[发明专利]曝光设备及曝光方法有效

专利信息
申请号: 201611179593.8 申请日: 2016-12-19
公开(公告)号: CN106527055B 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 朱美娜 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所44265 代理人: 林才桂
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 曝光 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种曝光设备,其特征在于,包括一掩膜板(110)、设于所述掩膜板(110)左侧下方的第一平台(121)、设于所述掩膜板(110)右侧下方的第二平台(122)、设于所述掩膜板(110)右侧上方的第一光源(131)、及设于所述掩膜板(110)左侧上方的第二光源(132);

所述第一平台(121)、第二平台(122)均用于承载基板(200);

所述第一光源(131)射出的光线穿过所述掩膜板(110)射到所述第一平台(121);

所述第二光源(132)射出的光线穿过所述掩膜板(110)射到所述第二平台(122)。

2.如权利要求1所述的曝光设备,其特征在于,所述掩膜板(110)为水平设置;所述第一平台(121)、第二平台(122)均为相对水平面倾斜设置;

所述第一平台(121)的上表面面向第一光源(131),所述第二平台(122)的上表面面向第二光源(132)。

3.如权利要求2所述的曝光设备,其特征在于,所述第一光源(131)与第二光源(132)射出的光线均为平行光线;

所述第一光源(131)射出的光线从所述掩膜板(110)的上方倾斜射到所述掩膜板(110)的上表面,穿过所述掩膜板(110)垂直射到所述第一平台(121);

所述第二光源(132)射出的光线从所述掩膜板(110)的上方倾斜射到所述掩膜板(110)的上表面,穿过所述掩膜板(110)垂直射到所述第二平台(122)。

4.如权利要求3所述的曝光设备,其特征在于,所述第一平台(121)与第二平台(122)为左右对称设置;所述第一光源(131)与第二光源(132)为左右对称设置;

所述第一光源(131)射出的光线从所述掩膜板(110)的上方以入射角为θ1入射到所述掩膜板(110)的上表面,所述第二光源(132)射出的光线从所述掩膜板(110)的上方以入射角为θ2入射到所述掩膜板(110)的上表面,其中,θ1等于θ2。

5.如权利要求1所述的曝光设备,其特征在于,还包括容纳所述掩膜板(110)、第一平台(121)、第二平台(122)、第一光源(131)、及第二光源(132)的曝光腔。

6.一种曝光方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1、提供曝光设备、及两个基板(200),所述曝光设备包括一掩膜板(110)、设于所述掩膜板(110)左侧下方的第一平台(121)、设于所述掩膜板(110)右侧下方的第二平台(122)、设于所述掩膜板(110)右侧上方的第一光源(131)、及设于所述掩膜板(110)左侧上方的第二光源(132);将两个基板(200)分别放置于第一平台(121)、第二平台(122)上;

步骤2、开启第一光源(131)与第二光源(132),所述第一光源(131)射出的光线穿过所述掩膜板(110)射到放置于所述第一平台(121)上的基板(200)上;所述第二光源(132)射出的光线穿过所述掩膜板(110)射到放置于所述第二平台(122)上的基板(200)上。

7.如权利要求6所述的曝光方法,其特征在于,所述掩膜板(110)为水平设置;所述第一平台(121)、第二平台(122)均为相对水平面倾斜设置;

所述第一平台(121)的上表面面向第一光源(131),所述第二平台(122)的上表面面向第二光源(132)。

8.如权利要求7所述的曝光方法,其特征在于,所述步骤2中,所述第一光源(131)与第二光源(132)射出的光线均为平行光线;

所述第一光源(131)射出的光线从所述掩膜板(110)的上方倾斜射到所述掩膜板(110)的上表面,穿过所述掩膜板(110)垂直射到放置于所述第一平台(121)上的基板(200)上;

所述第二光源(132)射出的光线从所述掩膜板(110)的上方倾斜射到所述掩膜板(110)的上表面,穿过所述掩膜板(110)垂直射到放置于所述第二平台(122)上的基板(200)上。

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