[发明专利]厚度测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种厚度测定装置，尤其涉及一种对片、膜、或布等片状被测定物的厚度进行测定的厚度测定装置。

背景技术

以往，作为电池或电解电容器等的原材料，聚烯烃微多孔膜一直被用作为间隔物。对于被用作为此类间隔物的聚烯烃微多孔膜而言，在其制造过程中该膜被形成为片状，而使片材厚度保持一定对于聚烯烃微多孔膜的品质管理而言非常重要。

因此，需要准确地测定片材厚度，以往，会采用将千分尺与片材直接接触进行测定的方式(接触式)，或者用激光、辐射线等进行测定的方式(非接触式)等。

对于使用所述千分尺的接触式方法而言，要将被测定物(聚烯烃片材)放置于作为基底的平台上，从一个方向推压千分尺的计量头以进行测定。然而，存在如下问题：聚烯烃片材较柔软，制作过程中使用的溶剂会附着在表面上，因此难以紧密结合于所述作为基底的平台，容易产生导致测定误差的空隙。

此外，由于如上所述在聚烯烃片材的表面附着有溶剂，因此即便采用非接触式方法也无法规避测定误差，无法进行准确的测定。

针对此类问题，专利文献1公开了在片材宽度方向上对齐配置多个千分尺计量头、用所述千分尺计量头夹住片材来测定片材厚度的方法。

上述专利文献1所公开的测定方法中，在所述千分尺计量头(测定点)的前后设置引导滚轮，对片材的起伏进行修正。另外，通过将计量头形成为球体，来与片材进行点接触，用计量头去除附着于片材的溶剂，防止片材的下沉，准确地测定片材的厚度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开平08-122007号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而，专利文献1所公开的片材厚度测定方法中，为了准确地测定整个片材的厚度，需要在片材宽度方向上高精度地排列相当多的千分尺计量头。

然而，由于各个计量头具有物理宽度，因此计量头之间的间距难以做到20mm以下，无法精细检查片材宽度方向上厚度的偏差。

尤其是，片状聚烯烃微多孔膜被用作电池等的间隔物时，在片材宽度方向上会延伸规定倍数(例如5？7倍)，所述间距较长的话，延伸所造成的非测定区域的宽度就会变长(例如100mm以上)，无法以产品要求的宽度单位来检查厚度偏差。

另外，片材宽度方向上排列多个千分尺计量头的情况下，多个计量头个体上会有机械性或电气性的偏移，厚度分布变得不明确，而且现实中不可能校正排列的多个千分尺计量头。

而且，还有如下问题：一个一个维护片材宽度方向上排列的多个千分尺计量头耗费功夫，并且装置成本巨大。

另外，为了解决上述排列多个千分尺计量头时产生的问题，考虑了一边在片材宽度方向上移动一个千分尺计量头，一边对整个片材的厚度进行测定。

然而，随着千分尺计量头在宽度方向上的移动，由于支承千分尺计量头的框架的微小变形以及轴承的间隙等，相对设置的千分尺计量头支持部的间隔发生变化，这会对测定精度产生不利影响。因此，无法一边在片材宽度方向上移动一个千分尺计量头，一边连续地进行高精度的测定。

换言之，千分尺计量头进行测定过程中，为了提高精度，必须采用不使相对设置的千分尺计量头支持部的间隔发生变化的结构，但是对于在宽度方向上移动千分尺计量头的机构而言，现实中无法实现不使相对设置的千分尺计量头支持部的间隔发生变化的结构。

本发明着眼于上述几点而提出，目的在于提供一种测定片状被测定物厚度的厚度测定装置，即便在被测定物的表面附着了液体的状态下，也能够高精度地测定所述被测定物的厚度。

解决技术问题所采用的技术方案

为实现上述目的，本发明提供了一种在片状被测定物的正反面附着有液体异物的状态下测定该被测定物的厚度的厚度测定装置，包括：配置于所述被测定物两侧的测定头；以及在所述被测定物的宽度方向上移动所述测定头的测定头移动单元，所述测定头包括夹着所述被测定物而相对配置的一对第1和第2测定头部，并具有：按压单元，该按压单元对所述第1、第2测定头部进行按压，以使得所述第1、第2测定头部与所述被测定物的正反面相抵接；以及传感器，该传感器在将所述第1、第2测定头部按压至所述被测定物的状态下，测定该头部间的距离，所述测定头移动单元一边维持所述第1及第2测定头部按压并夹持所述被测物的状态，一边沿着所述被测定物的正反面往返移动。

可以将所述第1及第2测定头部与所述被测定物的接触部形成为凸曲面。