[发明专利]模具处理方法、装置、电子设备、系统和存储介质

权利要求书

1.一种模具处理方法，其特征在于，包括：

获取模具的模板图像和实测图像，并根据所述模板图像的嵌件区域确定所述实测图像的嵌件区域；

根据所述模板图像的嵌件区域和所述实测图像的嵌件区域确定嵌件异常区域；

确定所述嵌件异常区域的属性信息；

向校正设备发送所述属性信息，以使得所述校正设备根据所述属性信息对所述模具进行嵌件校正。

2.根据权利要求1所述的模具处理方法，其特征在于，所述获取模具的模板图像和实测图像，包括：

获取原始尺寸的所述模板图像和原始尺寸的所述实测图像；

所述根据所述模板图像的嵌件区域确定所述实测图像的嵌件区域，包括：

将原始尺寸的所述模板图像和原始尺寸的所述实测图像进行缩小处理，得到缩小尺寸的所述模板图像和缩小尺寸的所述实测图像；

将缩小尺寸的所述模板图像的嵌件区域与缩小尺寸的所述实测图像进行匹配，得到缩小尺寸的所述实测图像的嵌件区域。

3.根据权利要求2所述的模具处理方法，其特征在于，所述将原始尺寸的所述模板图像和原始尺寸的所述实测图像进行缩小处理，得到缩小尺寸的所述模板图像和缩小尺寸的所述实测图像，包括：

根据原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域与原始尺寸的所述模板图像的尺寸关系确定缩放因子；

根据所述缩放因子对原始尺寸的所述模板图像进行缩小处理，得到缩小尺寸的所述模板图像，并根据所述缩放因子对原始尺寸的所述实测图像进行缩小处理，得到缩小尺寸的所述实测图像。

4.根据权利要求2所述的模具处理方法，其特征在于，在将原始尺寸的所述模板图像和原始尺寸的所述实测图像进行缩小处理之前，还包括：

确定原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域；

对原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域进行滤波降噪处理。

5.根据权利要求4所述的模具处理方法，其特征在于，所述确定原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域，包括：

获取在原始尺寸的所述模板图像中框选的各个兴趣区域；

将各个所述兴趣区域进行合并处理，得到原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域。

6.根据权利要求3所述的模具处理方法，其特征在于，所述根据所述模板图像的嵌件区域和所述实测图像的嵌件区域确定嵌件异常区域，包括：

根据所述缩放因子对缩小尺寸的所述实测图像的嵌件区域进行尺寸还原处理，得到原始尺寸的所述实测图像的嵌件区域；

根据原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域和原始尺寸的所述实测图像的嵌件区域确定所述嵌件异常区域。

7.根据权利要求6所述的模具处理方法，其特征在于，所述根据原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域和原始尺寸的所述实测图像的嵌件区域确定所述嵌件异常区域，包括：

获取原始尺寸的所述模板图像的嵌件区域和原始尺寸的所述实测图像的嵌件区域的差分图像；

根据预设灰度阈值对所述差分图像进行区域过滤，得到候选区域；

根据所述候选区域确定所述嵌件异常区域。

8.根据权利要求7所述的模具处理方法，其特征在于，所述根据所述候选区域确定所述嵌件异常区域，包括：

根据第一面积阈值对所述候选区域进行区域过滤，得到所述嵌件异常区域。

9.根据权利要求1至8任一所述的模具处理方法，其特征在于，所述确定所述嵌件异常区域的属性信息，包括：

根据第二面积阈值对所述嵌件异常区域进行类型识别，得到所述嵌件异常区域的类型信息；

计算所述嵌件异常区域的中心，得到所述嵌件异常区域的位置信息。

10.根据权利要求9所述的模具处理方法，其特征在于，所述向校正设备发送所述属性信息，包括：

向所述校正设备发送所述嵌件异常区域的类型信息和位置信息。