[发明专利]一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法有效
申请号: | 201811451738.4 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN111274661B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 杨龙;吴伟 | 申请(专利权)人: | 北京华航无线电测量研究所 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;H01Q13/10;H01Q21/00;H01Q21/29 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 缝隙 电压 提取 波导 裂缝 天线 低副瓣 设计 方法 | ||
1.一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是包括以下步骤:
步骤1、建立单缝隙波导裂缝模型,通过仿真分析进行缝隙参数提取和曲线拟合,获得单缝特性方程F(g,d)和F(d,l),其中g代表单缝谐振导纳,d代表单缝缝偏,l代表单缝缝长;
步骤2、根据阵列加权电压U,根据步骤1的特性方程F(g,d)和F(d,l)获得波导裂缝阵列初始缝偏d0、缝长l0;
步骤3、根据步骤2获得的缝偏d0、缝长l0建立波导缝隙阵列模型,并采用HFSS软件进行仿真分析,提取各缝隙电压,获得阵列缝隙电压分布U1array及方向图性能;
步骤4、将阵列U1array与U进行对比分析,选取需要修改的缝隙,根据步骤1中特性方程F(g,d)和F(d,l),获得新的缝偏d1、缝长l1,重新计算阵列模型;
步骤5、重复步骤3和步骤4,直至获得的阵列方向图性能满足设计要求。
2.如权利要求1所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是步骤1中所述的单缝隙波导裂缝模型通过自动化建模程序获得,通过MATLAB建立单缝模型VBS脚本文件,并利用HFSS软件脚本接口进行调用。
3.如权利要求1所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是步骤1中所述的缝隙参数提取通过MATLAB操控HFSS软件自动导出单缝隙波导裂缝模型参数,并利用MATLAB进行规划处理,提取有用信息,获得谐振状态下缝隙导纳矩阵G、缝偏矩阵D和缝长矩阵L;所述参数拟合通过MATLAB实现,将导纳矩阵G和缝偏矩阵D进行4阶曲线拟合,获得特性方程F(g,d),将缝偏矩阵D和缝长矩阵L进行4阶曲线拟合,获得特性方程F(d,l),以此建立单缝导纳g、缝偏d和缝长l之间的数学关系。
4.如权利要求1所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是步骤2中所述阵列加权电压U根据实际设计要求获得。
5.如权利要求4所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是所述的阵列加权电压U采用泰勒加权或切比雪夫加权方法获得。
6.如权利要求1所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是步骤2中所述波导裂缝阵列初始缝偏d0、缝长l0通过下述方法获得:
1)求单条辐射波导的功率分配值:
即馈电波导的馈电缝功率分配值;
2)求每个辐射缝的功率分配值:
式中:
n—为辐射波导上的辐射缝数;
m—为波导根数;
fij—为加权电压U对应函数值
3)每个辐射缝的功率分配值Pij即为每个缝隙的谐振导纳gij,通过步骤1所述特性方程F(g,d)和F(d,l)即可获得初始缝偏d0、缝长l0。
7.如权利要求1所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是步骤3中所述波导缝隙阵列模型通过自动化建模程序获得,通过MATLAB建立阵列模型VBS脚本文件,并利用HFSS软件脚本接口进行调用。
8.如权利要求1所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是步骤3中所述阵列缝隙电压分布U1array通过在HFSS仿真软件中对缝隙中心进行线积分获得。
9.如权利要求1所述的一种基于缝隙电压提取的波导裂缝天线低副瓣设计方法,其特征是步骤4中所述缝偏d1、缝长l1获得过程如下所述:
1)通过对比U1array与U,选出与加权阵列U偏离较大的缝隙位置;
2)将选中的缝隙按照特性方程F(g,d)的变化规律进行调整,即若U1array中数值相对于U过大,则将原辐射缝的功率分配值Pij调小,并利用步骤3所述方法重新计算缝偏和缝长。
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