[实用新型]一种原子力/荧光共定位显微成像系统有效

专利信息
申请号: 201520940305.0 申请日: 2015-11-23
公开(公告)号: CN205193097U 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: 吴宗斌 申请(专利权)人: 大连光耀辉科技有限公司
主分类号: G01Q60/06 分类号: G01Q60/06
代理公司: 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 代理人: 王惠;李颖
地址: 116000 辽宁省大连市高新*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 原子 荧光 定位 显微 成像 系统
【说明书】:

技术领域

本申请涉及一种原子力显微装置和荧光显微装置共定位成像系统。

背景技术

针对现有荧光显微镜和原子力显微镜联用技术和商品化产品的缺失,以及荧光成像的仪器普适性差、采样速度慢、只能对平面清晰成像和原子力显微镜缺乏多组份识别功能和探测样品内部信息功能等的主要不足,结合荧光显微镜和原子力显微镜的技术特点,搭建了联用系统。

本申请通过软件控制可以实现荧光显微镜图像和AFM图像的同步数据采集、图像共定位、图像后续处理和输出,构建了功能完整的快速成像系统。

实用新型内容

本申请提供了一种原子力/荧光共定位显微成像系统,通过将荧光显微成像技术与原子力显微成像法技术联用,建立了功能完整的快速成像系统。该系统克服了荧光成像普适性差、采样速度慢、只能对平面清晰成像,以及原子力显微镜缺乏多组份识别功能和探测样品内部信息功能的缺点。

所述原子力/荧光共定位显微成像系统,其特征在于,至少包括控制及信息整合系统、原子力显微装置、激光光源装置、荧光显微装置和联用平台;

所述联用平台与原子力显微装置相连,控制原子力显微装置的位置和角度;

所述控制及信息整合系统与原子力显微装置、激光光源装置、荧光显微装置和联用平台相连,调节控制原子力显微装置、激光光源装置、荧光显微装置和联用平台,整合荧光显微装置得到的成像信息和原子力显微装置得到的成像信息。

所述激光光源装置提供的光源束进入荧光显微装置,对原子力显微装置中样品承载装置上待测样品的某一位置进行荧光显微成像;同时,原子力显微装置对所述待测样品的同一位置进行原子力显微成像;控制及信息整合输出系统将荧光显微装置得到的成像信息和原子力显微装置得到的成像信息经控制及信息整合输出系统整合后输出。

所述联用平台与原子力显微装置相连,用于固定原子力显微装置,并带动原子力显微装置高精度移动,使原子力显微装置和荧光显微装置能够共定位矫正和成像。

优选地,所述控制及信息整合系统为控制及信息整合软件,用于控制原子力显微装置、激光光源装置、荧光显微装置和联用平台之间协调工作,实现原子力显微和荧光显微的共定位成像;并将荧光显微装置得到的成像信息和原子力显微装置得到的成像信息整合后输出。所述控制及信息整合软件能够完成原子力显微图像和荧光图像的同步采集、图像共定位、图像后期的处理和输出。

优选地,所述原子力显微装置包括光学成像仪I、透镜组、压电陶瓷管、探针、样品承载装置。所述样品承载装置用于承载待测样品;所述透镜组用于将待测样品和探针成像于光学成像仪I;所述光学成像仪I用于采集样品承载装置上所承载的待测样品的成像数据和探针的位置数据;所述的电陶瓷管用于控制探针;所述的探针用于对样品形貌扫描成像。

优选地,其特征在于,所述光学成像仪I包括电荷耦合元件(ChargeCoupledDevice,简写为CCD)。进一步优选地,所述光学成像仪I是光学CCD相机。

优选地,其特征在于,所述样品承载装置、探针、压电陶瓷管、透镜组、光学成像仪I自下到上依次同轴排列。

优选地,其特征在于,所述探针位于样品承载装置上方光学成像仪I的成像区域。

所述原子力显微装置还包括可以在二维方向上移动样品承载装置的微调机构。

优选地,所述荧光显微装置包括显微物镜、滤光镜、反射镜、成像物镜、光学成像仪II。

优选地,其特征在于,所述荧光显微装置中还包括调焦机构。荧光显微镜可以通过调焦机构改变显微物镜和样品盘距离,用于对样品更换和对样品调焦。

优选地,其特征在于,所述光学成像仪II包括电子倍增电荷耦合元件(ElectronMultiplyingChargeCoupledDevice,简写为EMCCD)。进一步优选地,所述光学成像仪II是光学EMCCD相机。

