专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]数据处理电路及故障减轻方法-CN202111571037.6在审
  • 刘恕民;吴凯强;唐文力 - 台湾发展软体科技股份有限公司
  • 2021-12-21 - 2023-07-04 - G06F7/544
  • 本发明实施例提供一种数据处理电路及故障减轻方法,其适用于具有故障位的存储器,且存储器用于存储图像相关的数据、对图像进行特征撷取的乘积累加运算所用的权重及/或激励运算所用的数值。将序列资料写入存储器。序列数据的位数等于存储器的某一序列区块中用于存储数据的位数。自存器存取序列数据,其包括忽略对存储器中故障位上的存取。对序列数据中对应于故障位的位上的数值使用存储器中未故障位上的数值取代,以形成新序列资料。新序列数据用于乘积累加运算。藉此,可对故障存储器改进图像辨识的准确度。
  • 数据处理电路故障减轻方法
  • [发明专利]半导体存储器件及其多位并行测试方法-CN90106619.2无效
  • 安启虎 - 三星电子株式会社
  • 1990-07-31 - 1994-06-15 - G01R31/26
  • 一种半导体存储器件及进行多位并行测试的方法,所述存储器件包含用于读出存储器单元组数据的读出电路;接在数据读出电路和数据总线对之间的驱动器,连接在读出电路和相应数据总线对之间的第一比较器,其输入接到数据总线对而输出可与数据输出缓冲器连接的第二比较器在正常模式下数据读出电路将来自存器单元组的多个数据对通过驱动器位送给数据总线对,而在测试模式下数据读出电路将多个数据对送至第一比较器。
  • 半导体存储器件及其并行测试方法

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