“上海镭望光学科技有限公司”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果59个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种光学二维精密调节机构-CN202310057323.3在审
发明人：杨增辉;王栋;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2023-01-17 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G02B7/02 文献下载
摘要：一种光学二维精密调节机构，包括：基座、第一方向调节组件和第二方向调节组件；第一方向调节组件沿第一方向可往复移动的设置于基座上；第二方向调节组件套设于第一方向调节组件上，并相对于第一方向调节组件且沿垂直于第一方向的第二方向往复移动；第一方向调节组件的操作面和第二方向调节组件的操作面均位于基座的同一个操作面上，以基于基座的同一个操作面对第一方向调节组件和第二方向调节组件进行操作，使得，基于基座的同一个操作面对第二方向调节组件上设置的待调节光学元件进行第一方向和第二方向的平移调节。在狭小的操作空间内通过一个操作方位对光学元件等设备进行二维平移调节，且在二维调整过程中不存在干涉现象，调节时耦合较小。
一种光学二维精密调节机构

[实用新型]一种适用于微反射镜阵列镀膜的硅晶圆掩膜板-CN202320124686.X有效
发明人：胡敬佩;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2023-01-18 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G03F1/52 文献下载
摘要：一种适用于微反射镜阵列镀膜的硅晶圆掩膜板，包括第一层硅晶圆、绝缘层和第二层硅晶圆；绝缘层位于第一层硅晶圆和第二层硅晶圆之间，第一层硅晶圆的厚度大于第二层硅晶圆的厚度；第二层硅晶圆用于与微反射镜阵列贴合；硅晶圆掩膜板配合微反射镜阵列设置有微反射镜阵列区域和非微反射镜阵列区域，微反射镜阵列区域中的第一层硅晶圆和绝缘层被刻蚀，微反射镜阵列区域中的第二层硅晶圆对应微反射镜阵列刻蚀有通孔阵列。通过半导体光刻工艺和刻蚀工艺将硅晶圆掩膜板开孔大小做的更加精准，对准图形更加精细，硅晶圆的硬度在足够薄的情况下相对于金属更不容易产生形变，且通过半导体加工工艺后，硅晶圆掩膜板表面光滑度更能满足其与微反射镜的贴合度。
一种适用于反射阵列镀膜硅晶圆掩膜板

[发明专利]一种光开关及光开关阵列-CN202310055419.6在审
发明人：胡敬佩;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2023-01-16 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G02B6/35 文献下载
摘要：一种光开关及光开关阵列，包括：绝缘层、支撑部、微镜、第一驱动电极、第二驱动电极和第三驱动电极；微镜通过支撑部支撑于绝缘层上方，用于反射光束；第一驱动电极设置于绝缘层上，并位于微镜一侧；第二驱动电极设置于微镜上，第三驱动电极设置于支撑部上；第一驱动电极、第二驱动电极、第三驱动电极配合驱动微镜处于偏转状态；第一驱动电极断电及第二驱动电极和第三驱动电极通电的状态下，第二驱动电极和第三驱动电极之间形成水平制衡的静电力，以使微镜处于水平状态；基于微镜的偏转状态或水平状态控制光开关的开或关。该光开关需限位结构进行限制，不受微结构磨损等影响依然保证其长期的稳定性，不单独采用限位结构会明显降低制作难度与成本。
一种开关阵列

[发明专利]一种粘性液体转移装置-CN202211230646.X在审
发明人：曾爱军;朱玲琳;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-08 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： B65D43/02 文献下载
摘要：一种粘性液体转移装置，包括：容器和辅助部；容器用于转移储存的粘性液体，容器的内部腔体被划分为进液区和出液区，进液区设置有进液口，出液区设置有出液口；辅助部用于在获取粘性液体时，至少使进液区的进液口及其以下区域浸入粘性液体中并通过进液口将粘性液体流入进液区；还用于在转移粘性液体及使用粘性液体的过程中，使进液区浸入粘性液体的外壁非裸露于外部，以防止进液区外壁沾有的粘性液体漏洒。本申请提供的粘性液体转移装置不仅解决了粘性液体转移困难，还解决了粘性液体转移过程中漏洒的问题。
一种粘性液体转移装置

[发明专利]一种反射式偏振分光棱镜及光刻机-CN202211411411.0在审
发明人：徐磊;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：一种反射式偏振分光棱镜及光刻机，反射式偏振分光棱镜包括：错位平行设置的第一面和第二面，错位平行设置的第三面和第四面；第一面和第二面为竖直错位平行设置，分别用于透射光束；第三面和第四面倾斜错位平行设置于第一面和第二面之间，第三面朝向所述第一面倾斜，第四面朝向第二面倾斜；第三面的反射面和第四面的反射面中的至少一个反射面为布儒斯特反射，使第一面和第二面之间的光束至少经过一次布儒斯特反射起偏；第三面的反射面和第四面的反射面分别以相同的布儒斯特角反射第一面和第二面之间的光束，使第一面透射光束的传播方向和第二面透射光束的传播方向相同。通过两次布儒斯特角反射，使入射光束的传播方向与出射光束的传播方向相同。
一种反射偏振分光棱镜光刻

