[发明专利]基于非接触式霍尔效应测量石墨烯载流子迁移率的方法有效

专利信息
申请号: 201210593927.1 申请日: 2012-12-31
公开(公告)号: CN103033734A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 韩砀;王东;宁静;闫景东;柴正;张进成;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 710065 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 接触 霍尔 效应 测量 石墨 载流子 迁移率 方法
【权利要求书】:

1.基于非接触式霍尔效应测量石墨烯载流子迁移率的方法,其特征在于,该方法采用入射电磁波激发的方式,在石墨烯中引入感应电流和霍尔电流,通过测量霍尔电流辐射出的电磁波,并与入射电磁波相比较,得出石墨烯的迁移率,再改变激发电磁波的投射位置,进行多点测量。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该方法的具体实现步骤如下:

步骤一,把铜圆片放置在载物台上,对准电磁波发射器,利用测试设备自动读取铜片的反射能量,并获取的反射能量调整设备参数;

步骤二,把转移到衬底上的石墨烯放置在载物台上,选择内置的响应测试衬底;

步骤三,对平衡桥电路施加反相信号,手动调节探测器,使探测到的Hall值达到最小;

步骤四,在零磁场下,通过反射电磁波测量石墨烯面电阻和载流子浓度,测量值将用于迁移率的测量;

步骤五,保持磁感应强度在5000-10000G,测量石墨烯Hall激发电流辐射的Hall能量,并由此计算得到石墨烯迁移率;

步骤六,移动衬底,测量其他位置石墨烯迁移率。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在步骤一中,由反射能量测量出的铜圆片电阻值不大于10ohms。

4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在步骤二中,使用衬底须不小于2英寸。

5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在步骤六中,通过比较不同位置石墨烯迁移率,可得到石墨烯是否具有良好的一致性。

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