[发明专利]距离测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及距离测定装置。

背景技术

以往以来，已知有以下的距离测定装置：使脉冲激光朝向被测定物发光，测定直至接收到从被测定物反射的反射光为止的经过时间，基于该经过时间和激光的传输速度测定到被测定物的距离。

另外，在距离测定装置中，提出了下述技术：在计测朝向计测对象发送的信号与由计测对象反射回来的受光信号的时间差时，通过选择表示最可能准确的原本时间的受光信号而使测定误差降低（参照特开2008-275379号公报）。

但是，在以往的距离测定装置中，例如在反射光的受光水平成为饱和状态的情况下测距精度会变差。

发明内容

鉴于上述情况，本发明提供在反射光的受光水平成为饱和状态时也能够高精度地测定距离的距离测定装置。

一种方式的距离测定装置，具备发光部、受光部、距离计算部和距离修正部。发光部，朝向被测定物出射测定光。受光部，对从被测定物反射的反射光进行受光。距离计算部，基于从出射测定光时起到反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间，求取到被测定物的距离。距离修正部，在受光水平成为饱和状态、峰值的时刻不能够确定时，根据受光水平饱和的时间的长度修正到被测定物的距离的值。

在一种方式的距离测定装置中，发光部也可以多次出射测定光。

在一种方式的距离测定装置中，距离计算部也可以进一步具备计数部，在多次出射测定光时，所述计数部对受光部计测到超过阈值的受光量的时刻分别进行计数，累计所计数的频数而求取各时刻下的受光水平。另外，距离计算部，也可以基于频数的累计数表示峰值的时刻下的经过时间求取到前述被测定物的距离。此外，距离修正部，也可以在频数的累计数成为饱和状态的时刻，根据成为饱和状态的时间的长度修正到被测定物的距离的值。

在一种方式的距离测定装置中，也可以受光水平饱和的时间越长，距离修正部越增加对距离的值进行修正的修正量。

根据本发明，能够提供在反射光的受光水平成为饱和状态时也能够高精度地测定距离的距离测定装置。

附图说明

图1是表示第1实施方式的距离测定装置的结构例的框图。

图2是表示第1实施方式的距离测定装置的工作的流程图。

图3是表示从出射测定光时起的经过时间和由测定工作累计的频数的频数分布的例子的图。

图4是表示对距离测定装置的临时的距离进行修正的例子的说明图。

图5是表示第2实施方式的距离测定装置的结构例的框图。

图6是表示第2实施方式的距离测定装置中的受光水平测定部（饱和检测部）的结构例的图。

图7是表示第2实施方式的距离测定装置的工作的流程图。

具体实施方式

<第1实施方式的说明>

图1是表示第1实施方式的距离测定装置的结构例的框图。第1实施方式的距离测定装置用在例如运动、狩猎等的测距中。

第1实施方式的距离测定装置1具有框体2、发光部3、受光部4、操作按钮5、控制器6和距离显示部7。发光部3、受光部4、操作按钮5以及距离显示部7分别与控制器6连接。

发光部3、受光部4、控制器6以及距离显示部7配置于框体2的内侧。另外，操作按钮5以露出于框体2的外侧的方式安装于框体2。另外，在框体2形成有取景窗2a、出射窗3a、受光窗4a。

取景窗2a及出射窗3a构成距离测定装置1的光学取景器。在出射窗3a与取景窗2a之间的光路上，从图1的左侧按顺序配置有准直透镜31和半反射镜（halfmirror）21。

从出射窗3a入射的光束的一部分，透过准直透镜31和半反射镜21而被引导到取景窗2a。由此，操作者能够通过取景窗2a及出射窗3a观看被测定物。

发光部3输出对被测定物照射的测定光（脉冲状的激光）。该发光部3例如包括发光元件（激光二极管）和发光元件的驱动电路。

在此，从发光部3出射的测定光，由半反射镜21反射而被引导到准直透镜31以及出射窗3a。因此，若在操作者观察光学取景器的状态下从发光部3出射测定光，则测定光朝向操作者所观看的被测定物（图1的箭头A方向）出射。