[发明专利]测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种测试装置，具有：

地址发生部，发生被测试存储器的地址；

选择部，选择是否将所述地址发生部发生的所述地址进行比特反转后，供给至所述被测试存储器；

反转处理部，其在所述选择部选择了将所述地址进行比特反转时，将由所述地址发生部发生的所述地址比特反转并输出，在所述选择部选择了不将所述地址比特反转时，将被所述地址发生部发生的所述地址不进行比特反转而输出；

供给部，向所述被测试存储器提供所述反转处理部输出的被反转控制后的所述地址，及表示所述反转处理部输出的所述地址是否是比特反转后的地址的反转周期信号。

2.根据权利要求1所述的测试装置，

所述选择部，在所述地址发生部发生的所述地址从比较地址至少变化预先设定的比特数量时，选择将所述地址比特反转。

3.根据权利要求2所述的测试装置，

所述选择部，在所述地址从所述比较地址的变化是地址的比特宽的1/2比特数以上或更多时，选择比特反转所述地址。

4.根据权利要求2所述的测试装置，

所述选择部，在所述地址从预定的固定的所述比较地址至少变化预先设定的比特数量时，选择比特反转所述地址。

5.根据权利要求4所述的测试装置，

所述地址发生部，在所述被测试存储器不接收地址的周期中发生预定的地址；

所述选择部，将在所述被测试存储器不接收地址的周期中发生的地址，作为所述比较地址输入，在所述地址从所述比较地址至少变化预先设定的比特数量时，选择比特反转所述地址。

6.根据权利要求5所述的测试装置，

所述地址发生部，输出连续的2个地址，并指定应该访问的所述被测试存储器的存储区域。

7.根据权利要求2所述的测试装置，

所述选择部，在之前紧接的周期中，将对所述被测试存储器供给的所述地址，作为所述比较地址输入，所述地址从所述比较地址变化预先设定的比特数以上或更多时，选择比特反转所述地址。

8.根据权利要求2所述的测试装置，

还具有比特数设定部，其在测试之前，在所述选择部设定所述地址的比特宽以下的比特数；

所述选择部，在所述地址发生部发生的所述地址从所述比较地址至少变化被所述比特数设定部设定的比特数量时，选择比特反转所述地址。

9.根据权利要求1所述的测试装置，

所述反转处理部，按照设定，使对所述地址进行比特反转的功能停止，输出不比特反转的所述地址。

10.一种测试方法，用于测试被测试存储器，包括；

发生被测试存储器地址的地址发生步骤；

选择是否将在所述地址发生阶段发生的所述地址比特反转后提供给所述被测试存储器的选择阶段；

在所述选择阶段选择了把所述地址比特反转的情况下，比特反转所述地址发生阶段发生的所述地址并输出，在所述选择阶段选择了不比特反转所述地址的情况下，将所述地址发生阶段发生的所述地址不比特反转而输出的反转处理阶段；以及

向所述被测试存储器供给在所述反转处理阶段中输出的被反转控制后的所述地址，及表示在所述反转处理阶段中输出的所述地址是否是进行过比特反转后的地址的反转周期信号的供给阶段。