机模块清除所述存储器的配置信息。本技术方案具有以下技术效果：通过第一开关电路的导通控制，即可实现存储器的配置信息的清除，清除方式更加方便。
芯片测试电源管理电路

[实用新型]板卡结构及测试装置-CN202321309012.3有效
发明人：洪浩;陈杰;童仲尧;邱国志 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H05K7/20 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种板卡结构及测试装置，板卡结构包括架体、第一电路板、散热件、延伸件及测试组件，其中：第一电路板设置于架体；散热件设置于架体，并与第一电路板相配合，散热件用于对第一电路板散热；延伸件与散热件热传导连接；测试组件设置于架体及第一电路板，并与延伸件相配合，延伸件用于对测试组件散热。该板卡结构不需要定制散热件，避免增加成本；第一电路板及测试组件能够通过散热件及延伸件进行较好地散热，避免第一电路板及测试组件工作时的温度过高而影响板卡结构的正常工作。由于延伸件的结构简单，因此可以将延伸件的厚度减薄，避免增大板卡组件的整体尺寸，并且能够在避免降低散热件的强度的同时，保证延伸件的强度。
板卡结构测试装置

[实用新型]液冷系统及测试机-CN202223611708.X有效
发明人：洪浩;陈杰;童仲尧;邱国志 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H05K7/20 文献下载
摘要：本实用新型请求保护的汇流排、液冷系统及测试机，汇流排包括汇流排主体，汇流排主体内开设有第一液冷通道和第二液冷通道，第一液冷通道与第二液冷通道独立设置；其中，汇流排主体上开设有多个出液孔以及与多个出液孔匹配的多个回流孔；多个出液孔分别与第一液冷通道连通设置，多个回流孔分别与第二液冷通道连通，第一液冷通道内的冷却介质能够从出液孔排出，并经过对应的回流孔回流至第二液冷通道。本实用新型的汇流排应用在测试机中能够起到分流及汇流的功能，这样不仅能够降低成本，减小汇流排所需要安装空间，进而可起到降低测试机机箱尺寸的作用，而且还能够起到降低测试机内部管线排布的难度，以降低后续维护成本的作用。
系统测试

[实用新型]检测装置-CN202320393117.5有效
发明人：杨乐;郑洪宝;翁水才;谢周阳;周世超 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-03-01 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本申请涉及半导体检测技术领域，提供了一种检测装置。该检测装置包括检测平台和拾取模组，检测平台具有具有沿第一方向间隔布设的收料工位、上料工位、调整工位以及检测工位，各工位共同限定出第一流转路径；检测工位沿第二方向被划分为间隔布设的压载子工位、第一检测子工位和第二检测子工位，并共同限定出第二流转路径；拾取模组能够沿第一流转路径在上料工位、调整工位、检测工位和收料工位之间流转。也就是说，该检测装置通过第一流转路径和第二流转路径的成角度设置，相当于将沿水平横向的部分空间转移至水平纵向，缩减沿水平横向所占用的空间；当拾取模组沿第一流转路径移动时，缩减了移动行程，提高拾取模组的使用稳定性。
检测装置

[发明专利]功率器件动态导通电阻的测试装置和方法-CN202310773705.6在审
发明人：耿霄雄;马露露;王民鹏;陶磊;单剑宏 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-06-27 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请涉及一种功率器件动态导通电阻的测试装置和方法，第一电压源模块在阻断模块导通且待测功率器件处于关断状态时，对待测功率器件进行电压冲击，隔离模块在第一电压源模块对待测功率器件电压冲击时进行电压隔离。泄放模块在第一电压源模块完成电压冲击后对待测功率器件的残余电压进行释放处理，第二电压源模块在待测功率器件导通后，通过隔离模块输送电流至待测功率器件的第一极，电压采样模块和电流采样模块分别在第一电压源模块输送电流至待测功率器件的第二极时进行电压采集和电流采集，得到的电压数据和电流数据进一步可用作计算待测功率器件的动态导通电阻，结构简单、成本低。
功率器件动态通电测试装置方法

