[发明专利]一种错误数据调试方法、装置、芯片及计算机设备有效
申请号: | 202110669106.0 | 申请日: | 2021-06-17 |
公开(公告)号: | CN113127285B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 乔文 | 申请(专利权)人: | 北京燧原智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/263 | 分类号: | G06F11/263 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 错误 数据 调试 方法 装置 芯片 计算机 设备 | ||
本发明公开了一种错误数据调试方法、装置、芯片及计算机设备,所述方法应用于芯片中,包括:在写入的多条待执行的操作指令中,依次获取一条操作指令为当前操作指令,并运行当前操作指令;在对当前操作指令的运行过程中,对与当前操作指令关联的传输数据进行正确性校验;如果与当前操作指令关联的传输数据发生错误,则停止对后续操作指令的执行,并在确定满足中断信号条件时,将中断信号发送至指令配置设备,以使指令配置设备根据中断信号,确定传输数据的错误类型,并采用与错误类型匹配的调试策略,对芯片进行调试。本发明实施例的技术方案可以提高芯片中错误数据的调试效率,提高芯片对多个操作指令的运行效率。
技术领域
本发明实施例涉及计算机技术领域,尤其涉及一种错误数据调试方法、装置、芯片及计算机设备。
背景技术
芯片在启动运行之前,都需要通过软件系统配置操作指令,软件系统将操作指令配置完成并写入芯片后,芯片开始逐条运行操作指令。芯片在对操作指令的运行过程中,短暂的外部环境或芯片内部的影响(例如芯片内部电压不稳定、外部环境出现强磁场、温度变化以及设备晃动等)容易造成运行过程中传输数据出现错误,比如数据通路上出现一些位数据意外翻转、静态随机存取存储器 (Static Random Access Memory,SRAM)读出数据出现错误等。
现有的芯片在运行过程中,如果发现在操作指令的执行过程中,数据的传输发生错误,则将中断信号上报至软件系统。但是,由于芯片在检测到错误数据后仍在运行后续指令,并且中断信号会有传输时延,在软件系统接收到中断信号后,芯片中发生错误的数据可能已经在后续的指令中进行传播,芯片内出现错误的现场被破坏(或者只能记录有限的错误现场信息)。
在这种情况下,软件系统通常是对芯片进行初始化操作,为芯片重新配置操作指令,并控制芯片启动运行。在这种处理方式下,芯片在检测到错误数据之前的运行过程就存在浪费,并且当数据发生错误的频率较高时,初始化操作会降低芯片对操作指令的运行效率。
发明内容
本发明实施例提供一种错误数据调试方法、装置、芯片及计算机设备,提高芯片中错误数据的调试效率,提高芯片对多个操作指令的运行效率。
第一方面,本发明实施例提供了一种错误数据调试方法,应用于芯片中,所述芯片中的操作指令由指令配置设备写入,所述方法包括:
在写入的多条待执行的操作指令中,依次获取一条操作指令为当前操作指令,并运行所述当前操作指令;
在对所述当前操作指令的运行过程中,对与所述当前操作指令关联的传输数据进行正确性校验;
如果与所述当前操作指令关联的传输数据发生错误,则停止对后续操作指令的执行,并在确定满足中断信号条件时,将中断信号发送至指令配置设备,以使所述指令配置设备根据所述中断信号,确定所述传输数据的错误类型,并采用与所述错误类型匹配的调试策略,对所述芯片进行调试。
第二方面,本发明实施例还提供了一种错误数据调试方法,应用于指令配置设备中,所述指令配置设备用于将操作指令写入芯片中,该方法包括:
在接收到芯片发送的中断信号后,读取所述芯片中传输数据发生错误时对应的目标操作指令,以及与所述目标操作指令关联的芯片状态信息;
根据与所述目标操作指令关联的芯片状态信息,确定所述传输数据的错误类型,并采用与所述错误类型匹配的调试策略,对所述芯片进行调试。
第三方面,本发明实施例还提供了一种错误数据调试装置,应用芯片中,所述芯片中的操作指令由指令配置设备写入,该装置包括:
指令运行模块,用于在写入的多条待执行的操作指令中,依次获取一条操作指令为当前操作指令,并运行所述当前操作指令;
校验模块,用于在对所述当前操作指令的运行过程中,对与所述当前操作指令关联的传输数据进行正确性校验;
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