[发明专利]同位素分段压裂示踪技术

权利要求书

1.一种同位素分段压裂示踪技术，其特征在于：包括以下施工步骤：

S1：施工设计，制定测试实施方案，选择所需的同位素示踪剂种类，根据井组的井距、储层厚度、孔隙度、含水率、连通系数及仪器、最低检测限等资料，按下列步骤及公式计算出使用的同位素示踪剂用量：

首先，计算注入地层的最大稀释体积：

Vp = A·H·Sw·η，

其次，计算示踪剂的投加量：

Q＝μ·MDL·Vp；

S2：现场施工，压裂施工时，可以从混砂车加入示踪剂，不同的层段加入不同的示踪剂，现场根据不同的施工排量均匀调整注入速度，也可以在配好的压裂液中加入示踪剂，不同的储层要使用含有不同示踪剂的压裂液；

S3：样品采集，在压裂液返排期间，在排液管线出口（井口）连续跟踪取样、监测，直到返排结束，取样要求见下表：

；

S4：样品处理，采集到的油水样品进行过滤，收集到的滤液需达到清澈、透明的程度，取定5ml滤液加入10ml闪烁液摇匀、静置，在暗室环境避光24小时待测；

S5：样品检测，采用液体闪烁分析仪对同位素元素样品进行示踪剂浓度检测，得到示踪剂浓度曲线；

S6：分析解释，数据、曲线综合分析处理，综合解释与评价，示踪剂产出曲线解释原则：有几个峰值就有几个大孔道，但有几个大孔道不一定有几个峰值，因为几个大孔道可同时出现示踪剂，在同一注水孔注1次示踪剂的情况下，同1个大孔道不会出现2个或更多的峰值。

2.根据权利要求1所述的同位素分段压裂示踪技术，其特征在于：所述最大稀释体积公式中：Vp-最大稀释体积，m3；A-波及面积，m2；H-注入井有效厚度，m；Sw-砂层含水饱和度，％；η—波及效率，％。

3.根据权利要求1所述的同位素分段压裂示踪技术，其特征在于：所述投加量公式中：Q-μ示踪剂用量，居里；μ-保障系数；MDL-仪器最低检测限。

4.根据权利要求1所述的同位素分段压裂示踪技术，其特征在于：所述同位素示踪剂有C¹⁴、P³²、H³、I¹²⁵、S³⁵等，所述示踪剂具备以下条件：

1）与压裂液具有较高的相容性，对压裂液的性能无影响；

2）极高的检测极限，可达0.01Bq/L；

3）具有长期的化学稳定性和热稳定性；

4）在岩石表面无吸附或在井筒周围无吸附；

5）同油藏流体无化学反应且无元素交换。