[发明专利]一种石墨烯铜靶材及其制备方法在审
申请号: | 202110362809.9 | 申请日: | 2021-04-02 |
公开(公告)号: | CN113106401A | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 李刚;张承平 | 申请(专利权)人: | 苏州高松野冈石墨烯新材料有限公司 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C23C14/14 |
代理公司: | 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 | 代理人: | 李改平 |
地址: | 215000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 石墨 烯铜靶材 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了一种石墨烯铜靶材及其制备方法,具体涉及靶材技术领域,包括靶材组件,所述靶材组件包括外包铜背板和石墨烯铜靶材主体,所述外包铜背板内部开设有凹槽,所述石墨烯铜靶材主体外壁设置有石墨烯镀层,所述外包铜背板和石墨烯铜靶材主体之间焊接连接,所述凹槽的内廓面积与石墨烯铜靶材主体的外廓面积相同。该石墨烯铜靶材及其制备方法,可以使得铜靶材的结构和光电性能得到有效的调节,有效的提高了铜靶材的性能,保证铜靶材的可靠性和抗干扰性等性能,提升靶材的高导电及高温抗应力,强度高,并且性能稳定,同时制备方法简单,成本低廉,方法简单,可用于大规模生产。
技术领域
本发明涉及靶材技术领域,更具体地说,本发明涉及一种石墨烯铜靶材及其制备方法及其制备方法。
背景技术
半导体行业常会见到一个词,靶材,半导体材料可以分为晶圆材料和封装材料,封装材料相较于晶圆制造材料来说技术壁垒相对较低。溅射技术是半导体制造领域的常用工艺之一,随着溅射技术的日益发展,溅射靶材在溅射技术中起到了越来越重要的作用,溅射靶材的质量直接影响到了溅射后的成膜质量。
在所有应用产业中,半导体产业对靶材溅射薄膜的品质要求是最苛刻的。现有的纯铜靶材存在电迁移、易氧化、抗软化温度低、耐热性能差、强度低等问题,限制了其发展,为此,急需开发一种石墨烯铜靶材。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺陷,本发明的实施例提供一种石墨烯铜靶材及其制备方法及其制备方法,本发明所要解决的技术问题是:现有的纯铜靶材存在电迁移、易氧化、抗软化温度低、耐热性能差、强度低等问题,限制了其发展,为此,急需开发一种石墨烯铜靶材。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种石墨烯铜靶材,包括靶材组件,所述靶材组件包括外包铜背板和石墨烯铜靶材主体,所述外包铜背板内部开设有凹槽,所述石墨烯铜靶材主体外壁设置有石墨烯镀层。
在一个优选的实施方式中,所述外包铜背板和石墨烯铜靶材主体之间焊接连接。
在一个优选的实施方式中,所述凹槽的内廓面积与石墨烯铜靶材主体的外廓面积相同。
一种石墨烯铜靶材及其制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、制备石墨烯铜靶材主体,将高纯石墨烯和铜粉粉末为原料,石墨烯的质量含量为0.05~2.5%,并将石墨烯和铜粉粉末放置于V型混拌机混合均匀,然后将混合均匀后的石墨烯和铜粉混合物置于真空热压机的模具中,通过热压机将模具中抽至真空,然后通入氩气,随后通过压杆热压成石墨烯铜靶材胚体;
S2、将所述步骤S1中得到的石墨烯铜靶材胚体进行机加工,并在石墨烯铜靶材胚体外壁溅射镀上石墨烯镀层,得到石墨烯铜靶材;
S3、准备外包铜背板,并对外包铜背板内部的凹槽的尺寸进行检测,保证石墨烯铜靶材能够刚好放置在外包铜背板的凹槽内部;
S4、将所述步骤S2中得到得到石墨烯铜靶材放置在外包铜背板的凹槽内部;
S5、将外包铜背板和石墨烯铜靶材主体之间进行扩散焊接。
在一个优选的实施方式中,所述步骤S1中,V型混拌机的转速为150~250r/min。
在一个优选的实施方式中,所述步骤S1中,热压机抽真空至5x10-2torr以下。
在一个优选的实施方式中,所述步骤S1中,通入氩气至0.5atm。
在一个优选的实施方式中,所述步骤S1中,压杆的压力为100~200MPa。
本发明的技术效果和优点:
1、本发明石墨烯铜靶材及其制备方法,可以使得铜靶材的结构和光电性能得到有效的调节,有效的提高了铜靶材的性能,保证铜靶材的可靠性和抗干扰性等性能,提升靶材的高导电及高温抗应力,性能稳定;
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