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[发明专利]具有极低吸放气率的高真空微电离规-CN96105031.4无效
发明人：陈丕瑾;齐京 -专利权人：清华大学
申请日： 1996-05-17 - 公布日： 2000-10-11 - 主分类号： G01L21/30 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有极低吸放气率的高真空微电离规，该电离规由金属外壳、，陶瓷芯柱离子收集极、阳极环和电子发射体组成。金属外壳的一端与陶瓷芯柱相熔封，外壳的另一端与待测器件相接，离子收集极与电子发射体组件相对阳极环同轴非对称安装于金属外壳内。电子发射体组件包括钨灯丝与反射极，阳极环到灯丝之间的距离为２ｍｍ。本发明在量测的压强范围不需要除气，吸放气率极低，适于密封器件内的高真空量测，规本身结构牢固，灵敏度另散小，耐振动，适于开关管内压强量测。
具有极低吸放气真空电离

[发明专利]一种适用于极寒自然灾害下的热电耦合系统状态估计方法-CN202011406407.6有效
发明人：陈颖;任正伟;王东升;李信;彭柏;李坚;吴佳;沈沉;黄少伟;肖娜;刘超;王艺霏;闫忠平;张少军;娄竞;来骥;杨睿;孟德;谢旭;宋鹏 -专利权人：清华大学;国网冀北电力有限公司;国网冀北电力有限公司信息通信分公司;国家电网有限公司
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G06Q10/0639 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种适用于极寒自然灾害下的热电耦合系统状态估计方法，方法包括：在极寒自然灾害条件下，基于热电耦合系统中的量测量、与量测量对应的状态估计量和权重矩阵，使用最小二乘法构建热电耦合系统的状态估计模型；基于一阶KKT条件，对状态估计模型进行分解，转化为非线性方程组求解状态估计量，得到热电耦合系统的运行状态；其中，权重矩阵由量测设备的测量精度确定，所述量测设备用来测量所述量测量。本发明实施例通过状态估计方法对极寒自然灾害下热电耦合系统的真实运行状态进行跟踪测量，实时获知系统真实运行状态；提出了针对不同类型量测设备在极寒自然灾害环境下的权重赋权策略，从算法层面实现了估计结果准确度的提升
一种适用于自然灾害热电耦合系统状态估计方法

[发明专利]太阳能电池的量测系统和太阳光模拟器-CN201010162004.1有效
发明人：施仁亲;李思贤;吴鸿森;吴登峻;梁玮耘;陈震伟;陈祀宏 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2010-04-15 - 公布日： 2011-10-19 - 主分类号： G01R31/265 文献下载
摘要：本发明涉及太阳能电池的量测系统和太阳光模拟器。本发明提供了一种量测系统，其包含光源产生装置、支撑装置及量测装置。光源产生装置被建构以产生光源，该光源产生装置包含多种发出不同波长的发光二极管所组成，其中该光源产生装置的发光频谱符合预定规范。支撑装置被建构以置放待测物。量测装置被建构以量测该待测物受该光源照射后所产生的电流及电压大小。
太阳能电池系统太阳光模拟器

[发明专利]场效应管负温度不稳定性的晶片级可靠性平行测试方法-CN200710171603.8有效
发明人：张卿彦;宋永梁 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-11-30 - 公布日： 2009-06-10 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种场效应管负温度不稳定性的WLR测试方法，将场效应管的各个端口通过探针卡与量测单元相连接，来测试场效应管的饱和电流；场效应管的栅极与漏极分别通过探针卡与量测单元相连接；所有场效应管的接地端口串联在一起通过探针卡接在同一个量测单元上；相邻的两个场效应管的源极串联起来通过探针卡接在同一个量测单元上。
场效应温度不稳定性晶片可靠性平行测试方法

[发明专利]量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法-CN202110769250.1在审
发明人：李想 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-07-07 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法，量测装置包括治具晶圆，治具晶圆包括：晶圆；测距传感器，设置于晶圆的正面，用于在治具晶圆置于反应腔室的晶圆吸盘上后量测治具晶圆与位于反应腔室顶部的上电极之间的距离；水平传感器，设置于晶圆的正面，水平传感器用于在治具晶圆置于晶圆吸盘上后量测晶圆吸盘的水平状况；数据传送装置，与测距传感器及水平传感器相连接，用于传送测距传感器量测的数据及水平传感器量测的数据。本申请中的量测装置避免了人工测量产生的误差，准确性较高；无需打开反应腔室即可实时地获取晶圆吸盘的水平状况，能够提升反应腔室工作的安全性和可靠性。
装置补偿系统方法

