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[实用新型]一种适用于DO-214封装结构的二极管测试盒-CN201520247121.6有效
发明人：潘昆;侯光碧;杜安波;杨秀伦;马绪;柯梅 -专利权人： 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）
申请日： 2015-04-22 - 公布日： 2015-08-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种适用于DO-214封装结构的二极管测试盒，包括盒体，盒体包括相互固定连接的上盒体和下盒体，下盒体的内部还设有一第一空腔，第一空腔内自下而上依次设有胶木板、电路板和插脚板，胶木板、电路板和插脚板之间相互固定连接，电路板上还设有一组引出线，引出线延伸至盒体的外部并与一外部的测试设备相连接，插脚板上还对称的设有两组插脚孔，以及还包括一夹具和两组测试插脚。本实用新型通过夹具的压块和下部本体压住二极管的上下表面，避免了直接夹持二极管的引脚引起引脚损伤，并且将夹具固定在上盒体的外表面，使二极管的引脚通过测试插脚直接与插脚板和电路板相连接，其结构稳定，使用方便，且有效提高了测试效率。
一种适用于 do 214 封装结构二极管测试

[实用新型]一种高可靠玻璃钝化高压硅堆-CN201520247306.7有效
发明人：古进;杨艳;杨辉;迟鸿燕;杨彦闻 -专利权人： 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）
申请日： 2015-04-22 - 公布日： 2015-08-05 - 主分类号： H01L23/48 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高可靠玻璃钝化高压硅堆，包括芯片和两个电极引线，两个所述电极引线对称的固定在所述芯片的两端，其中，所述芯片由多个管芯叠片烧结而成，所述电极引线包括引线和钨电极，所述引线和钨电极通过银铜焊片相互焊接连接，以及所述芯片的外表面还设有一玻璃层，所述玻璃层采用钝化玻璃粉制作而成。本实用新型带有钨电极的电极引线由于其化学性能稳定，在芯片台面腐蚀成型过程中基本不与混合酸反应，使芯片腐蚀过程可控，减少金属杂质离子的对台面的沾污，大大降低了产品的常温、高温反向漏电流，同时采用与钨电极匹配的钝化玻璃粉涂粉成玻璃层，提高了产品的抗温度循环能力。
一种可靠玻璃钝化高压

[实用新型]一种蒸发台的防绕射装置-CN201420847687.8有效
发明人：刘海洋;付立荣;林闽;许修发;丁兆阳;赵志云;胡靓 -专利权人： 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）
申请日： 2014-12-26 - 公布日： 2015-06-10 - 主分类号： C23C14/24 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种蒸发台的防绕射装置，包括蒸发台组件、隔挡圈、传动轴、顶罩、支架、钟罩和行星工件盘；所述蒸发台组件设置于钟罩内，所述钟罩内还设置有顶罩，所述顶罩的下方设置有支架，所述支架通过传动轴活动安装在钟罩上，所述支架上安装有行星工件盘，所述行星工件盘的下方设置有传动轴，所述隔挡圈固定在钟罩的内壁上。本实用新型通过在钟罩内设置隔挡圈，将隔挡圈置于行星工件盘的下方，并且隔挡圈的内径设置成略小于星工件盘下端所在圆周的直径，可以有效防止铝蒸汽碰撞到钟罩的内壁后散射到工件盘背面，解决了蒸发台铝蒸汽的绕射问题。
一种蒸发防绕射装置

[发明专利]一种微型玻璃钝化封装整流二极管-CN201510072182.8在审
发明人：古进;陈小璠;许晓鹏;杨辉;覃了;迟鸿燕 -专利权人： 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）
申请日： 2015-02-11 - 公布日： 2015-05-27 - 主分类号： H01L29/861 文献下载
摘要：本发明公开了一种微型玻璃钝化封装整流二极管，包括管芯、电极、引线和玻璃封装外壳。所述管芯为单晶硅制成的PN结，其P面和N面分别依次与电极和引线连接。所述管芯与电极通过金属薄膜层熔焊键合在一起，所述电极和引线通过铜焊片熔融焊接在一起。将玻璃钝化封装的整流二极管的外部直径做到1个毫米以下，实现了整流二极管的微型化；同时，玻璃钝化封装与塑料封装相比，二极管的高温反向漏电流更小、工作温度范围更宽、可靠性更高。
一种微型玻璃钝化封装整流二极管

[实用新型]一种整流器件正向恢复时间测试装置-CN201420850904.9有效
发明人：许秀群;刘海洋;许修发;丁兆阳;林闽;许晓鹏 -专利权人： 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）
申请日： 2014-12-29 - 公布日： 2015-05-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种整流器件正向恢复时间测试装置，包括控制回路、信号源、测试采样回路和示波器；所述控制回路的信号输出端与信号源的信号输入端连接，所述信号源的信号输出端与测试采样回路的信号输入端连接，所述测试采样回路的输出端分别与被测器件D的正极、示波器的信号输入端连接，所述被测器件D的负极接地。本实用新型利用该测试电路对U型器件在大电流、快恢复测试条件的特殊条件下进行正向恢复时间测试，根据实际的测试结果，器件的正向恢复时间测试值在规定范围内，测试盒产生的振荡、测试波型都与国外同类测试盒基本一致，满足测试元器件的测试目的，测试电路简单，易于制作且测试方便。
一种整流器件正向恢复时间测试装置