[发明专利]一种集成电路芯片及其保护方法、装置

权利要求书

1.一种集成电路芯片的保护方法，其特征在于，包括：

在所述集成电路芯片首次开始工作时，检测所述集成电路芯片的运行频率，作为所述集成电路芯片的初始运行频率；

实时检测所述集成电路芯片的运行频率，作为所述集成电路芯片的当前运行频率；

根据实时检测得到的所述集成电路芯片的当前运行频率、初始运行频率及预设的劣化系数，判断所述集成电路芯片是否将会因劣化而停止工作；

当确定所述集成电路芯片将会因劣化而停止工作时，输出劣化警告信号，且停止所述集成电路芯片的运行；

所述根据实时检测得到的所述集成电路芯片的当前运行频率、初始运行频率及预设的劣化系数，判断所述集成电路芯片是否将会因劣化而停止工作，包括：

比较所述集成电路芯片的初始运行频率和所述劣化系数的乘积与所述集成电路芯片的当前运行频率；

当所述集成电路芯片的当前运行频率小于所述集成电路芯片的初始运行频率和所述劣化系数的乘积时，确定所述集成电路芯片将会因劣化而停止工作。

2.如权利要求1所述的集成电路芯片的保护方法，其特征在于，所述劣化系数与所述集成电路芯片的制造工艺及所述集成电路芯片的运行频率裕量有关。

3.如权利要求1所述的集成电路芯片的保护方法，其特征在于，所述检测所述集成电路芯片的运行频率，包括：

检测为所述集成电路芯片提供时钟信号的振荡器的频率，并将所述振荡器的频率作为所述集成电路芯片的运行频率。

4.如权利要求3所述的集成电路芯片的保护方法，其特征在于，还包括：控制所述振荡器的劣化速度大于所述集成电路芯片的主电路部分的劣化速度。

5.如权利要求4所述的集成电路芯片的保护方法，其特征在于，所述控制所述振荡器的劣化速度大于所述集成电路芯片的主电路部分的劣化速度，包括：

控制所述振荡器的供电电压高于所述集成电路芯片的主电路部分的电压。

6.一种集成电路芯片的保护装置，其特征在于，包括：

检测单元，适于在所述集成电路芯片首次开始工作时，检测所述集成电路芯片的运行频率，作为所述集成电路芯片的初始运行频率；实时检测所述集成电路芯片的运行频率，作为所述集成电路芯片的当前运行频率；

存储单元，适于存储所述集成电路芯片的初始运行频率；

比较单元，适于根据实时检测得到的所述集成电路芯片的当前运行频率、初始运行频率及预设的劣化系数，判断所述集成电路芯片是否将会因劣化而停止工作；

控制单元，适于当确定所述集成电路芯片将会因劣化而停止工作时，输出劣化警告信号，且停止所述集成电路芯片的运行；所述比较单元，包括：

计算子单元，适于计算所述集成电路芯片的初始运行频率和所述劣化系数的乘积；

比较子单元，适于比较所述集成电路芯片的初始运行频率和所述劣化系数的乘积与所述集成电路芯片的当前运行频率；

确定子单元，适于当所述集成电路芯片的当前运行频率小于所述集成电路芯片的初始运行频率和所述劣化系数的乘积时，确定所述集成电路芯片将会因劣化而停止工作。

7.如权利要求6所述的集成电路芯片的保护装置，其特征在于，所述劣化系数与所述集成电路芯片的制造工艺及所述集成电路芯片的运行频率裕量有关。

8.如权利要求6所述的集成电路芯片的保护装置，其特征在于，所述检测单元，适于检测为所述集成电路芯片提供时钟信号的振荡器的频率，并将所述振荡器的频率作为所述集成电路芯片的运行频率。

9.如权利要求8所述的集成电路芯片的保护装置，其特征在于，所述控制单元还适于控制所述振荡器的劣化速度大于所述集成电路芯片的主电路部分的劣化速度。

10.如权利要求9所述的集成电路芯片的保护装置，其特征在于，所述控制单元适于控制所述振荡器的供电电压高于所述集成电路芯片的主电路部分的电压。