[发明专利]一种换流阀晶闸管控制单元测试装置与方法-CN202211366781.7在审
发明人：刘威;饶洪林;马树明;刘云舒;张博文;汪哲 -专利权人：国网湖北省电力有限公司直流公司
申请日： 2022-11-01 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种换流阀晶闸管控制单元测试装置与方法，包括：晶闸管级测试系统，主控单元分别与高频信号输出单元、模拟量采集单元、光接口和通信接口连接；高频信号输出单元与待测晶闸管级连接，用于向待测晶闸管级施加测试信号；光接口与待测晶闸管级连接，用于向待测晶闸管级施加光脉冲测试信号；模拟量采集单元与待测晶闸管级连接，用于采集待测晶闸管级的测试反馈信号；极控信号模拟系统，用于为待测换流阀提供极控信号；回检信号模拟系统，用于为待测换流阀提供回检信号。本发明通过利用晶闸管级测试系统、极控信号模拟系统和回检信号模拟系统在相应的换流阀接口上施加不同的测试信号，可以实现对多种换流阀晶闸管控制单元的多项功能测试。
一种换流晶闸管控制单元测试装置方法

[实用新型]一种变形量检测装置-CN202321034325.2有效
发明人：王飞平;胡传伟 -专利权人：中创新航科技（成都）有限公司;中创新航科技集团股份有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N3/14 文献下载
摘要：本实用新型涉及电池检测装置技术领域，具体涉及一种变形量检测装置。本实用新型提供的变形量检测装置，通过将待测物料夹持在第一夹手组件与第二夹手组件之间，并绕经卷绕辊，并通过施力组件牵引所述第二夹手组件相对所述基板朝远离所述第一夹手组件的方向移动，以模拟极片或隔膜的卷绕状态，随后通过测量组件测量所述待测物料的伸长量，以获得不同材料的变形量，真实反映卷绕状态下极片、隔膜变形量的差异性，进而方便对比极耳对齐度差异、卷芯褶皱差异等等，区分优劣极片、隔膜产品。还可以根据变形量对卷绕设备的张力进行修正，以便克服不同材料体系的物料变形量不同导致卷绕一致性较差的缺陷。
一种变形检测装置

[发明专利]功率器件测试装置-CN202110959548.9在审
发明人：杨海龙;王庆 -专利权人：上海瞻芯电子科技有限公司
申请日： 2021-08-20 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开涉及一种功率器件测试装置，所述装置包括：测试模块，包括第一基板及第二基板，所述第一基板包括第一接口，所述第二基板包括第二接口，所述第一接口用于接入晶体管，所述第二接口用于接入二极管，所述第一接口连接于所述第二接口；控制模块，连接于所述第一接口，用于：当所述第一接口接入待测晶体管且所述第二接口未接入二极管时，对所述待测晶体管的雪崩耐量进行测试；或当所述第一接口接入预设晶体管且所述第二接口接入待测二极管时，对所述待测二极管的雪崩耐量进行测试本公开实施例可以利用一个测试装置快速、准确、高效、灵活地实现对多种功率器件的雪崩耐量的测试，且成本较低，占用空间小。
功率器件测试装置

[发明专利]触控显示装置及其电容值感测方法-CN201310367188.9在审
发明人：王珣力 -专利权人：联咏科技股份有限公司
申请日： 2013-08-21 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G06F3/044 文献下载
摘要：本发明提供一种触控显示装置及其电容值感测方法。触控显示装置包括一显示面板、一源极驱动器、一触控面板、一触控感测电路及一干扰补偿单元。显示面板具有多个液晶像素。源极驱动器依据多个显示数据写入多个像素电压至这些液晶像素。触控面板与显示面板重叠配置且具有多个触控区域。触控感测电路检测这些触控区域的电容变化量。干扰补偿单元耦接触控感测电路以接收这些触控区域的电容变化量，且依据这些液晶像素分别对应的一电容干扰值修正各个触控区域对应的电容变化量后提供多个感测信号。
显示装置及其电容值感测方法

[发明专利]非接触式振动感测装置-CN201010290020.9有效
发明人：许耿祯;叶室宏 -专利权人：许耿祯
申请日： 2010-09-25 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： G01H11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种非接触式振动感测装置，通过将磁条的N极区块与S极区块的长度设置成不等距，通过侦测器对不等距的N极区块与S极区块的磁场方向进行侦测，再经由处理器计算输出电压变化，并转换成其相对应的振动波形，藉此以获悉待测物体的振动状态，本发明为不受厂房设备空间或待测物体外形限制、且可即贴即量的新一代非接触式振动感测装置。
接触振动装置

