[发明专利]外观检查装置及外观检查方法在审

专利信息
申请号: 201880051640.1 申请日: 2018-07-10
公开(公告)号: CN111033243A 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 山田荣二 申请(专利权)人: 日本电产株式会社
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/84
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 张敬强;李平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 外观 检查 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种外观检查装置,其检查工件的外观,该外观检查装置的特征在于,包括:

第一照明部,其对上述工件照射光;

第一拍摄部,其拍摄被上述第一照明部照射的上述工件;

第一检测部,其根据上述第一拍摄部拍摄出的图像检测第一不良;

第二照明部,其对上述工件照射光;

第二拍摄部,其拍摄被上述第二照明部照射的上述工件;以及

第二检测部,其根据上述第二拍摄部拍摄出的图像检测第二不良,

上述第一照明部使用同轴落射照明,

上述第二照明部使用同轴落射照明及穹顶照明。

2.根据权利要求1所述的外观检查装置,其特征在于,

包括使上述工件朝向上述第二照明部上升或下降的升降部,

上述升降部设于上述第二照明部的铅垂方向的下方。

3.根据权利要求1或2所述的外观检查装置,其特征在于,

上述第一照明部及上述第二照明部使用白色光。

4.一种外观检查方法,检查工件的外观,该外观检查方法的特征在于,包括以下工序:

第一照明工序,对上述工件照射光;

第一拍摄工序,拍摄在上述第一照明工序中被照射的上述工件;

第一检测工序,根据在上述第一拍摄工序中拍摄出的图像检测第一不良;

第二照明工序,对上述工件照射光;

第二拍摄工序,拍摄在上述第二照明工序中被照射的上述工件;以及

第二检测工序,根据在上述第二拍摄工序中拍摄出的图像检测第二不良,

在上述第一照明工序中,使用同轴落射照明,

在上述第二照明工序中,使用同轴落射照明及穹顶照明。

5.根据权利要求4所述的外观检查方法,其特征在于,

在上述第二照明工序中,上述工件沿铅垂方向上升或下降。

6.根据权利要求4或5所述的外观检查方法,其特征在于,

在上述第一照明工序及上述第二照明工序中,使用白色光。

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