“空间光调制器”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果10480544个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]空间立体显示装置-CN201821868965.2有效
发明人：黄琴华;李文权 -专利权人：深圳创维新世界科技有限公司
申请日： 2018-11-13 - 公布日： 2019-06-18 - 主分类号： G02B27/22 文献下载
摘要：本实用新型涉及三维显示技术领域，具体而言，涉及一种空间立体显示装置。该空间立体显示装置包括：背光模组、光学渲染模组、空间光调制器及光调制模组。通背光模组用于为空间光调制器提供平行或近平形的照明光束。光学渲染模组用于根据待显示的三维虚拟物体计算空间光调制器的每一个像素在每个时间段内的灰度值并输出到空间光调制器上，以及根据待显示的三维虚拟物体计算光调制模组的每一阵列单元的光束偏转角度并输出到光调制模组上光调制模组的阵列单元与空间光调制器的像素一一对应，对空间光调制器每个像素对应的光束分别进行角度偏转控制。本实用新型提供的空间立体显示装置能够解决人眼的汇聚和辐辏不一致问题。
空间光调制器模组空间立体显示装置光调制像素三维虚拟物体本实用新型背光模组渲染光束偏转角度偏转三维显示照明光束阵列单元输出不一致列单元时间段辐辏灰度平形人眼平行汇聚

[发明专利]一种光谱可调的图像投影的方法、系统、设备和存储介质-CN202111585623.6在审
发明人：周朗 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2021-12-23 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： H04N9/31 文献下载
摘要：本发明提供一种光谱可调的图像投影的方法、系统、设备和存储介质，方法包括：通过控制光源温度确定初始光源光谱的范围，并将光源发出的光进行色散并将色散后的光准直投射到第一空间光调制器；通过所述第一空间光调制器对色散后各波长的光进行选通，并对选通后的光进行汇聚后投射到第二空间光调制器；通过所述第二空间光调制器采用脉宽灰度调制模式对灰度图像进行显示；以及通过投影镜头将所述第二空间光调制器调制的光投影到被测探测器光学系统中。本发明可以实现100nm分辨率的光谱调制。
一种光谱可调图像投影方法系统设备存储介质

[发明专利]双调制激光投影系统和方法-CN202080021075.1在审
发明人： J·P·佩蒂耶拉;M·J·理查兹;D·V·海达罗夫 -专利权人：杜比实验室特许公司
申请日： 2020-03-15 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： H04N9/31 文献下载
摘要：一种双调制激光投影系统(100)，包括：偏振分束器(110)，该偏振分束器用于将激光(180)分成具有相互正交的偏振的第一偏振光束(182)和第二偏振光束(184)，相位空间光调制器(120)，该相位空间光调制器用于对第二偏振光束(184)进行光束转向，机械振幅空间光调制器(130)，该机械振幅空间光调制器用于对第一偏振光束(182)和作为由相位空间光调制器(120)进行转向的光束的第二偏振光束(186)的组合进行振幅调制；以及滤光器(140)，滤光器用于从第一偏振光束和第二偏振光束的组合(190)中去除由机械振幅空间光调制器(130)引入的多个衍射级中的一个或多个衍射级，以生成经过滤的调制输出光(192)。
调制激光投影系统方法

[发明专利]测量装置、系统和方法-CN201380025699.0有效
发明人： E·B·休斯;M·S·沃登 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2013-03-28 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G01S17/66 文献下载
摘要：测量装置(120)包括光指向器和空间光调制器(130)。该光指向器设置为使光指向至空间光调制器(130)，以及空间光调制器(130)设置为接收并调制来自光指向器的光以形成一强度式样。一光学元件设置为接收形成该强度式样的光，并配置为将该强度式样放大至测量空间中。检测器(142)设置为检测反射自测量空间的光。
测量装置系统方法

[发明专利]照明光学设备、曝光设备、照明方法、曝光方法和装置制造方法-CN201410019498.6有效
发明人：谷津修 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2008-10-23 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：所述光学单元具有：分光器(35)，用以使入射射束分裂成两个射束；第一空间光调制器(33)，其可布置于第一射束的光学路径中；第二空间光调制器(34)，其可布置于第二射束的光学路径中；和光组合器(36)，其将已通过所述第一空间光调制器的射束与已通过所述第二空间光调制器的射束组合；所述第一空间光调制器和所述第二空间光调制器中的每一者具有二维地布置且个别地被控制的多个光学元件(33a、34a)。
照明光学设备曝光方法装置制造

[发明专利]照明光学设备、曝光设备、照明方法、曝光方法和装置制造方法-CN201410018304.0有效
发明人：谷津修 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2008-10-23 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：所述光学单元具有分光器(35)，用以使入射射束分裂成两个射束；第一空间光调制器(33)，其可布置于第一射束的光学路径中；第二空间光调制器(34)，其可布置于第二射束的光学路径中；和光组合器(36)，其将已通过所述第一空间光调制器的射束与已通过所述第二空间光调制器的射束组合；所述第一空间光调制器和所述第二空间光调制器中的每一者具有二维地布置且个别地被控制的多个光学元件(33a、34a)。
照明光学设备曝光方法装置制造

