[发明专利]制作成像板的方法及成像板在审
申请号: | 202110589021.1 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113327844A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 张云雪;宋丹;何玉国;黄安琳 | 申请(专利权)人: | 宁波市知行光学科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/033 | 分类号: | H01L21/033;G03F7/00 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 钟扬飞 |
地址: | 315400 浙江省宁波市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制作 成像 方法 | ||
1.一种制作成像板的方法,其特征在于,包括:
在基板上进行旋涂光刻胶,形成光刻胶层;
对所述光刻胶层进行曝光显影,形成光刻板的反向图案;
在所述反向图案上镀膜,形成遮挡膜层;
将镀有所述遮挡膜层的所述基板放入预设溶液中,对所述光刻胶进行溶解,得到与所述光刻板具备相同图案的成像板。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述反向图案上镀膜,形成遮挡膜层之前,还包括:
在所述反向图案的表面上进行镀膜,形成过渡膜层。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在将镀有所述遮挡膜层膜后的所述基板放入预设溶液中,对所述光刻胶进行溶解,得到红外成像板之前,还包括:
在所述遮挡膜层上镀膜,形成保护膜层。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设溶液为去胶溶液或丙酮溶液。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述过渡膜层的材料为Cr,所述过渡膜层的厚度范围为10nm-20nm。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述遮挡膜层的材料为Ag或Al,所述遮挡膜层的厚度大于500nm。
7.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述保护膜层的材料为TiO2、SiO2、Al2O3中的一种或多种,所述保护膜层的厚度范围为10nm-50nm。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述镀膜的方法为蒸发镀膜或者溅射镀膜。
9.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述光刻胶层的厚度大于所述过渡膜层的厚度、所述遮挡膜层的厚度和所述保护膜层的厚度之和。
10.一种成像板,其特征在于,包括:
基板;
过渡膜层,形成于所述基板上;
遮挡膜层,形成于所述过渡膜层上;以及
保护膜层,形成于所述遮挡膜层上;
其中,所述过渡膜层和所述遮挡膜层上形成有预定图案。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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