[发明专利]多线激光雷达光机调校装置及转镜模组的检测方法有效

专利信息
申请号: 202110341726.1 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113030921B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 李进强;李安;林建东;张伟;安国玉;符旭昭;秦屹 申请(专利权)人: 森思泰克河北科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 彭竞驰
地址: 050200 河北省石家庄*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 激光雷达 调校 装置 模组 检测 方法
【说明书】:

发明提供了一种多线激光雷达光机调校装置及转镜模组的检测方法,所述多线激光雷达光机调校装置,包括机械调校组件和光学调校组件:所述机械调校组件包括:光学调校基板、以及分别设置在所述光学调校基板上的俯仰调节平台、第一旋转平台、第二旋转平台、安装板和定位旋转机构;所述光学调校组件包括:测量屏幕、水平仪和棱镜系统;通过调整光斑在所述测量屏幕上的位置以调平所述俯仰调节平台、并以调平的俯仰调节平台为基准调校设置在其上的多线激光雷达光机的模组。本发明提供的多线激光雷达光机调校装置及转镜组装检测方法,通过搭建一个理想的“水平”平台,易于判断转镜模组组装偏差是否在公差范围内。

技术领域

本发明涉及激光雷达技术领域,具体涉及一种多线激光雷达光机调校装置及转镜模组的检测方法。

背景技术

多线激光雷达是激光雷达的一种,是通过多个激光发射器发射多束激光来探测障碍物位置,障碍物方位以及与障碍物之间距离等信息。

目前,多线激光雷达对光学系统和机械系统的调整、校验的要求很高,尤其对调校平台和过程控制精度要求最高。一方面,由于目前调校平台的调节方式及方法较繁琐,搭建相对较理想的“水平状态”较困难。另一方面,目前市场上的激光雷达多要求体积小、精度高,测距远,因此要求设计的雷达转镜的偏角公差为±0.03°甚至更精准的角度,但是常规的检验方法很难准确的检测。

发明内容

因此,本发明要解决的技术问题是提供一种多线激光雷达光机调校装置及转镜模组的检测方法,通过使多线激光雷达调校平台处于一个理想的“水平”状态,进行对转镜模组的组装精度进行检测,从而提高多线激光雷达的精度。

为了实现上述目的,本申请实施例一方面提供了一种多线激光雷达光机调校装置,包括机械调校组件和光学调校组件:

所述机械调校组件包括:光学调校基板,设置在所述光学调校基板上用于支撑水平仪的支架、设置在所述水平仪下方的第一旋转平台、以及设置在所述第一旋转平台一侧的第二旋转平台、设置在第二旋转平台上的俯仰调节平台以及装配在所述俯仰调节平台上的安装板;

所述光学调校组件包括:

测量屏幕;

水平仪,设置在所述支架上,用于向所述测量屏幕发射水平的十字光线、并向所述第一旋转平台发射竖直光束;

棱镜系统,包括至少一个用于设置在所述第一旋转平台上的第一棱镜和至少一个用于设置在所述俯仰调节平台上的第二棱镜,所述水平仪发射的竖直光束依次经所述第一棱镜和第二棱镜在所述测量屏幕上形成光斑;

其中,通过调节所述俯仰调节平台的俯仰角,调整光斑在所述测量屏幕上的位置以调平所述俯仰调节平台、并以调平的俯仰调节平台为基准调校设置在其上的多线激光雷达光机的模组;

所述安装板的一端伸出所述第二旋转平台,在所述安装板的伸出端下方设有定位旋转机构,所述安装板上设有适于所述定位旋转机构上部穿过的避让孔。

本申请实施例提供的多线激光雷达光机调校装置,通过在光学调校基板上设置俯仰调节平台、第一旋转平台、第二旋转平台、定位旋转机构、水平仪和棱镜系统,通过利用棱镜系统反射水平仪的竖直光束在测量屏幕上形成光斑,通过调节俯仰平台可使光斑显示在测量屏幕上的不同位置,从而实现平台调平,并作为其他模组调校的平台。一方面使多线激光雷达调教平台处于一个理想的“水平”状态;另一方面,可为多线激光雷达光机的模组提供一个共同的调校平台,便于模组使用同一平台调校,提高模组的精度。

结合第一方面,在一种可能的实现方式中,所述定位旋转机构包括:

旋转调节台,装配在所述光学调校基板上;

弹性支撑部件,定位装配在所述旋转调节台上,所述弹性支撑部件的自由端穿过所述避让孔,用于与拟调校的转镜模组弹性抵接。

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