[实用新型]感测设备-CN201621393179.2有效
发明人： G·A·阿干诺夫;M·C·瓦尔登;万代新悟 -专利权人：苹果公司
申请日： 2016-12-19 - 公布日： 2017-08-11 - 主分类号： H01L31/107 文献下载
摘要：提供了一种感测设备。该感测设备包括感测元件的阵列。每个感测元件包括光电二极管，该光电二极管包括p‑n结；以及局部偏置电路，该局部偏置电路经耦接以在偏置电压下对p‑n结进行反向偏置，该偏置电压比p‑n结的击穿电压大一裕量，该裕量足以使得入射在p‑n结上的单个光子触发从感测元件输出的雪崩脉冲；以及偏置控制电路，该偏置控制电路经耦接以将感测元件中的不同感测元件中的偏置电压设置为大于击穿电压的不同的相应值。
设备

[发明专利]薄膜电阻值量测列印系统-CN200910205547.4无效
发明人：郑兆希;张新民;李亮宏 -专利权人：向熙科技股份有限公司
申请日： 2009-10-26 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明揭露一种薄膜电阻值量测列印系统，该薄膜电阻值量测列印系统包括：一控制装置，用以进行数据处理；一四极式探针电阻量测设备，量测设备具有多个探针，以形成多个电阻值量测点。其中，控制装置控制量测设备自动对工件上的多个待测点进行量测后，再将量测后的数据传回控制装置处理，以得到这些待测点的电阻值；以及一打印模块，电性连接于控制装置，打印模块具有一印字头，控制装置将这些待测点的电阻值传送至该印字头，印字头将待测点的电阻值印刷于一预定位置。本发明相对于现有技术的功效，除可自动化量测电阻值外，亦可在极短的时间内，大量地量测多个待测点，并且，在量测电阻值之后立即将电阻值标示于这些待测点。
薄膜阻值列印系统

[发明专利]发光元件色彩控制装置及发光二极管色彩控制装置-CN200810004281.2无效
发明人：黄秉钧;曾恒伦;叶忠福;许伯坚;吴民圣;陈星同;陈国扬 -专利权人：恒杰光电科技股份有限公司
申请日： 2008-01-29 - 公布日： 2009-08-05 - 主分类号： H05B37/02 文献下载
摘要：本发明是有关于一种发光元件色彩控制装置及发光二极管色彩控制装置。该发光元件色彩控制装置，包含二个以上发光元件，具有不同的输出光谱；二个以上功率量测器，用以分别量测二个以上发光元件的输入功率；及二个以上回授控制器，接收二个以上功率量测器测得功率讯号，并据此二个以上功率讯号该发光二极管色彩控制装置，包含：二个以上发光二极管、二个以上电源供应器、二个以上功率量测器及二个以上回授控制器。
发光元件色彩控制装置发光二极管

[发明专利]发光二极管的光性量测方法-CN200910177766.6无效
发明人：赖允晋;何昭辉;徐秋田 -专利权人：惠特科技股份有限公司
申请日： 2009-09-25 - 公布日： 2011-04-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种发光二极管的光性量测方法，是用于检测一个置放在一个透明承载板上的发光二极管，该发光二极管具有一正面及一背面，该光性量测方法包括步骤：(A)制备一个上光侦测装置及一个下光侦测装置，分别对应该发光二极管的正、背面；(B)利用点测方式使该发光二极管发光，并由该上、下光侦测装置侦测该发光二极管的正、背面方向的光，以获得该发光二极管的正、背面方向的光性资料；(C)收集该上、下光侦测装置侦测所得的光性资料，并进行综合分析及计算借此，可获得最接近该发光二极管封装后的光性资料。
发光二极管光性量测方法

[发明专利]源极驱动器及包括该源极驱动器的显示设备-CN202011472157.6在审
发明人：申京旻;金星河;安容星;李正;朴贞烈 -专利权人：硅工厂股份有限公司
申请日： 2020-12-15 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G09G3/3275 文献下载
摘要：公开了一种源极驱动器以及包括该源极驱动器的显示设备，该源极驱动器通过考虑包括在每个显示面板中的像素相似地劣化的特性来感测显示面板的一些区域中像素的劣化程度，并且基于感测到的劣化程度来补偿显示面板中的劣化该显示设备可以包括：包括像素的显示面板；感测电路，配置为通过感测该显示面板的至少一个第一区域中像素的劣化程度提供感测数据；以及补偿电路，配置为使用该感测数据计算第一区域中每个像素的补偿量，并且基于该补偿量补偿第一区域中像素的劣化以及未感测劣化程度的第二区域中像素的劣化
驱动器包括显示设备