[发明专利]一种处理显示模组亮度数据方法、系统及显示器件

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种处理显示模组亮度数据的方法、系统及显示器件。 

背景技术

现有技术中，对显示模组的gamma曲线进行较正或者对显示模组的交叉效应进行校正，都需要首先获得显示模组的亮度数据。 

一种LCD屏的gamma曲线检测方法及系统（200810218007.5）公开了一种复合gamma曲线的生成方法及检测方法。它是通过采集灰阶图像与源图像进行对比，生成复合的gamma曲线。而图像只是使用一幅图中显示需要测量的灰阶画面，由于液晶模组在一个灰阶画面中各个位置的测试量存在偏差，获得的亮度数据不准确，造成生成的曲线不能准确反映液晶模组的特性。 

校正LCD屏gamma值的方法和装置（201010179880.5）公开了一种通过红、绿、蓝三种背光模组的gamma值的测试方法，由于一般液晶模组都是白色背光模组，如果通过三种颜色背光模组测试，较为繁琐，不具备实用性。 

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种处理显示模组亮度数据的方法、系统及显示器件，准确反映液晶模组的特性，提高工作效率。 

为了达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种处理显示模组亮度数据的方法，包括：获取显示模组亮度数据的步骤： 

待测显示模组按照预设规则显示多个灰阶图像； 

测量显示当前所述灰阶图像的待测显示模组预设点处的亮度数据； 

其中，所述预设规则为待测显示模组一次仅显示一个所述灰阶图像，并在 上一个所述灰阶图像的亮度数据采集结束后自动切换到下一个灰阶图像、直至所有灰阶图像显示完毕。 

进一步的，包括所述处理显示模组亮度数据的步骤： 

根据所述多个灰阶图像对应的所述亮度数据对显示模组gamma曲线校正； 

和/或, 

根据所述多个灰阶图像对应的所述亮度数据对显示模组对交叉效应进行校正。 

进一步的，所述根据所述多个灰阶图像对应的所述亮度数据对显示模组gamma曲线校正的步骤包括： 

根据所述多个灰阶图像对应的所述亮度数据绘制gamma曲线； 

将gamma曲线与标准gamma曲线进行比对，根据比对结果对gamma曲线进行校正。 

进一步的，根据多个所述灰阶图像对应的所述亮度数据绘制gamma曲线包括： 

根据当前所述灰阶图像对应的亮度数据计算相对应的gamma值； 

根据每一个所述灰阶图像对应的灰阶值及相应的gamma值建立坐标系，绘制gamma曲线。 

进一步的，根据当前所述灰阶图像对应的亮度数据计算相对应的gamma值包括： 

根据公式：第一数值除以第二数值获得当前所述灰阶图像对应的gamma值，其中，所述第一数值为与当前所述灰阶图像对应的亮度数据与第一次测量获得的亮度数据的差的绝对值，所述第二数值为最后一次测量获得的亮度数据与第一次测量获得的亮度数据的差的绝对值。 

进一步的，所述预设规则还包括待测显示模组显示的所述灰阶图像的灰阶呈递增变化。 

进一步的，所述预设规则还包括待测显示模组显示的所述灰阶图像的灰阶呈递增变化，且当存在灰阶值相同的具有部分灰阶画面的第一灰阶图像和具有全灰阶画面的第二灰阶图像时，所述第一灰阶图像优先显示； 

所述根据所述多个灰阶图像对应的所述亮度数据对显示模组对交叉效应进行校正的步骤包括： 

将显示所述第一图像的待显示模组的预设点处的第一亮度数据，与显示所述第二图像的待显示模组的预设点处的第二亮度数据与相应的灰阶画面的灰阶值相对应存储，所述预设点位于显示所述第一图像的待测显示模组显示灰阶画面的区域； 

根据所述第一亮度数据、所述第二亮度数据获得与每一个灰阶值对应的待测显示模组的交叉效应值； 

将待测显示模组的交叉效应值与交叉效应预设值进行比对，并根据所述比对结果对显示模组的交叉效应值进行校正。 

进一步的，所述根据所述第一亮度数据、所述第二亮度数据获得待测显示模组的交叉效应值的步骤包括： 

按照公式：所述第一亮度数据与所述第二亮度数据的差的绝对值与所述第二亮度数据的比值获得与每一个灰阶值对应的待测显示模组的交叉效应值。 

本发明还提供一种处理显示模组亮度数据的系统，包括：图像采集模块、控制模块、显示模组驱动模块，