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[发明专利]一种电致变色器件的性能测试方法-CN201911141899.8有效
发明人：王红莉;石倩;汪唯;苏一凡;郭朝乾;李洪;许伟;洪悦;唐鹏;林松盛;代明江 -专利权人：广东省新材料研究所
申请日： 2019-11-20 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种电致变色器件的性能测试方法，涉及电致变色器件的性能测试技术领域。该方法包括采用SPM技术对与外接电源相连的电致变色器件的性能进行分析测试；得到测试数据并进行数据处理。该方法采用了SPM技术，基于原子力显微镜技术，耦合了电、磁、电化学和机械性能检测的多方位材料性能检测技术。采用多功能扫描探针显微镜技术，综合检测电致变色器件的多种界面性能。可实现对电致变色器件多种性能在微纳米尺度上的直接观察和动态检测，为探索电致变色器件的失效机制和改善器件性能提供一种有力的方法和工具，加速电致变色器件的大规模应用。
一种变色器件性能测试方法

[发明专利]一种模块化快拆组合式扫描探针显微镜-CN202011399079.1在审
发明人：郭颖;丁明强;夏德铸;张徐开;王佳丽;顾启伟;王晨;陈浩;徐翰英 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2020-12-04 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种模块化快拆组合式扫描探针显微镜，包括马达模块、扫描头模块和样品模块，各模块均设有结构统一的导轨，并通过导轨实现三部分模块快速连接和拆卸。本发明设计为三段模块化结构，形成可以共用马达、快速更换扫描头和样品的模块化显微镜，原来需要购买多款显微镜才能实现的观测效果，可以通过更换扫描头和样品快速实现。这样既可以大大扩展原来单个显微镜的应用领域，实现扫描探针显微镜家族的模块化组合，也可以显著降低显微镜的成本，还可以节约不同显微镜来回切换所消耗的准备时间。
一种模块化组合式扫描探针显微镜

[发明专利]能够在原位自动切换探针的低温多参量扫描探针显微镜-CN202011282233.7在审
发明人：程光磊;黄成园;蔡方煦;王浩远;杜江峰 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2020-11-16 - 公布日： 2021-02-19 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：一种能够在原位自动切换探针的扫描探针显微镜，包括：探针腔，用于固定探针转换台，所述探针转换台包括旋转式自动换针系统或平移式自动换针系统；样品台单元，包括样品台腔和三种工作模式的压电纳米位移台，所述样品台腔用于固定样品台。本发明的扫描探针显微镜的上半部分独立控制转换探针的功能，下半部分独立控制升降样品、快速搜寻样品扫描位置、扫描控制的功能。两部分连接稳固又方便拆卸，便于更换探针，也便于安装样品。
能够原位自动切换探针低温参量扫描显微镜

[实用新型]一种扫描电子显微镜原位力学、电学、原子力显微学分析装置-CN202020109242.5有效
发明人：王玲玲;吴玉莲;杨小祥;李颜;王传真;李润发 -专利权人：南通励思仪电子科技有限公司
申请日： 2020-01-18 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及分析装置技术领域，且公开了一种扫描电子显微镜原位力学、电学、原子力显微学分析装置，包括分析底座，所述分析底座的顶部固定连接有支撑架，所述支撑架的顶部固定连接有连接板。该扫描电子显微镜原位力学、电学、原子力显微学分析装置，通过转动手动摇柄，手动摇柄转动的过程中，会依次带动旋转轴和第一圆锥齿轮转动，因为第一圆锥齿轮与第二圆锥齿轮啮合，所以第一圆锥齿轮转动的过程中，会依次带动第二圆锥齿轮和螺纹杆转动，通过设置滑动块和开设滑动槽，可以限制螺纹块进行圆周转动，螺纹杆转动的过程中，会依次带动螺纹块、电动推杆和检测器左右移动，检测器左右移动的过程中，可以对显微镜器体进行检测。
一种扫描电子显微镜原位力学电学原子显微分析装置

[发明专利]一种铁电纳米点阵列中导电性调控的表征方法-CN201910743213.6在审
发明人：翟俊杰;李忠文;南峰;袁玮;周鸿富;孙大钞 -专利权人：淮阴工学院
申请日： 2019-08-13 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种铁电纳米点阵列中导电性调控的表征方法，属于纳米铁电材料制备和微纳表征技术领域，通过离子束刻蚀铁电薄膜获得高密度纳米点阵列；借助于矢量压电力显微术表征获得铁电拓扑畴的畴结构；使用导电原子力显微镜观测到纳米点中的导电通道，二维电流图像表明单个纳米点中的导电区域为几十纳米，这些导电通道具有类似于金属导电的特性；联合压电力显微镜和导电原子力显微镜获得极化对导电性的调控；可用于开发非易失性的、高密度的铁电随机存取存储器；纳米点的中心型畴结构为研究铁电拓扑畴及拓扑材料提供方案；同时，纳米点的导电性可以通过极化翻转进行调控，提供的表征方法可以将这种调控可视化，提升数据的直观性、可靠性。
纳米点导电性拓扑导电原子力显微镜调控导电通道畴结构点阵列铁电铁电随机存取存储器压电力显微镜高密度纳米离子束刻蚀表征技术材料提供材料制备导电区域电流图像非易失性极化翻转纳米铁电铁电薄膜铁电纳米矢量可视化显微术直观性极化导电二维可用观测金属联合开发研究

