[发明专利]全背电极太阳电池及其制作方法无效
申请号: | 201310296072.0 | 申请日: | 2013-07-16 |
公开(公告)号: | CN103367547A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 陶龙忠;杨灼坚;其他发明人请求不公开姓名 | 申请(专利权)人: | 苏州润阳光伏科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电极 太阳电池 及其 制作方法 | ||
1.一种全背电极太阳电池,由n型硅片(21)、n型掺杂层一(22)、n型局域掺杂层二(221)、局域铝掺杂阵列(291)、介电层一(25)、介电层二(24)、细栅金属电极一(27)、细栅铝电极(28)、主栅电极一及主栅电极二组成;n型掺杂层一(22)位于n型硅片受光表面(211),介电层一(25)覆盖于n型掺杂层一(22)之上,n型局域掺杂层二(221)和局域铝掺杂阵列(291)交替分布于n型硅片背光表面(212),介电层二(24)覆盖于n型硅片背光表面(212)及n型局域掺杂层二(221)、局域铝掺杂阵列(291)之上;细栅金属电极一(27)位于介电层二(24)之上、与n型局域掺杂层二(221)对应的位置;细栅铝电极(28)位于介电层二(24)之上、与局域铝掺杂阵列(291)对应的位置;细栅金属电极一(27)全部或局部穿透介电层二(24)、与n型局域掺杂层二(221)接触;细栅铝电极(28)位于局域铝掺杂阵列(291)所在位置的介电层二(24)之上;主栅电极一和主栅电极二分别连接所有的细栅金属电极一(27)和细栅铝电极(28),其特征在于:细栅铝电极(28)局部穿透介电层二(24),在细栅铝电极(28)穿透介电层二(24)的位置、n型硅片背光表面(212)设有局域铝掺杂层(29);多个由细栅铝电极(28)间接相连的局域铝掺杂层(29)组成局域铝掺杂阵列(291)。
2.根据权利要求1所述的一种全背电极太阳电池,其特征在于:所述的局域铝掺杂阵列(291)是由点状、线状或短线状的多个由细栅铝电极(28)间接相连的局域铝掺杂层(29)排列组成;细栅铝电极(28)穿透介电层二(24)的部分呈与上述局域铝掺杂层(29)相对应的点状、线状或短线状;上述线状或短线状局域铝掺杂层(29)的宽度小于250微米;上述点状局域铝掺杂层(29)的直径小于500微米。
3.根据权利要求1所述的一种全背电极太阳电池,其特征在于:所述的局域铝掺杂阵列(291)的总面积不超过细栅铝电极(28)面积的50%。
4.根据权利要求1所述的一种全背电极太阳电池,其特征在于:所述的介电层二(24)是带有负束缚电荷的介质薄膜,其负束缚电荷密度大于2×1011cm-2。
5.根据权利要求1和4所述的一种全背电极太阳电池,其特征在于:所述的介电层二(24)是氧化铝单层膜,或由氧化铝与氮化硅、氧化硅、碳化硅、氧化钛、氮氧化硅中的一种或多种所组成的多层膜。
6.权利要求1所述的一种全背电极太阳电池的制作方法,其特征在于:该制作方法包括以下步骤:
步骤一:去除n型硅片(21)表面的损伤层,在n型硅片受光表面(211)制作绒面;
步骤二:在n型硅片受光表面(211)及背光表面制作n型掺杂层,形成n型掺杂层一(22);
步骤三:在n型硅片背光表面(212)沉积局域阻挡层;
步骤四:对n型硅片背光表面(212)进行刻蚀,去除n型硅片背光表面(212)上除局域阻挡层覆盖区域以外的n型掺杂层一(22);保留的n型掺杂层形成n型局域掺杂层二(221)。
步骤五:去除局域阻挡层,并对n型硅片(21)进行清洗;
步骤六:在n型硅片背光表面(212)沉积介电层二(24),在n型硅片受光表面(211)沉积介电层一(25);
步骤七:对介电层二(24)进行局部开孔;
步骤八:在n型局域掺杂层二(221)对应的位置沉积细栅金属电极一(27),在n型硅片背光表面(212)上已除去n型局域掺杂层一的位置沉积细栅铝电极(28);在与细栅金属电极一(27)交叉的方向上沉积主栅电极一,连接所有细栅金属电极一(27);在与细栅铝电极(28)交叉的方向上沉积主栅电极二,连接所有细栅铝电极(28)。
步骤九:在峰值温度高于575℃的环境下进行烧结,烧结过程中,透过介电层二(24)上的开孔相互接触的n型硅片(21)和细栅铝电极(28)之间发生铝硅合金反应,在n型硅片受光表面(211)形成与介电层二(24)上的开孔形状相似的局域铝掺杂层(29)。
7.根据权利要求6所述的一种全背电极太阳电池的制作方法,其特征在于:所述的步骤四和步骤五之间,包括一个对n型硅片受光表面(211)进行刻蚀的步骤,使n型硅片受光表面(211)上的n型掺杂一的方块电阻比n型硅片背光表面(212)上的n型局域掺杂层二(221)高。
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