[发明专利]薄膜的制法及共蒸镀用蒸镀材、薄膜、薄膜片及层叠片无效
申请号: | 201210008509.1 | 申请日: | 2012-01-12 |
公开(公告)号: | CN102628158A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 有泉久美子;吉田勇气;樱井英章 | 申请(专利权)人: | 三菱综合材料株式会社 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/00;B32B9/04 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 康泉;王珍仙 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 制法 共蒸镀用蒸镀材 层叠 | ||
1.一种薄膜的制造方法,其特征在于,
使用由第1氧化物构成的升华性蒸镀材和由第2氧化物构成的熔融性蒸镀材,利用通过真空成膜法同时蒸镀的共蒸镀法,在基材上形成由所述第1氧化物和所述第2氧化物构成的氧化物薄膜。
2.如权利要求1所述的薄膜的制造方法,其中,
以所述形成的薄膜的碱度成为0.03以上的方式组合由所述第1氧化物构成的升华性蒸镀材和由所述第2氧化物构成的熔融性蒸镀材。
3.如权利要求1或2所述的薄膜的制造方法,其中,
以所述形成的薄膜的第1氧化物与第2氧化物的摩尔比率成为5~85∶95~15的方式组合由所述第1氧化物构成的升华性蒸镀材和由所述第2氧化物构成的熔融性蒸镀材。
4.如权利要求1所述的薄膜的制造方法,其中,
所述升华性蒸镀材的第1氧化物为选自ZnO、CaO、MgO、SnO2及CeO2中的至少1种,所述熔融性蒸镀材的第2氧化物为选自SiO2、Al2O3及TiO2中的至少1种。
5.如权利要求1所述的薄膜的制造方法,其中,
所述真空成膜法为电子束蒸镀法、离子镀法、反应性等离子体蒸镀法、电阻加热法或感应加热法中的任意一种。
6.如权利要求1所述的薄膜的制造方法,其中,
所述升华性蒸镀材的第1氧化物颗粒的平均粒径及所述熔融性蒸镀材的第2氧化物颗粒的平均粒径分别为0.1~10μm。
7.一种共蒸镀用蒸镀材,其特征在于,
用于权利要求1至6中任一项所述的制造方法,
包括由所述第1氧化物构成的升华性蒸镀材与由所述第2氧化物构成的熔融性蒸镀材的组合。
8.如权利要求7所述的共蒸镀用蒸镀材,其中,
所述升华性蒸镀材的第1氧化物为选自ZnO、CaO、MgO、SnO2及CeO2中的至少1种,所述熔融性蒸镀材的第2氧化物为选自SiO2、Al2O3及TiO2中的至少1种。
9.如权利要求7或8所述的共蒸镀用蒸镀材,其中,
所述升华性蒸镀材的第1氧化物颗粒的平均粒径及所述熔融性蒸镀材的第2氧化物颗粒的平均粒径分别为0.1~10μm。
10.一种氧化物薄膜,其中,
通过权利要求1至6中任一项所述的制造方法得到,
使用由所述第1氧化物构成的升华性蒸镀材和由所述第2氧化物构成的熔融性蒸镀材,利用通过真空成膜法同时蒸镀的共蒸镀法成膜,并由所述第1氧化物及所述第2氧化物构成。
11.一种薄膜片,其中,
通过权利要求1至6中任一项所述的制造方法,在第1基材膜上形成氧化物薄膜而成,所述氧化物薄膜使用由所述第1氧化物构成的升华性蒸镀材和由所述第2氧化物构成的熔融性蒸镀材,利用通过真空成膜法同时蒸镀的共蒸镀法成膜,并由所述第1氧化物及所述第2氧化物构成。
12.如权利要求11所述的薄膜片,其中,
所述真空成膜法为电子束蒸镀法、离子镀法、反应性等离子体蒸镀法、电阻加热法或感应加热法中的任意一种。
13.如权利要求11或12所述的薄膜片,其中,
在温度20℃、相对湿度50%RH的条件下放置1小时时的水蒸气渗透率S为0.3g/m2·天以下。
14.一种层叠片,该层叠片在权利要求11至13中任一项所述的薄膜片的薄膜形成侧,通过粘着层层叠第2基材膜而成。
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