[发明专利]一种透光物体缺陷检测方法-CN202211210152.5在审
发明人：曾爱军;朱玲琳;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01N21/23 文献下载
摘要：一种透光物体缺陷检测方法，包括步骤：判断待测透光物体的形状是否规则，若否，配置匹配液，并将不规则的待测透光物体完全浸没于匹配液中，将不规则的待测透光物体和匹配液配合后的整体作为待测件；将待测件置入双折射测量装置的检测台中；选取N个测量方向分别对待测件进行双折射分布测量，获取N个测量方向所对应视图的双折射分布图；根据各个双折射分布图识别待测透光物体在对应视图下存在的缺陷，及识别所述缺陷的数量、位置和形状。通过配置匹配液，使检测光路经过不规则透光物体时不会发生偏折，以实现任意形状物体的缺陷检测；通过应力双折射异常区域及不透光区域来识别缺陷的数量、位置和形状，即使普通成像难分辨的特殊缺陷也可以识别。
一种透光物体缺陷检测方法

[发明专利]一种多光斑生成装置及光束整形系统-CN202211242656.5在审
发明人：胡敬佩;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：一种多光斑生成装置及光束整形系统，其中，多光斑生成装置包括：光阑和DOE，光阑设置于DOE的入射光一侧，光阑和DOE配置有一一对应的划分区域；DOE的各划分区域的微结构图形基于随机初始相位生成，光阑的各划分区域可调，通过光阑的可调的划分区域与DOE的各划分区域匹配产生各划分区域所对应的独立可控的光斑图形。DOE各划分区域采用随机初始相位设计，突破了传统几何初始相位的限制，并配合视场光阑进行分区独立设计和控制，可实现单片DOE产生多种光斑图形且每种光斑之间独立可控的功能；此外，DOE的各划分区域的微结构图形基于随机初始相位生成，以使DOE的划分区域在被光阑部分遮挡时，DOE的划分区域所产生的光斑图形形貌保持不变而光斑强度随之变化。
一种光斑生成装置光束整形系统

[发明专利]一种光学元件激光损伤测试系统-CN202211248704.1在审
发明人：刘城名;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-12 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：一种光学元件激光损伤测试系统，包括：脉冲激光器、光束功率调节元件、分光元件、衍射元件、透镜组、第一功率监测模块和控制模块；光束功率调节元件用于对脉冲激光器发射的光束进行光束功率调节；分光元件用于将光束功率调节元件调节后的光束分成两束光束；衍射元件用于对入射光束进行整形，并以均匀光束射入透镜组；透镜组用于调节入射光束的光斑尺寸；控制模块用于控制透镜组中相应透镜元件移动获得所需的光斑尺寸，并根据第一功率监测模块反馈的监测数据控制光束功率调节元件对脉冲激光器发射的光束进行光束功率调节，使光束在所需的光斑尺寸下以一调节的光束功率射入待测光学元件，以测试待测光学元件的激光损伤。能够大范围的调节光束功率。
一种光学元件激光损伤测试系统

[发明专利]一种透反射双面衍射光学元件及制作方法-CN202211415142.5在审
发明人：胡敬佩;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G02B5/18 文献下载
摘要：一种透反射双面衍射光学元件及制作方法，包括：基底，基底的入射面为具有浮雕结构的第一衍射面，基底的出射面为具有浮雕结构的第二衍射面，第一衍射面的浮雕结构上镀制半透半反膜；第一衍射面通过半透半反膜反射的衍射光形成第一衍射图像；第一衍射面通过半透半反膜透过的光通过所述第二衍射面衍射形成第二衍射图像；第一衍射图像和第二衍射图像不同。由于通过在基底的入射面和出射面分别制作不同的浮雕结构，并结合半透半反膜，实现在衍射光学元件的反射屏和透射屏分别生成不同衍射图案的效果；在防伪和显示等领域具有很大的应用价值。
一种反射双面衍射光学元件制作方法

[发明专利]一种可变尺寸线形光束整形装置及整形方法-CN202211250894.0在审
发明人：胡敬佩;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-12 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：一种可变尺寸线形光束整形装置及整形方法，其中，整形装置包括控制器、图像采集器、激光器、准直镜、光斑缩放透镜组、分光镜、鲍威尔透镜、柱面凹透镜、柱面凸透镜；柱面凹透镜和柱面凸透镜分别为可移动设置；分光镜用于将线形光束分为两束高斯光束，一束高斯光束传输至鲍威尔透镜进行光束整形，另一束高斯光束传输至图像采集器；图像采集器与控制器信号连接，控制器根据图像采集器采集的光束直径控制柱面凹透镜和柱面凸透镜移动至目标位置，通过调整柱面凹透镜和柱面凸透镜之间的距离改变线形光束的长轴尺寸和短轴尺寸，以获得符合要求的线形光斑尺寸。通过改变柱面凹透镜和柱面凸透镜之间的焦距来获得符合要求的光斑尺寸，具有更好的适应性。
一种可变尺寸线形光束整形装置方法

