专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]细胞显微图像中荧光杂点的确定方法和装置-CN202210381292.2有效
  • 邝英兰;吕行;范献军;叶莘 - 珠海横琴圣澳云智科技有限公司
  • 2022-04-13 - 2022-07-05 - G06V10/98
  • 本申请提供一种细胞显微图像中荧光杂点的确定方法和装置,其中方法包括:获取第一细胞显微图像中的第一荧光信号点,确定所述第一荧光信号点的荧光信号强度,并在所述第一荧光信号点的荧光信号强度小于当前视野第一探针通道对应的荧光信号强度阈值的情况下,将所述第一荧光信号点确定为潜在异常荧光信号点,获取所述潜在异常荧光信号点的形态特征以及所述潜在异常荧光信号点与至少一个第二荧光信号点的欧氏距离,基于所述潜在异常荧光信号点的形态特征、所述潜在异常荧光信号点与至少一个第二荧光信号点的欧氏距离以及所述荧光信号强度阈值,确定所述潜在异常荧光信号点是否为荧光杂点,能够准确确定荧光杂点,保证CACs检测的准确性。
  • 细胞显微图像荧光确定方法装置
  • [发明专利]原子荧光光谱仪背景扣除方法和原子荧光光谱仪-CN201610377937.X有效
  • 高树林;李志华;李宏 - 北京金索坤技术开发有限公司
  • 2016-05-31 - 2018-10-12 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种原子荧光光谱仪背景扣除方法,包括:通过目标元素光源对被测样品进行测试,得到第一荧光信号;所述第一荧光信号为所述被测样品中目标元素和干扰元素所产生的荧光信号的叠加信号;通过扣背景光源对所述被测样品进行测试,得到第二荧光信号;所述第二荧光信号值为所述被测样品中干扰元素所产生的荧光信号;将所述第一荧光信号与第二荧光信号进行作差运算,得到所述目标元素的荧光信号。本发明通过增加扣背景光源,得到被测样品中干扰元素所产生的荧光信号,进而采用算法扣除干扰元素所产生的荧光信号,提高测试的准确率。
  • 原子荧光光谱仪背景扣除方法
  • [发明专利]温度场测量方法及装置-CN202211533889.0在审
  • 符泰然;吴宇颂;张常贤;黄冠尧;张达;王希影;荆甫雷 - 清华大学;中国航空发动机研究院
  • 2022-12-01 - 2023-03-14 - G01K11/12
  • 一种温度场测量方法及装置,该温度场测量方法包括:获取第一荧光信号、第二荧光信号、第三荧光信号和第四荧光信号;重复执行至少一次获取第一荧光信号和第二荧光信号的过程,根据至少一个第一荧光信号得到至少一个第一图像;根据至少一个第二荧光信号得到至少一个第二图像;重复执行至少一次获取第三荧光信号和第四荧光信号的过程;根据至少一个第三荧光信号得到至少一个第三图像;根据至少一个第四荧光信号得到至少一个第四图像;根据至少一个第一图像的荧光强度、至少一个第二图像的荧光强度、至少一个第三图像的荧光强度、至少一个第四图像的荧光强度得到探测目标的温度。
  • 温度场测量方法装置
  • [发明专利]荧光激光雷达障碍物排除方法-CN202110828197.8在审
  • 陈思颖;马扬程;陈和;张寅超;郭磐;檀望舒;李道明;杨显 - 北京理工大学
  • 2021-07-21 - 2021-10-26 - G01S17/95
  • 公开了荧光激光雷达障碍物排除方法,方法中,荧光激光雷达扫描探测获得荧光通道回波信号和弹性散射通道回波信号;矫正所述荧光通道回波信号和弹性散射通道回波信号;获得矫正后的荧光通道回波信号的峰值以及矫正后的弹性散射通道回波信号的峰值;比较所述弹性散射通道回波信号的峰值与预定弹性散射回波阈值以预判断障碍物,预判断存在障碍物时,将所述荧光通道回波信号的峰值与所述弹性散射通道回波信号峰值做比得到荧光‑米信号比,将荧光‑米信号比与预定荧光‑米信号比阈值作比较,若荧光‑米信号比小于荧光‑米信号比阈值,则判定存在障碍物并排除。
  • 荧光激光雷达障碍物排除方法
  • [发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法-CN201080007693.7无效
  • 中田成幸;土井恭二 - 三井造船株式会社
  • 2010-02-08 - 2012-01-11 - G01N21/64
  • 本发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法,该荧光检测装置在接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时,生成用来对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号,并利用该调制信号对激光进行调制,并获得测量对象物被激光照射后所发出的荧光荧光信号,并利用该荧光信号计算出荧光强度和荧光相对于调制信号的相位滞后,此时,荧光检测装置对调制信号DC成分的信号电平和刚刚输出荧光信号的放大增益的操作量进行控制,以使荧光强度信号值进入预先设定的范围内,操作量处于稳定状态后,计算出荧光强度,且利用相位滞后计算出测量对象物所发出的荧光荧光弛豫时间。
  • 荧光检测装置方法
  • [发明专利]宽频带无换能器光声和荧光双成像装置及其检测方法-CN201210504754.1有效
  • 邢达;陈重江;杨思华 - 华南师范大学
  • 2012-11-29 - 2013-04-03 - G01N21/17
  • 本发明公开了一种宽频带无换能器光声和荧光双成像装置及其检测方法。该装置包括光声/荧光激发光源和光声信号检测光源组件、光声信号检测组件、荧光信号检测组件和光声/荧光信号采集/处理组件;光声/荧光激发光源和光声信号检测光源组件分别与光声信号检测组件、光声/荧光信号采集/处理组件连接,光声信号检测组件分别与荧光信号检测组件、光声/荧光信号采集/处理组件连接,荧光信号检测组件和光声/荧光信号采集/处理组件连接。本发明利用脉冲激光照射生物样品产生光声信号,用较窄线宽的连续激光聚焦在样品表面,通过检测样品表面的振动速度达到检测光声信号的目的,摆脱了换能器的带宽限制缺陷,实现了光声/荧光双成像的有机结合。
  • 宽频带无换能器光声荧光成像装置及其检测方法
  • [发明专利]荧光检测方法以及荧光检测装置-CN200980107755.9无效
  • 星岛一辉;林弘能;中田成幸 - 三井造船株式会社
  • 2009-02-18 - 2011-01-26 - G01N15/14
  • 本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置,该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时,与以往相比,能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中,在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时,收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而,在测定对象物通过激光的照射位置后,在激光的照射位置没有测定对象物的状态下,收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号,求出测定对象物的发出的荧光荧光信号相对于调制信号的相位差信息,并从所求出的测定对象物发出的荧光荧光信号的相位差信息中,求出测定对象物的荧光松弛时间常数。
  • 荧光检测方法以及装置

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