[发明专利]检测器件及其制备方法、光电传感器和显示装置在审

专利信息
申请号: 202110257175.0 申请日: 2021-03-09
公开(公告)号: CN113054051A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 贺家煜;宁策;李正亮;胡合合;黄杰;姚念琦;赵坤 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L31/113 分类号: H01L31/113;H01L31/0352;H01L31/18;G01J1/42
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 魏艳新;姜春咸
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 器件 及其 制备 方法 光电 传感器 显示装置
【说明书】:

发明提供一种检测器件及其制备方法、光电传感器和显示装置,涉及光电检测技术领域,其中,检测器件包括:基底;设置在所述基底上的薄膜晶体管,所述薄膜晶体管包括有源层;设置在所述薄膜晶体管远离所述基底一侧的量子点层,所述量子点层与所述有源层相接触;所述薄膜晶体管配置为,在所述量子点层接收到相应波段的光线时,产生电流信号。本发明的检测器件的灵敏度高,且有利于实现较大的检测光谱范围。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种检测器件及其制备方法、光电传感器和显示装置。

背景技术

光电探测器是一种用于检测光线的传感器,其在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。例如,在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等;在红外波段主要用于导弹制导、红外热成像、红外遥感等方面。

但是,传统的光电探测器存在灵敏度低,且检测光谱范围有限等问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种检测器件及其制备方法、光电传感器和显示装置。

为了实现上述目的,本发明提供一种检测器件,其中,包括:

基底;

设置在所述基底上的薄膜晶体管,所述薄膜晶体管包括有源层;

设置在所述薄膜晶体管远离所述基底一侧的量子点层,所述量子点层与所述有源层相接触;

所述薄膜晶体管配置为,在所述量子点层接收到相应波段的光线时,产生电流信号。

可选地,所述薄膜晶体管包括:

设置在所述基底上的栅极;

覆盖在所述栅极上的栅极绝缘层;

设置在所述栅极绝缘层远离所述基底一侧的源极和漏极;

所述有源层包括源极连接部、漏极连接部和位于所述源极连接部与所述漏极连接部之间的沟道部,所述源极连接部与所述源极连接,所述漏极连接部与所述漏极连接,所述量子点层与所述沟道部接触。

可选地,所述量子点层的厚度在至之间。

可选地,所述有源层的材料包括非晶态氧化物或晶态氧化物。

本发明还提供一种光电传感器,其中,包括:判断模块和至少一个上述的检测器件;

所述判断模块与所述检测器件连接,所述判断模块配置为,根据所述检测器件产生的电流信号,确定所述照射至所述检测器件的光线的波段。

可选地,所述光电传感器包括多个所述检测器件,不同的检测器件在不同波段光线的照射下,产生电流电信号,且不同的所述检测器件所产生的电流大小不同。

可选地,多个所述检测器件包括多个第一检测器件;

所述第一检测器件中的薄膜晶体管的栅极与第一电源端连接,所述第一检测器件中的薄膜晶体管的第一极与第二电源端连接,所述第一检测器件中的薄膜晶体管的第二极与所述判断模块连接;

其中,所述第一电源端的电压小于所述第一检测器件中的所述薄膜晶体管的开启电压。

可选地,多个所述检测器件还包括至少一个第二检测器件,所述第二检测器件中的薄膜晶体管的栅极与所述第一电源端连接,所述第二检测器件中的薄膜晶体管的第一极与所述第二电源端连接,所述第二检测器件中的薄膜晶体管的第二极与所述判断模块连接;其中,所述第一电源端的电压小于所述第二检测器件中的薄膜晶体管的开启电压;

所述光电传感器还包括选通模块,所述选通模块连接在多个所述第一检测器件和所述判断模块之间,所述选通模块配置为,响应于控制信号,控制所述多个第一检测器件与所述判断模块导通或断开。

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