[发明专利]一种球面镜本征双折射检测装置及其检测方法-CN202211228083.0在审
发明人：胡敬佩;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-09 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请提供一种球面镜本征双折射检测装置及其检测方法；检测装置包括：菲索干涉仪、偏振片、第一旋转装置、第二旋转装置、球面标准镜和控制器；利用菲索干涉仪采集出射光在某一偏振方向的第一幅干涉图，然后旋转偏振片90°采集另一幅干涉图，将两幅干涉图作差，获得第一干涉图；旋转待测球面镜180°，并继续旋转偏振片90°采集第三幅干涉图，继续旋转偏振片90°采集第四幅干涉图，将两幅干涉图作差得到第二干涉图；最后将第二干涉图旋转180°与第一干涉图叠加可获得更准确的球面镜的本征双折射。本发明能够有效地减弱待测球面镜应力双折射对检测结果的影响同时可以消除系统误差，极大地提升了检测精度，整体检测过程简单，具有很高的商用价值。
一种球面镜双折射检测装置及其方法

[发明专利]一种人工晶体光学均匀性测试装置及测试方法-CN202211228219.8在审
发明人：刘城名;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-09 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：一种人工晶体光学均匀性测试装置及测试方法，测试装置包括：沿光路传播方向依次设置的分光元件、1/4波片和反射平板；分光元件透过P偏振光、反射S偏振光；待测人工晶体放置于1/4波片和反射平板之间；测试光以P偏振光射入分光元件，测试光经分光元件、1/4波片和反射平板的作用四次透过待测人工晶体，并以P偏振光经分光元件射出，基于测试光四次透过待测人工晶体测试其光学均匀性。本申请提供的测试装置及测试方法，使测试光多次经过待测人工晶体，可用来降低待测人工晶体的厚度，例如，与常规的测试光两次透过待测人工晶体相比，测试光四次透过待测人工晶体使待测人工晶体的厚度明显减小，对于人工晶体样品来讲，极大的降低了样品制造难度和成本。
一种人工晶体光学均匀测试装置方法

[发明专利]光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及方法-CN202211229944.7在审
发明人：朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-08 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请提供一种用于光学元件激光损伤阈值测试的光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及光学元件激光损伤阈值测试方法，其中，光斑生成装置包括：激光器和光斑生成单元；激光器用于发射激光光束；光斑生成单元用于对激光器发射的激光光束进行处理并一次生成不同能量及同一能量多个辐照的光斑，使得通过光斑生成装置一次获得用于测试待测光学元件的激光损伤阈值所需的不同能量和同一能量多个辐照的光斑。本申请提供的光斑生成装置能够一次提供不同能量及同一能量下的多个辐照的光斑，利用该光斑对光学元件的激光损伤阈值进行测试时，一次测量可以得到不同能量和同一能量下的多个辐照的光斑，缩短测试时间，提高测试效率。
光斑生成装置光学元件激光损伤阈值测试方法

[发明专利]一种适用于光学系统装调的空间坐标系对准装置-CN202211241618.8在审
发明人：曾爱军;朱玲琳;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G02B27/30 文献下载
摘要：一种适用于光学系统装调的空间坐标系对准装置，用于光学系统中两个光学模块装调时的空间坐标系的对准，包括：XY对准器、角锥镜、RXY对准器、RZ对准器；XY对准器位于角锥镜的斜边的入射光束一侧，RXY对准器位于角锥镜的斜边的出射光束一侧；光束射入XY对准器以判定两个光学模块是否发生X方向偏移或/和Y方向偏移；经角锥镜反射后的出射光束射入RXY对准器以判定两个光学模块是否发生X方向旋转或/和Y方向旋转；该出射光束射入RZ对准器以判定两个光学模块是否发生Z方向旋转。空间坐标系对准装置结构精简、操作简单，能够对光学系统中两个光学模块装调时的空间坐标系从五个自由度进行对准，且空间坐标系在对准过程中的对准效果清晰直观。
一种适用于光学系统空间坐标系对准装置

[发明专利]一种集成化应力双折射检测装置-CN202211210929.8在审
发明人：朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 -专利权人： 上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01N21/23 文献下载
摘要：一种集成化应力双折射检测装置，包括：激光器、第一保偏光纤、待测样品、全光纤结构可调波片、第二保偏光纤、光电探测器、控制器；激光器、第一保偏光纤、待测样品、全光纤结构可调波片、第二保偏光纤、光电探测器依次按序设置；控制器用于控制激光器发射激光，控制第一保偏光纤和第二保偏光纤移动至待测样品的测试点，控制全光纤结构可调波片的快轴角与第二保偏光纤的光轴夹角为四个预设角度，获取相应预设角度下的光电探测器上所对应的光强，通过四步相移法计算测试点的相位延迟量和快轴角。本申请提供的集成化应力双折射检测装置，可以实现实时的应力双折射测量，为退火工作提供反馈。
一种集成化应力双折射检测装置