[发明专利]一种数控机床热传递测量方法、装置、存储介质及设备

权利要求书

1.一种数控机床热传递测量方法，所述方法包括：

获取预设的测量控制参数，所述预设的测量控制参数包括预设条件、预设间隔；其中，所述预设条件包括:预设时长和预设温升中至少一种；

在不覆盖隔热材料的情况下，测量处于工作状态下的待测部件在达到所述预设条件时的第一参数变化值；

在以所述预设间隔覆盖隔热材料的情况下，测量处于工作状态下的待测部件在达到所述预设条件时的第二参数变化值；

在紧密覆盖隔热材料的情况下，测量处于工作状态下的待测部件达到所述预设条件时的第三参数变化值；

根据所述第一参数变化值、所述第二参数变化值和所述第三参数变化值计算得到热传递对所述待测部件的影响值；

其中，所述以所述预设间隔覆盖隔热材料、紧密覆盖隔热材料中覆盖的隔热材料是同一个隔热材料；

所述不覆盖隔热材料情况下，热源与所述待测部件之间的热传递方式仅包括导热、对流换热和热辐射；

所述以所述预设间隔覆盖隔热材料情况下，热源与所述待测部件之间的热传递方式仅包括导热、对流换热；

所述紧密覆盖隔热材料情况下，热源与所述待测部件之间的热传递方式只有导热。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述预设条件为预设时长时，所述第一参数变化值、第二参数变化值、第三参数变化值为达到所述预设时长内上升的温度；

当所述预设条件为预设温升时，所述第一参数变化值、第二参数变化值、第三参数变化值为达到所述预设温升下所用时长。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的测量控制参数还包括预设开始温度，当处于工作状态下的待测部件的温度超过所述预设开始温度时开始测量所述待测部件得到达到所述预设时长内上升的温度和达到所述预设温升下所用时长。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的测量控制参数还包括预设开始时间，当处于工作状态下的待测部件工作时长超过时所述预设开始时间时开始测量所述待测部件得到达到所述预设时长内上升的温度和达到所述预设温升下所用时长。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，在所述隔热材料远离所述待测部件的一侧覆盖隔热性高的材料以提高阻隔所述待测部件热辐射效果。

6.一种数控机床热传递测量装置，其特征在于，所述装置包括：

测量控制参数管理模块，用于存储测量需要的参数；

测量模块，用于获取预设的测量控制参数，所述预设的测量控制参数包括预设条件、预设间隔，在不覆盖隔热材料的情况下测量处于工作状态下的待测部件在达到所述预设条件时的第一参数变化值，在以所述预设间隔覆盖隔热材料的情况下测量处于工作状态下的待测部件在达到所述预设条件时的第二参数变化值，在紧密覆盖隔热材料的情况下测量处于工作状态下的待测部件达到所述预设条件时的第三参数变化值；

热传递的重要性计算模块，用于根据所述第一参数变化值、所述第二参数变化值和所述第三参数变化值计算得到热传递对所述待测部件的影响值；

其中，所述预设条件包括:预设时长和预设温升中至少一种；

所述以所述预设间隔覆盖隔热材料、紧密覆盖隔热材料中覆盖的隔热材料是同一个隔热材料；

所述不覆盖隔热材料情况下，热源与所述待测部件之间的热传递方式仅包括导热、对流换热和热辐射；

所述以所述预设间隔覆盖隔热材料情况下，热源与所述待测部件之间的热传递方式仅包括导热、对流换热；

所述紧密覆盖隔热材料情况下，热源与所述待测部件之间的热传递方式只有导热。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括接触式测温平台，所述接触式测温平台包括接触式测温传感器、控制箱，所述接触式测温传感器安装在所述待测部件上以实现接触式测量所述待测部件的温度，所述控制箱与所述接触式测温传感器电连接以用于接收所述接触式测温传感器测量的模拟信号并且把所述模拟信号转换为数字信号。