[发明专利]存储器装置及其检测方法

权利要求书

1.一种存储器装置的检测方法，该存储器装置包括多个存储单元以及分别连接该多个存储单元的栅极与漏极的多条第一传导线与第二传导线，该检测方法包括：

在一读取程序期间，提供一正电压至该多个第一传导线之一，以选择开启该多个存储单元之一，并提供一负电压至其余该多个第一传导线，以关闭未选择开启的其余该多个存储单元。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其中在该读取程序期间，更包括进行一数据比对步骤，当该数据比对不符合时，更包括进行一漏电流抑制程序，以修复未选择开启的该多个存储单元的一缺陷。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其中当该数据比对符合时，更包括更换数据读取的一地址，以重新进行该读取程序。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其中更换数据读取的该地址包括更换至下一个第一传导线的地址或更换至下一个第二传导线的地址。

5.根据权利要求2所述的检测方法，其中该数据比对步骤包括：

提供该正电压至该多个第一传导线之一，以选择开启该多个存储单元之一，并且不提供该负电压至其余该多个第一传导线，以取得该第二传导线上的一第一电流，该第一电流具有一第一电平；

提供该负电压至其余该多个第一传导线，以取得该第二传导线上的一第二电流，该第二电流具有一第二电平；以及

判断该第一电平是否等于该第二电平。

6.根据权利要求2所述的检测方法，其中进行该数据比对步骤之前，更包括读取一程序代码地址，并根据该程序代码地址，进行该程序代码的数据比对步骤。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其中该程序代码包括一开机程序代码。

8.根据权利要求6所述的检测方法，其中该多个第一传导线为字线，该多个第二传导线为位线。

9.一种存储器装置，包括：

一存储器阵列，包括多个存储单元以及分别连接该多个存储单元的栅极与漏极的多条第一传导线与第二传导线；以及

一电路，在一读取程序期间，施加一正电压至该多个第一传导线之一，以选择开启该多个存储单元之一，并提供一负电压至其余该多个第一传导线，以关闭未选择开启的其余该多个存储单元。

10.根据权利要求9所述的存储器装置，更包括一正电压源以及一负电压源，连接至该存储器阵列，以提供该正电压至选择开启的该多个存储单元之一，并提供该负电压至未选择开启的其余该多个存储单元。