[发明专利]一种引线框架镀铜方法及引线框架、引线框架排有效

专利信息
申请号: 201410250793.2 申请日: 2014-06-06
公开(公告)号: CN104112705B 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 郑康定;曹光伟;冯小龙;段华平;马叶军 申请(专利权)人: 宁波康强电子股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/495
代理公司: 宁波市鄞州盛飞专利代理事务所(普通合伙)33243 代理人: 张向飞
地址: 315100 浙江省宁*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 引线 框架 镀铜 方法
【权利要求书】:

1.一种引线框架镀铜方法,所述引线框架基体由铝合金制成,其特征在于:所述镀铜方法包括步骤:

S1:脱脂去油,药水成分及含量:

氢氧化钠:45%,偏硅酸钠:40%,除油剂:40g/L,在50℃-70℃进行脱脂去油;

S2:预镀:电镀液配方及含量为:

硫酸镍:700g/L,硫酸钠:10g/L,氯化镍:25g/L,氯化钠:5g/L;

电镀参数为:温度:90℃,电流密度:170A/dm2,电镀液pH:4;

S3:镀铜:电镀液配方及含量为:

硫酸铜:150g/L,氯化铜:30g/L,盐酸:40mol/L,铜光亮剂:0.3g/L;

其中所述铝合金按照质量百分比包括:镁:1.5%、硅:0.8%、铜:0.2%、锰:0.2%、铬:0.3%、锆:0.25%,余量为铝以及不可避免的杂质;

在步骤S1和S2之间还包括浸锌步骤,所述浸锌步骤包括:

一次浸锌步骤:将去油后的铝合金基体放入锌离子浓度为45g/L,三氧化铁浓度为70g/L,氢氧化钠浓度为250g/L的混合溶液中浸锌,浸锌温度60℃;而后再用温度为50℃的清水洗涤;

一次酸洗步骤:将一次浸锌后的铝合金基体放入浓度为100g/L,温度为40℃的硝酸溶液酸洗;

二次浸锌步骤:将酸洗后的铝合金基体放入每升含有400克氧化铁,75克氢氧化钠的混合液中二次浸锌,混合液温度为60℃;

二次酸洗步骤:将二次浸锌后的铝合金基体放入浓度为750g/L的硝酸溶液中二次酸洗,酸洗时间25分钟,酸洗温度55℃;

三次浸锌步骤:将二次酸洗后的铝合金基体放入锌离子浓度为25g/L的溶液中三次浸锌,三次浸锌温度25℃;

抗氧化处理;将镀铜后的引线框架放入苯并三氮唑浓度为1g/L,硫酸锌浓度为0.6g/L,硫基苯并噻唑浓度为2g/L的混合液中处理5-10分钟。

2.根据权利要求1所述的引线框架镀铜方法,其特征在于:镀锌层厚度为0.1-0.5微米,镀镍层厚度为0.2-3微米,镀铜层厚度为3-20微米。

3.一种由权利要求1或2所述的引线框架镀铜方法制得的引线框架,其特征在于:包括芯片座和分布在所述芯片座一侧的多根引线,所述多根引线包括芯片引线和接脚引线,所述芯片引线与所述芯片座连接,所述接脚引线与所述芯片座断开,所述多根引线为片状并在同一平面上,所述芯片座为片状且与所述引线所在平面平行而不共面。

4.根据权利要求3所述的引线框架,其特征在于:所述多根引线相互平行。

5.一种引线框架排,其特征在于:为一金属条中冲压或蚀刻形成的多个依次连接的权利要求3或4所述的引线框架,每个连接片一侧与芯片座的另一侧连接,多个连接片前后相接成一排。

6.如权利要求5所述的引线框架排,其特征在于:每个所述连接片与所述引线框架的芯片座相接,且相接处的表面刻有至少一道槽,所述槽延伸至相接处的整个延伸长度。

7.如权利要求6所述的引线框架排,其特征在于所述槽的深度大于所述连接片厚度的十分之一。

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