优选地,其特征在于,所述荧光显微装置位于原子力显微装置的下方。荧光显微装置中光学成像仪II的成像区域与光学成像仪I成像区域相同,并且成像光轴经过样品成像区域。光学成像仪II与光学成像仪I所采集到的图像尺寸,可以相同也可以不同。

所述激光光源装置由至少一个激光器组成。本领域技术人员可以根据实际要求,选择合适的激光器类型和激光器的数量。进入荧光显微装置的激光光源由多激光汇聚成一束,根据不同样品、不同实验要求,控制激光器的点亮顺序、点亮时间、功率等。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连光耀辉科技有限公司,未经大连光耀辉科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520940305.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
  • 热辅助磁头元件的检查装置及其方法-201610181780.3
  • 张开锋;广濑丈师;渡边正浩;杉山敏教;飞田明 - 株式会社日立高新技术高精细系统
  • 2016-03-28 - 2016-10-12 - G01Q60/06
  • 本发明提供一种热辅助磁头元件的检查装置及其方法。在热辅助磁头的检查中,即使悬臂的测定探针的直径对于每个悬臂具有偏差,也能够保证进行高精度的检查。热辅助磁头元件的检查装置具备:悬臂;位移检测系统,其检测悬臂的位移;光检测器,其检测来自悬臂的散射光;信号处理部,其接收来自位移检测部的输出信号和来自光检测器的输出信号对信号进行处理;以及控制部,其对整体进行控制,还具备:载置部,其载置近场光产生样本;激光源,其发射激光;激光照射光学系统,其将激光照射到近场光产生样本而产生近场光;以及工作台部,其载置载置部和激光照射光学系统来使近场光产生样本在悬臂正下方与从悬臂离开的位置之间进行移动。
  • 一种原子力/荧光共定位显微成像系统-201520940305.0
  • 吴宗斌 - 大连光耀辉科技有限公司
  • 2015-11-23 - 2016-04-27 - G01Q60/06
  • 本申请公开了一种原子力/荧光共定位显微成像系统,该系统至少包括控制及信息整合系统、原子力显微装置、激光光源装置、荧光显微装置和联用平台。该系统通过将荧光显微成像技术与原子力显微成像法技术联用,建立了功能完整的快速成像系统,克服了荧光成像普适性差、采样速度慢、只能对平面清晰成像,以及原子力显微镜缺乏多组份识别功能和探测样品内部信息功能的缺点。
  • 基于微悬臂与微球组合探针的超分辨显微成像系统-201220297739.X
  • 李甸;王淑莹;章海军;张冬仙 - 浙江大学
  • 2012-06-25 - 2013-03-13 - G01Q60/06
  • 本实用新型公开了一种基于微悬臂与微球组合探针的超分辨显微成像系统。它具有由微悬臂与微球组合探针、压电陶瓷、激光器、半透半反棱镜、位置敏感元件、步进移动台、物镜、CCD等组成的超分辨显微成像装置,以及由电流电压转换器、反馈控制模块、高压放大器、步进控制器、计算机及接口等组成的控制系统。采用微悬臂与微球组合探针将微球抬离而又十分逼近样品表面的方法及采用基于原子力的微纳米反馈控制方法,将微球—样品间距控制在近场范围,实现超分辨光学显微成像。本实用新型的优点是:提出基于微悬臂—微球探针的超分辨显微成像新方法,实现样品的多区域、全视场、超分辨光学显微成像,突破光学衍射极限,克服了传统微球显微成像技术在诸多等方面的局限性。
  • 基于微悬臂与微球组合探针的超分辨显微成像方法及系统-201210209374.5
  • 章海军;李甸;张冬仙;王淑莹 - 浙江大学
  • 2012-06-25 - 2012-10-17 - G01Q60/06
  • 本发明公开了一种基于微悬臂与微球组合探针的超分辨显微成像方法及系统。它具有由微悬臂与微球组合探针、压电陶瓷、激光器、半透半反棱镜、位置敏感元件、步进移动台、物镜、CCD等组成的超分辨显微成像装置,以及由电流电压转换器、反馈控制模块、高压放大器、步进控制器、计算机及接口等组成的控制系统。采用微悬臂与微球组合探针将微球抬离而又十分逼近样品表面的方法及采用基于原子力的微纳米反馈控制方法,将微球—样品间距控制在近场范围,实现超分辨光学显微成像。本发明的优点是:提出基于微悬臂—微球探针的超分辨显微成像新方法,实现样品的多区域、全视场、超分辨光学显微成像,突破光学衍射极限,克服了传统微球显微成像技术在诸多等方面的局限性。
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top