[发明专利]一种贴片电容结构及其性能检测方法

说明书

本发明公开了一种贴片电容结构及其性能检测方法，包括一电容坯体及包裹于电容坯体外的外电极端，所述电容坯体包括复数个陶瓷介质膜片叠加构成，上下相邻陶瓷介质膜片错位分布，其特征在于：所述每一陶瓷介质膜片上印刷有电极层，该电极层包括覆盖于陶瓷介质膜片上的内电极层，以及突出于所述陶瓷介质膜片两侧长度方向边缘上的翼型电极层，所述翼型电极层包裹于所述外电极端的金属片内；所述电容坯体制作步骤包括：⑴陶瓷介质膜片的制作；⑵丝网印刷和叠加；(3)切割；⑷电极检测，测量翼型电极层与电容坯体的边缘之间的距离，以此数据判断电容坯体的合格与否。本发明通过利用外露的翼型电极层，实现了直接检查，避免因破坏性检查而造成的损失。

技术领域

本发明涉及一种贴片电容制程技术，尤其涉及一种贴片电容结构及其性能检测方法。

背景技术

贴片电容是一种电容材质。贴片电容全称为：多层(积层，叠层)片式陶瓷电容器，也称为贴片电容，片容，由印好电极(内电极)的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合起来，经一次高温烧结形成陶瓷芯片，再在芯片的两端封上金属层(外电极)，形成一个类似独石的结构体，也称“独石电容器”。

在贴片电容的制造过程中，内电极的生成，目前采用的是丝网印刷的方式，电极油墨(由金属粉末混合溶剂和陶瓷材料形成)印刷在陶瓷介质膜片上，而后是叠层(将印刷好电极的陶瓷介质膜片依照容值的不同叠加起来，形成电容坯体版)和层压，结合紧密的坯体版需要通过切割成为单体的坯体。在此过程中，需要对切割成颗粒的坯体进行内部电极相对位置进行检查，检查的方向分宽和长两个方向。

然而检查时，宽方向可以直接从产品颗粒外部观测到，如图4所示，长方向的内部电极被交错包含在陶瓷体内部，只能通过破坏性检查观测到，如图5透视所示。检查电极的宽方向W和长方向L是核心项目，如图6所示，距离过小会使陶瓷电容耐电压能力降低。目前采用的破坏性检查一方面造成产品的损失，另一方面破坏性检查需要切断产品做检查，花费时间影响作业效率。

发明内容

本发明目的是提供一种贴片电容结构及其性能检测方法，通过结构及制作方法的改良，避免对产品的破坏，可直接从产品外部观测到，检测更为方便，提高作业效率，降低生产成本。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种贴片电容结构，包括一电容坯体及包裹于电容坯体外的外电极端，所述电容坯体包括复数个陶瓷介质膜片叠加构成，上下相邻陶瓷介质膜片错位分布，所述每一陶瓷介质膜片上印刷有电极层，该电极层包括覆盖于陶瓷介质膜片上的内电极层，以及突出于所述陶瓷介质膜片两侧长度方向边缘上的翼型电极层，所述翼型电极层包裹于所述外电极端的金属片内。

上述技术方案中，所述翼型电极层位于所述电容坯体四个边角处。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种贴片电容的性能检测方法，包括电容坯体制作及外电极端制作两部分，所述电容坯体制作步骤包括：

⑴陶瓷介质膜片的制作；

⑵丝网印刷和叠加；

(3)切割；

⑷电极检测；

其中，所述丝网印刷过程中，在陶瓷介质膜片两侧长度方向的边缘上印刷获得翼型电极层，所述翼型电极层突出于所述陶瓷介质膜片外，且位于长度方向侧边的中点位置上；所述切割时，沿所述翼型电极层切割，使得切割完成后的所述电容坯体四个边角上分别留有所述翼型电极层；所述步骤⑷电极检测中，根据测量所述翼型电极层与所述电容坯体的边缘之间的距离，计算获得该电容坯体内部电极的长偏和宽偏数据，以此数据判断电容坯体的合格与否。