专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体表面缺陷的检测装置及方法-CN202310484835.8在审
  • 左娇娇;张强;郭增凯 - 匠岭科技(上海)有限公司
  • 2023-04-27 - 2023-10-27 - G01N21/95
  • 本发明公开了一种半导体表面缺陷的检测装置及其方法,其中所述半导体表面缺陷的检测装置包括:检测主体和校对工装,所述检测主体包括:检测相机、反射镜组件和检测台,所述检测相机和检测台之间设置所述反射镜组件,所述反射镜组件包括多个反射镜,以将所述检测台的承载面表面的图像传输至所述检测相机的镜头内;所述校对工装包括位于所述校对工装两端的标准靶面和检测靶面;在对所述检测装置进行校对时,所述校对工装适于设置于所述检测台上,并通过所述校对工装进行校对步骤,以最终确定所述检测靶面所在的检测台的承载面处为检测位置。本发明应用校对工装进行校对,可以统一不同机台的一致性和准确性,提高调节效率。
  • 半导体表面缺陷检测装置方法
  • [发明专利]一种配置料浆颗粒物自动滤除装置及方法-CN202311031829.3在审
  • 张强;王彬 - 山东晟阳新型建材有限公司
  • 2023-08-16 - 2023-10-27 - B02C4/02
  • 一种配置料浆颗粒物自动滤除装置及方法,属于建筑用材加工技术领域,包括通依次连接的第一研磨输送机构和第二研磨输送机构,第一研磨输送机构由第一壳体以及两个转动设置在第一壳体内的第一绞龙组成,两个第一绞龙相啮合,第一绞龙的绞龙轴上固定设有用于输送料浆的第一螺旋叶片和若干用于研磨颗粒物的研磨单元;第二研磨输送机构由第二壳体以及转动设置在第二壳体内的第二绞龙组成,第二绞龙的绞龙轴上固定设有用于输送料浆的第二螺旋叶片和若干组用于研磨颗粒物的磨片,第二壳体内沿其轴向间隔设有若干与磨片配合的磨板,磨板上设有若干通孔且若干磨片上的通孔在沿料浆的流动方向上依次减小,提高了料浆的生产效率及质量。
  • 一种配置颗粒自动装置方法
  • [发明专利]一种基于像点比长仪的自动测量方法及系统-CN202310859713.2在审
  • 牛翊琳;张明渊;阚昭明;姚岚;刘文渊;张强;王倩;徐天龙;王远皓 - 西安航天精密机电研究所
  • 2023-07-13 - 2023-10-27 - G01B11/08
  • 本发明涉及一种基于像点比长仪的自动测量方法及系统,主要解决现有人工采用像点比长仪的测量方法,在测量时,由于测量过程中的人为因素,对测量精度影响较大;此外,由于需人为操纵,在测量的效率方面难以满足实时要求,且对于测量结果难以实时保存,对于以后的分析工作带来诸多不便的技术问题。该系统包括像点比长仪、图像采集卡、自动聚焦模块、自动校准模块、读取光栅模块、测量模块和输出模块;像点比长仪获取待测量零件的图像;图像采集卡对图像进行采集和预处理;自动聚焦模块对图像自动聚焦定位;自动校准模块对图像自动校准;读取光栅模块对图像进行光栅读取;测量模块对图像中零件的目标尺寸进行测量;输出模块输出测量结果。
  • 一种基于自动测量方法系统

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