[发明专利]包覆荧光体、其制造方法、以及荧光体片和发光装置有效
申请号: | 201880076292.3 | 申请日: | 2018-11-05 |
公开(公告)号: | CN111406100B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 山菅雄大;阿部守晃;八木桥和弘;楠木常夫 | 申请(专利权)人: | 迪睿合株式会社 |
主分类号: | C09K11/08 | 分类号: | C09K11/08;C09K11/62;H01L33/50 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋融冰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 制造 方法 以及 发光 装置 | ||
1.一种包覆荧光体,其特征在于,具有:
无机荧光体颗粒;以及
包覆所述无机荧光体颗粒的氧化硅覆膜,
关于所述包覆荧光体的ICP发光分光分析中的所述氧化硅覆膜的氧原子与硅原子的摩尔比O/Si为2.60以下,并且
其中所述无机荧光体颗粒以下述通式(1)~下述通式(3)中的任一者表示:
Sr1-xGa2S4:Eux···通式(1);
(Sr1-yCay)1-xGa2S4:Eux···通式(2);
(BazSr1-z)1-xGa2S4:Eux···通式(3);
所述通式(1)~所述通式(3)中,x满足0<x<1,y满足0<y<1,z满足0<z<1。
2.根据权利要求1所述的包覆荧光体,其中,
所述氧化硅覆膜的平均厚度为3nm~200nm。
3.根据权利要求1或2所述的包覆荧光体,其中,
所述氧化硅覆膜的氧原子与硅原子的摩尔比O/Si为2.30以上且2.60以下。
4.一种制造根据权利要求1至3中任一项所述的包覆荧光体的方法,其特征在于,具有以下工序:
包覆工序,在无机荧光体颗粒的表面形成氧化硅覆膜,得到包覆荧光体;以及
加热工序,在超过所述氧化硅覆膜的形成温度的温度、且惰性环境下加热所述包覆荧光体。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,
所述加热的温度低于1000℃。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述加热的温度为600℃以上且900℃以下。
7.一种荧光体片,其特征在于,
含有权利要求1~3中任一项所述的包覆荧光体。
8.一种发光装置,其特征在于,
具有权利要求7所述的荧光体片。
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