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- [发明专利]单晶X射线构造解析用试样的吸藏装置和吸藏方法-CN201980088995.2在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-24
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G01N23/20025
- 能够将吸藏了试样的细孔性络合物晶体可靠地供给至单晶X射线构造解析装置。使试样吸藏的吸藏装置具备:供给部,将所述试样供给到被试样保持架(310)保持的细孔性络合物晶体;温度调整部,控制所述细孔性络合物晶体的温度;驱动部,驱动所述供给部;以及控制部,控制所述供给部、所述温度调整部和所述驱动部将所述试样保持架(310)在装配于敷料器(311)的状态下设置于所述吸藏装置,所述供给部对在所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体供给所述试样,所述温度调整部控制在供给所述试样的所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体的温度。
- 射线构造解析试样装置方法
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