[发明专利]一种ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法及封装结构有效

专利信息
申请号: 201711443990.6 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108172663B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 陈星;刘可为;李炳辉;张振中;申德振 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/02;H01L31/0203;H01L31/09
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 李婷婷;王宝筠
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 紫外探测器 日盲 封装结构 封装 芯片 针脚 金属丝 环氧树脂 实验室测试 叉指电极 即插即用 芯片固定 性能参数 封装胶 可透过 未封装 紫外线 底座 裸露 暴露 申请
【权利要求书】:

1.一种ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法,其特征在于,包括:

提供底座、ZnMgO日盲紫外探测器芯片、两根金属丝、环氧树脂和封装胶,所述底座包括相对设置的第一表面和第二表面,以及连接所述第一表面和所述第二表面的侧面;所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片包括衬底、ZnMgO层、叉指电极结构和两个铟粒;所述封装胶为可透过紫外线的封装胶;

将所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片固定在所述底座的第一表面;

在所述底座上制作贯穿所述侧面和所述第一表面的通孔,所述通孔包括第一孔和第二孔,且所述第一孔的轴线和所述第二孔的轴线相互垂直;

将两根所述金属丝穿过所述通孔,所述金属丝的第一端凸出于所述第一表面,所述金属丝的第二端凸出于所述侧面;

将两根所述金属丝的第一端的端部分别连接至一个所述铟粒,所述金属丝的第二端作为所述ZnMgO日盲紫外探测器的针脚,其中,所述金属丝的第一端的非端部架空在所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片和所述底座的上方;

在所述金属丝的第一端的非端部处点所述环氧树脂,所述环氧树脂覆盖位于所述第一表面背离所述第二表面一侧的金属丝、以及所述第一表面上的通孔口;

采用所述封装胶覆盖所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片的叉指电极结构的叉指电极。

2.根据权利要求1所述的ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法,其特征在于,所述在所述底座上制作贯穿所述侧面和所述第一表面的通孔,具体包括:

使用钻头在所述底座上的第一表面打出两个第一孔,所述第一孔的轴线垂直于所述第一表面;

使用钻头在所述底座的侧面打出两个第二孔,所述第二孔的轴线垂直于所述侧面;

且所述两个第二孔与所述两个第一孔一一对应连通,形成两个通孔。

3.根据权利要求2所述的ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法,其特征在于,所述将两根所述金属丝穿过所述通孔,具体包括:

将一根所述金属丝穿过一个所述第一孔与所述第二孔连通的通孔;

将另一根所述金属丝穿过另一个所述第一孔与所述第二孔连通的通孔。

4.根据权利要求2所述的ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法,其特征在于,所述将两根所述金属丝的第一端的端部分别连接至一个所述铟粒,具体包括:

分别将一根所述金属丝的第一端的端部按压至一个所述铟粒上,所述金属丝的第一端的非端部位置架空在所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片和所述底座的上方;

使用导电胶点在所述金属丝与所述铟粒的接触位置;

将所述底座、所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片、两根所述金属丝和所述导电胶放置在烘箱中,采用50℃-200℃的温度烘烤2小时-48小时,包括端点值。

5.根据权利要求2所述的ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法,其特征在于,所述采用所述封装胶覆盖所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片的叉指电极结构的叉指电极,具体包括:

在所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片的叉指区域涂抹所述封装胶;

放置在烘箱中,采用50℃-200℃的温度烘烤2小时-48小时,包括端点值。

6.根据权利要求2所述的ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法,其特征在于,所述将所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片固定在所述底座的第一表面,具体包括:

采用胶合剂将所述ZnMgO日盲紫外探测器芯片粘在所述底座的第一表面。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的ZnMgO日盲紫外探测器的封装方法,其特征在于,所述提供衬底和ZnMgO日盲紫外探测器芯片中,提供ZnMgO日盲紫外探测器芯片具体包括:

提供衬底;

在所述衬底的一个表面外延生长一层ZnMgO;

蒸镀金属电极;

光刻所述金属电极,形成两个叉指电极结构,所述叉指电极结构包括多个平行排列的叉指电极和与所述叉指电极垂直,并连接多个所述叉指电极的连接部;

在两个所述叉指电极结构的连接部上分别制作形成一个铟粒。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711443990.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top