[发明专利]外观检查装置及外观检查方法在审
申请号: | 201880051640.1 | 申请日: | 2018-07-10 |
公开(公告)号: | CN111033243A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 山田荣二 | 申请(专利权)人: | 日本电产株式会社 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/84 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;李平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外观 检查 装置 方法 | ||
1.一种外观检查装置,其检查工件的外观,该外观检查装置的特征在于,包括:
第一照明部,其对上述工件照射光;
第一拍摄部,其拍摄被上述第一照明部照射的上述工件;
第一检测部,其根据上述第一拍摄部拍摄出的图像检测第一不良;
第二照明部,其对上述工件照射光;
第二拍摄部,其拍摄被上述第二照明部照射的上述工件;以及
第二检测部,其根据上述第二拍摄部拍摄出的图像检测第二不良,
上述第一照明部使用同轴落射照明,
上述第二照明部使用同轴落射照明及穹顶照明。
2.根据权利要求1所述的外观检查装置,其特征在于,
包括使上述工件朝向上述第二照明部上升或下降的升降部,
上述升降部设于上述第二照明部的铅垂方向的下方。
3.根据权利要求1或2所述的外观检查装置,其特征在于,
上述第一照明部及上述第二照明部使用白色光。
4.一种外观检查方法,检查工件的外观,该外观检查方法的特征在于,包括以下工序:
第一照明工序,对上述工件照射光;
第一拍摄工序,拍摄在上述第一照明工序中被照射的上述工件;
第一检测工序,根据在上述第一拍摄工序中拍摄出的图像检测第一不良;
第二照明工序,对上述工件照射光;
第二拍摄工序,拍摄在上述第二照明工序中被照射的上述工件;以及
第二检测工序,根据在上述第二拍摄工序中拍摄出的图像检测第二不良,
在上述第一照明工序中,使用同轴落射照明,
在上述第二照明工序中,使用同轴落射照明及穹顶照明。
5.根据权利要求4所述的外观检查方法,其特征在于,
在上述第二照明工序中,上述工件沿铅垂方向上升或下降。
6.根据权利要求4或5所述的外观检查方法,其特征在于,
在上述第一照明工序及上述第二照明工序中,使用白色光。
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