[发明专利]一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法有效
申请号: | 201811451738.4 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN111274661B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 杨龙;吴伟 | 申请(专利权)人: | 北京华航无线电测量研究所 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;H01Q13/10;H01Q21/00;H01Q21/29 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 缝隙 电压 提取 波导 裂缝 天线 低副瓣 设计 方法 | ||
一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,包括:步骤1建立单缝隙波导裂缝模型,通过仿真分析进行缝隙参数提取和曲线拟合,获得单缝特性方程F(g,d)和F(d,l);步骤2根据阵列加权电压U,根据步骤1的特性方程F(g,d)和F(d,l)获得波导裂缝阵列初始缝偏d0、缝长l0;步骤3根据步骤2获得的缝偏d0、缝长l0建立波导缝隙阵列模型,并采用HFSS软件进行仿真分析,提取各缝隙电压,获得阵列缝隙电压分布U1array及方向图性能;步骤4将阵列U1array与U进行对比分析,选取需要修改的缝隙,根据步骤1中特性方程F(g,d)和F(d,l),获得新的缝偏d1、缝长l1,重新计算阵列模型;步骤5重复步骤3和步骤4,直至获得的阵列方向图性能满足设计要求。
技术领域
本发明属于天线技术领域,具体涉及一种低副瓣波导裂缝天线设计方法。
背景技术
现代海战中,舰队作战指挥系统应该具有快速反应能力,以及互联网化、系列化、模块化等特点,这对舰载雷达设备、通信设备的天线系统提出了更高的要求。随着电子信息技术的发展,作战海域的电磁环境越来越复杂,电子干扰威胁越来越严重。双方对电磁控制权的争夺,可以导致无线电电子设备不能正常工作、通信指挥失灵、雷达迷盲、电子制导失控等。随着技术的发展,要求舰载雷达系统能够拥有更强的抗电子干扰、抗反辐射导弹、抗雷达探测、抗高速反舰导弹的低空和超低空打击的能力。
天线阵列天线是解决上述问题的有效的手段之一。为了有效对抗目标,提高雷达抗干扰的能力,都对雷达天线提出了低或超低副瓣阵的要求。目前,极低副瓣天线已经成为高性能电子系统的一个重要组成都分。特别是雷达,在有严重地物和电子干扰环境中有效地工作,必须采用副瓣尽可能低的天线。低或超低副瓣阵列天线是现代雷达的普遍要求,是急需解决的关键技术之一。
对于传统波导裂缝天线,目前主要采用埃里奥特的三个设计公式进行低副瓣设计,但埃里奥特设计公式极易出现求解效率慢、求解成功率低的情况,需要寻求更加简单快捷的传统波导裂缝天线低副瓣设计方法。
发明内容
针对上述问题,本发明提出一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,对波导缝隙电压值进行仿真提取,精确分析各辐射缝隙的电压特性,实现权值分布的精准控制,实现低副瓣波导天线设计。
本发明的技术方案如下:
一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是包括以下步骤:
步骤1、建立单缝隙波导裂缝模型,通过仿真分析进行缝隙参数提取和曲线拟合,获得单缝特性方程F(g,d)和F(d,l),其中g代表单缝谐振导纳,d代表单缝缝偏,l代表单缝缝长;
步骤2、根据阵列加权电压U,根据步骤1的特性方程F(g,d)和F(d,l)获得波导裂缝阵列初始缝偏d0、缝长l0;
步骤3、根据步骤2获得的缝偏d0、缝长l0建立波导缝隙阵列模型,并采用HFSS软件进行仿真分析,提取各缝隙电压,获得阵列缝隙电压分布U1array及方向图性能;
步骤4、将阵列U1array与U进行对比分析,选取需要修改的缝隙,根据步骤1中特性方程F(g,d)和F(d,l),获得新的缝偏d1、缝长l1,重新计算阵列模型;
步骤5、重复步骤3和步骤4,直至获得的阵列方向图性能满足设计要求。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京华航无线电测量研究所,未经北京华航无线电测量研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811451738.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。