[发明专利]使用扫描探针显微镜分析样品表面的方法和用于该方法的扫描探针显微镜-CN201510917174.9在审
发明人：权映男;朴成俊;白云仲;金成宪;安宰玟;尹桐振 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2015-12-10 - 公布日： 2016-06-22 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：提供用于使用包含细胞附着性探针的扫描探针显微镜分析样品表面的方法和用于该方法的扫描探针显微镜。
使用扫描探针显微镜分析样品表面方法用于

[发明专利]超分辨共聚焦光学显微镜与扫描探针显微镜联用系统-CN201210277343.3无效
发明人：方晓红;袁景和;于建强;张雪洁 -专利权人：中国科学院化学研究所
申请日： 2012-08-06 - 公布日： 2012-12-05 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种超分辨共聚焦光学显微镜与扫描探针显微镜联用系统。激光器a输出的激光经二向色性滤光片a滤光后汇聚至显微物镜，激光器b输出的激光依次经位相板和二向色性滤光片b滤光后入射至所述显微物镜；经所述显微物镜汇聚的激光照射至样品台，得到待测样品的荧光信号又经所述显微物镜汇聚后经收集透镜a收集后入射至光电探测器，所述光电探测器输出的光电信号输入至光学信号采集器；经收集透镜b收集后的激光入射至SPM探针的悬臂上，所述SPM探针设于所述样品台的上方；经所述SPM探针反射后的光经所述经收集透镜b收集后入射至SPM探测器，所述SPM探测器输出的电信号输入至SPM信号采集器。由超分辨的光学成像引导SPM成像和分析，由于超分辨的共聚焦光学显微镜分辨率可接近SPM的分辨率，可以实现更高精度的靶点定位。
分辨聚焦光学显微镜扫描探针联用系统

[发明专利]一种拉曼原子力显微检测装置及方法-CN201110295696.1无效
发明人：张冬仙;史斌;吴兰;章海军 -专利权人：浙江大学
申请日： 2011-09-28 - 公布日： 2012-03-21 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种拉曼原子力显微检测装置及方法。光学平台上一侧从上到下顺次设有第一支撑柱、第一固定块，光学平台上另一侧从上到下顺次设有第二支撑柱、第二固定块，第一支撑柱、第二支撑柱上端固定有支撑横梁，支撑横梁上方设有X向步进电控平移台，X向步进电控平移台上设有滑动块，滑动块下端设有Z向移动轨道，在Z向移动轨道上设有L型固定块，在L型固定块上设有原子力显微探头横梁，在原子力显微探头横梁上设有原子力显微探头，在原子力显微探头的两侧分别设有拉曼光谱显微探测头和光学显微镜，光学平台上从下到上顺次设有Y向步进电控平移台、样品台、待测样品。本发明可以实时在线地获得样品的微纳米形貌结构信息和显微拉曼光谱信息。
一种原子显微检测装置方法

[实用新型]一种光学显微－原子力显微双探头成像装置-CN201120018378.6无效
发明人：张冬仙;史斌;吴兰;章海军 -专利权人：浙江大学
申请日： 2011-01-20 - 公布日： 2011-10-12 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光学显微－原子力显微双探头成像装置。它包括原子力显微探头、光学显微探头、第一滑动块、第二滑动块、光学平台、Y向步进电控平移台、样品台、待测样品、第一固定块、第2固定块、第一支撑柱、第二支撑柱、支撑梁、X向步进电控平移台；原子力显微探头和光学显微探头分别固定在第一滑动块和第二滑动块上，然后安装在X向步进电控平移台上，X向步进电控平移台固定在支撑梁上，光学平台上依次安装有Y向步进电控平移台和样品台，以及由第一固定块、第2固定块、第一支撑柱、第二支撑柱、支撑梁构成的支撑架。本实用新型可以同时解决大范围的实时光学显微观察和局部的高分辨纳米结构和性能的观察和测量。
一种光学显微原子探头成像装置

[发明专利]一种光学显微－原子力显微双探头成像方法及装置-CN201110022879.6无效
发明人：张冬仙;李方浩;吴兰;章海军 -专利权人：浙江大学
申请日： 2011-01-20 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： G01Q60/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学显微－原子力显微双探头成像方法及装置。它具有激光器、微透镜和单管压电陶瓷及微悬臂探针组成的扫描器、位置敏感探测单元和光电检测与反馈测量控制系统等构成的原子力显微探头，以及显微物镜组和显微目镜组组成的光学显微探头，CCD检测头和数据图像采集系统、Z向移动机构、XY步进移动机构和开放式大样品台。本发明的光学显微-原子力显微双探头系统可以同时解决大范围的实时光学显微观察和局部的高分辨纳米结构和性能的观察和测量。
一种光学显微原子探头成像方法装置

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