[发明专利]翻转机构-CN202310808501.1在审
发明人：龙裕嘉;包荣剑 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： B65G47/248 文献下载
摘要：本申请涉及半导体检测技术领域，提供了一种翻转机构。该翻转机构通过翻转动力源驱动第一衔接臂沿第二方向移动，第一衔接臂对被翻转体产生沿第二方向移动的作用力；此时，由于第一摆臂和第二摆臂的相对底座组件的设置，促使第一摆臂的一端和第二摆臂的一端均具有一固定点，且第一摆臂和第二摆臂均连接于被翻转体；因此，被翻转体会承受第一衔接臂的推力以及摆臂的拉力，从而使得被翻转体的后端翘起，以满足被翻转体的转动。如此，提高翻转精度和对载具盘中半导体器件的保护性，并避免了采用连杆机构是存在运动轨迹设计困难问题，也便于对被翻转体的翻转角度进行限制，操作更为方便。
翻转机构

[发明专利]搬运架设结构、检测装置以及搬运方法-CN202310714637.6在审
发明人：曹明阳;姜旭军;陈文艺 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-06-15 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H01L21/677 文献下载
摘要：本申请涉及半导体检测技术领域，提供了一种搬运架设结构、检测装置以及搬运方法。该搬运架设结构用于连接机械手，搬运架设结构具有多个沿第一方向间隔布置的架设区域；搬运架设结构包括分布于各个架设区域内的导轨和滑动连接于对应导轨的横梁，且导轨的长度方向与横梁的长度方向成角度布置；任意相邻的架设区域中，相邻的导轨之间互成角度布置，且各个横梁上安装有机械手，各个机械手之间互不干涉。如此，在满足机械手在各个托盘之间流转实现搬运的同时，缩减机械手的行程，并优化布局空间，降低机械手移动过程中的惯性，提高机械手移动稳定性。
搬运架设结构检测装置以及方法

[发明专利]温度控制方法、装置、系统及计算机设备-CN202311026928.2在审
发明人：石宇立;梁欣;邱国志;蔡年群;葛鸿飞 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-08-15 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G05D23/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种温度控制方法、装置、系统及计算机设备，包括步骤：获取换热器的实际温度；所述换热器用于与目标介质热耦合；判断所述实际温度与所述换热器的第一设定温度是否满足第一关系；当所述实际温度与所述第一设定温度满足所述第一关系时，判断冷却装置供向所述换热器的冷却介质的第二设定温度与最佳设定温度是否满足第二关系；当所述第二设定温度与所述最佳设定温度满足所述第二关系时，调节所述第二设定温度，以使得所述实际温度处于所述第一设定温度的上下波动范围内；其中，所述最佳设定温度与所述第一设定温度一一对应，所述最佳设定温度为所述冷却介质与所述目标介质具有最大换热量时，所述冷却介质的设定温度。
温度控制方法装置系统计算机设备

[发明专利]基于图像处理的针痕检测方法、装置、设备及介质-CN202310509315.8在审
发明人：蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于图像处理的针痕检测方法、装置、设备及介质，涉及晶圆测试技术领域，该方法包括：将包括待进行针痕检测的测试接点的待处理图像转换为第一灰度图像；从待处理图像中分离出预定颜色分量对应的单色图像；基于第一灰度图像，按照第一规则生成第一二值图像；其中，第一规则包括：像素值未超过对应的像素值阈值的像素点呈白色；基于单色图像，按照第二规则生成第二二值图像；其中，第二规则包括：像素值超过对应的像素值阈值的像素点呈白色；对第一二值图像和第二二值图像进行合并，得到合并二值图像；基于合并二值图像，确定待处理图像中的测试接点的针痕检测结果。本公开的实施例能够兼容对不同特征的针痕的检测。
基于图像处理检测方法装置设备介质

[发明专利]一种晶圆边缘识别方法、晶圆定位方法及装置-CN202310645387.5在审
发明人：蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-06-01 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本申请公开了一种圆边缘识别方法、晶圆定位方法、探针台、晶圆边缘识别装置、电子设备及存储介质，属于晶圆定位技术领域，其中，获取晶圆在预设方位的边缘图像；从边缘图像中提取晶圆在支撑件上形成的阴影区域；提取阴影区域的边缘点；拟合边缘点得到晶圆在预设方位的边缘。该方法通过提取晶圆在支撑件上的阴影代替直接提取晶圆边缘，能够利用阴影区域光学成像特征的稳定性，来提升晶圆边缘提取的稳定性。
一种边缘识别方法定位装置

