[发明专利]太赫兹单频点下抑制目标厚度影响的二维孔径成像算法有效
申请号: | 201610727400.1 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106405571B | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 叶阳阳;丁丽;丁茜;朱亦鸣 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01S17/89 | 分类号: | G01S17/89 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 赫兹 单频点下 抑制 目标 厚度 影响 二维 孔径 成像 算法 | ||
【说明书】:
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