[发明专利]一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备

说明书

本发明涉及芯片技术领域，且公开一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，包括芯片测验座，所述芯片测验座的内部固定连接有防护座，所述芯片测验座的内部转动连接有驱动座，所述防护座的内部固定连接有芯片卡轨，所述防护座的内部活动连接有压力架，所述压力架的内部活动连接有压力簧，所述压力架的侧表面活动连接有凸形压座，所述防护座的内部且位于凸形压座的侧表面活动连接有第一压缩囊座，所述第一压缩囊座的左右两侧均贯穿有环形管道，所述环形管道的另一端贯穿在第二压缩囊座的内部。在使用时能避免了芯片在检测过程中出现放歪的问题，避免了因为芯片过小而出现检测不良的问题，为工作人员的使用带来了便捷性。

技术领域

本发明涉及芯片技术领域，且公开一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备。

背景技术

随着科技的进步以及智能化的快速推广，芯片已经成为现代工业中必不可少的高科技产品，电子产品的核心技术就是内部的芯片，芯片的生产加工需要一系列的装置，芯片在加工完成后或者出厂之前一般需要进行检测，以测试芯片是否和使用要求。

在芯片加工完成之后常常需要对其检测，以检测芯片是否合格，由于芯片的体积和质量较小，在检测过程中一般都是工作人员自行检测，而且在检测过程中，还有可能会出现芯片偏离位置的现象，影响了芯片的之后的生产，其智能化较低，于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，以期达到更具有更加实用价值性的目的。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，由以下具体技术手段所达成：

一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，包括芯片测验座，所述芯片测验座的内部固定连接有防护座，所述芯片测验座的内部转动连接有驱动座，所述防护座的内部固定连接有芯片卡轨，所述防护座的内部活动连接有压力架，所述压力架的内部活动连接有压力簧，所述压力架的侧表面活动连接有凸形压座，所述防护座的内部且位于凸形压座的侧表面活动连接有第一压缩囊座，所述第一压缩囊座的左右两侧均贯穿有环形管道，所述环形管道的另一端贯穿在第二压缩囊座的内部，所述第二压缩囊座的内部活动连接有形变簧，所述第二压缩囊座的外表面活动连接有推座，所述推座的外表面固定连接有弧形扶板，所述第二压缩囊座的另一侧活动连接有啮合柱，所述防护座的内部固定连接有限位盘，所述限位盘的外表面且位于啮合柱的另一端转动连接有斜轴，所述斜轴的侧表面活动连接有嵌入柱，所述嵌入柱的另一侧固定连接有电性板，所述电性板的外表面固定连接有检测板，所述防护座的外表面固定连接有回收架。

进一步的，所述驱动座的内部转动连接有转轴，所述芯片测验座的内部开设有与驱动座相适配的槽。

进一步的，所述防护座的内部开设有与芯片卡轨相适配的槽，所述防护座的内部开设有与压力架相适配的槽。

进一步的，所述防护座的内部开设有与第一压缩囊座相适配的安装槽，所述第一压缩囊座的内部开设有与环形管道相适配的槽，所述第二压缩囊座的外表面开设有与环形管道相适配的槽。

进一步的，所述弧形扶板的外表面套接有橡胶套，所述弧形扶板设置在芯片卡轨的两侧。

进一步的，所述防护座的内部设置有与啮合柱相适配的限位架，所述限位盘的外表面设置有与斜轴相适配的限位槽。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：