[实用新型]对接车-CN202321295762.X有效
发明人：程高飞;杨奎 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： B65G35/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种对接车，涉及测试设备技术领域，本实用新型提供的对接车包括：底座；用于分别连接于测试机相对两侧的至少两个夹持臂，各个夹持臂沿X向滑动连接于底座；底座用于带动各个夹持臂沿X向移动；夹持臂包括滑移座与支撑座，滑移座滑动连接于底座，支撑座沿Y向滑动连接于滑移座背向底座的一侧，滑移座用于带动支撑座沿Y向移动，支撑座设有用于夹设测试机的夹持面，夹持面沿Z向位置可调，X向、Y向和Z向两两垂直。本实用新型提供的对接车具有结构简单、安装工作占用空间小、对输入的动力扭矩大小要求较低、安全风险低、对接效率高等优点。
接车

[实用新型]微调工具及微调装置-CN202321373331.0有效
发明人：程高飞;杨奎 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种微调工具及微调装置，涉及测试设备技术领域，本实用新型提供的微调工具包括底座、第一滑移座、第二滑移座和顶升机构；第一滑移座与底座沿第一方向滑动配合，底座包括第一调节件以及移动并配合第一调节件锁定第一滑移座位置的第一顶紧件；第二滑移座与第一滑移座沿第二方向滑动配合，第一滑移座包括第二调节件以及移动并配合第二调节件锁定第二滑移座位置的第二顶紧件；顶升机构安装于第二滑移座，顶升机构的顶升方向和第一方向及第二方向均相垂直。本实用新型提供的微调工具在顶升方向上调节便捷，且不需要在机械臂内部设计微调结构，减小了机械臂结构的设计成本及复杂程度。
微调工具装置

[实用新型]衰减电路，及衰减控制系统-CN202223587357.3有效
发明人：连心想;曹锋 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H03H17/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种衰减电路。其中，该衰减电路包括：至少两个相互电连接的衰减模块，衰减模块包括：衰减电阻单元，包括不同衰减值的衰减电阻组；以及，开关阵列，与衰减电阻单元电连接，用于接收控制指令信息，并根据控制信息选通任意一个衰减电阻组，实现信号衰减；其中，多个衰减电阻单元内衰减电阻组的衰减最大值相加所获得的值限定衰减调节的最大范围。本实用新型解决了在高带宽及大信号的条件下，信号能够在AC加DC模式的频率范围内实现数控衰减的技术问题。
衰减电路控制系统

[实用新型]测试机触发系统及芯片测试系统-CN202320241871.7有效
发明人：赵阳 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-02-02 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测试机触发系统及芯片测试系统，包括：触发源结构、通信板卡和被触发结构，通信板卡分别与触发源结构和被触发结构连接；其中，触发源结构内具有若干个触发通道，所述触发源结构用于生成第一触发信号，第一触发信号携带有触发编码，触发编码与已导通的触发通道数之间存在映射关系；通信板卡用于解析第一触发信号，并将解析后生成的第二触发信号发送至被触发结构；被触发结构用于根据第二触发信号控制被测芯片执行对应的目标操作。本实用新型可以较好地适用于多种类型的触发场景，显著提高了触发板卡的通用性。
测试触发系统芯片

[发明专利]高频波形测试方法、装置、测试机及存储介质-CN202310496530.9在审
发明人：赵阳 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01R29/02 文献下载
摘要：本申请公开了一种高频波形测试方法、装置、测试机及存储介质，属于数字测试机技术领域，其中，高频波形测试方法包括：确定低频采样波形的采样周期；根据待测高频波形确定触发电平；基于触发电平，利用低频采样波形对待测高频波形经过预设测试时间进行采样，以获取往复循环的目标波形；根据目标波形确定目标波形的循环参数；根据循环参数及采样周期，确定待测高频波形的波形参数。该方法无需高频采样，只需要较低频率的采样波形就可以实现高频波形参数的测试，可以简单并且精准的测试高频波形的参数。
高频波形测试方法装置存储介质