[发明专利]照明光学设备、曝光设备、照明方法、曝光方法和装置制造方法-CN201410018301.7有效
发明人：谷津修 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2008-10-23 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：所述光学单元具有分光器(35)，用以使入射射束分裂成两个射束；第一空间光调制器(33)，其可布置于第一射束的光学路径中；第二空间光调制器(34)，其可布置于第二射束的光学路径中；和光组合器(36)，其将已通过所述第一空间光调制器的射束与已通过所述第二空间光调制器的射束组合；所述第一空间光调制器和所述第二空间光调制器中的每一者具有二维地布置且个别地被控制的多个光学元件(33a、34a)。
照明光学设备曝光方法装置制造

[发明专利]光学单元、照明光学设备、曝光设备和装置制造方法-CN200880100940.0有效
发明人：谷津修 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2008-10-23 - 公布日： 2010-06-30 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：所述光学单元具有：分光器35，用以使入射射束分裂成两个射束；第一空间光调制器33，其可布置于第一射束的光学路径中；第二空间光调制器34，其可布置于第二射束的光学路径中；和光组合器36，其将已通过所述第一空间光调制器的射束与已通过所述第二空间光调制器的射束组合；所述第一空间光调制器和所述第二空间光调制器中的每一者具有二维地布置且个别地被控制的多个光学元件33a、34a。
光学单元照明设备曝光装置制造方法

[发明专利]用于机动车的照明装置-CN201980005838.0在审
发明人： H·艾德尔;A·哈纳菲 -专利权人：宝马股份公司
申请日： 2019-01-14 - 公布日： 2020-07-03 - 主分类号： F21S41/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于机动车的照明装置，该照明装置包括光源(2)以及空间光调制器(4)，来自光源(2)的光落到该空间光调制器上，所述空间光调制器(4)能够被电操控，以便在照明装置(1)的运行中调制落到该空间光调制器上的光的振幅，使得在机动车的周围环境中产生预定光分布。在照明装置(1)中设有扫描器(3)，来自光源(2)的光落到该扫描器上，并且该扫描器配置用于实施扫描运动，从而由落到扫描器(3)上的光产生运动的光束(LS)，该运动的光束在空间光调制器(4)上照亮预定区域
用于机动车照明装置

[发明专利]基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置的测量方法-CN201610351353.5有效
发明人：吴石;王洋洋;刘献礼;王延福;朱美文 -专利权人：哈尔滨理工大学
申请日： 2016-05-25 - 公布日： 2018-09-25 - 主分类号： B23Q17/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置及测量方法。机械加工的薄壁件表面误差测量通常接触式测量，接触零部件表面，其测量移动速度较慢，无法测量小于侧头曲率半径的微观凹坑。本发明组成包括：一组测量装置（14），测量装置包括套筒（1），套筒上部通过螺栓与支撑装置（9）连接，支撑装置两端通过连接轴分别与2个调制器卡夹紧装置（2）连接，调制器卡夹紧装置内部分别安装有左液晶空间光调制器（3）、右液晶空间光调制器（8），左液晶空间光调制器、右液晶空间光调制器内表面分别安装有偏振片（7），套筒上方通过方形凹槽安装有数字相移干涉仪（6）。本发明用于基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置。
基于空间调制器薄壁加工误差测量装置测量方法

[实用新型]基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置-CN201620482920.6有效
发明人：吴石;王洋洋;刘献礼;王延福;刘海瑞 -专利权人：哈尔滨理工大学
申请日： 2016-05-25 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： B23Q17/20 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置。机械加工的薄壁件表面误差测量通常接触式测量，接触零部件表面，其测量移动速度较慢，无法测量小于侧头曲率半径的微观凹坑。本实用新型组成包括：一组测量装置（14），测量装置包括套筒（1），套筒上部通过螺栓与支撑装置（9）连接，支撑装置两端通过连接轴分别与2个调制器卡夹紧装置（2）连接，调制器卡夹紧装置内部分别安装有左液晶空间光调制器（3）、右液晶空间光调制器（8），左液晶空间光调制器、右液晶空间光调制器内表面分别安装有偏振片（7），套筒上方通过方形凹槽安装有数字相移干涉仪（6）。本实用新型用于基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置。
基于空间调制器薄壁加工误差测量装置

[发明专利]脉冲光生成装置、光照射装置、光加工装置、光响应测定装置、显微镜装置及脉冲光生成方法-CN201780020472.5有效
发明人：伊藤晴康;高桥考二;渡边向阳 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-03-15 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：脉冲光生成装置(1A)具备：色散部(12)，将脉冲光按每个波长色散；偏光依赖型的空间光调制器(14)，按每个波长调制被色散的脉冲光；合成部(16)，合成从空间光调制器(14)被输出的脉冲光的各个波长成分输入到空间光调制器(14)的脉冲光的偏光面相对于空间光调制器(14)具有调制作用的偏光方向进行倾斜。空间光调制器(14)使时间差产生于沿着偏光方向的脉冲光的第1偏光成分和与该第1偏光成分相交叉的脉冲光的第2偏光成分之间。由此，能够实现容易抑制2个脉冲光成分的时间差的变动的脉冲光生成装置。
脉冲生成装置照射加工响应测定显微镜方法

[发明专利]空间光调制器面阵或线阵缺陷的容错方法及系统-CN200810019118.3无效
发明人：杨晨;张耀辉;黄寓洋;刘伟;马文龙 -专利权人：苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2008-01-10 - 公布日： 2008-07-09 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种列阵空间光调制器的容错系统，包括光源、分光镜、四分之一波片、空间光调制器和容错控制电路，所述四分之一波片为2个，分别位于所述分光镜的两个相邻侧面之后，所述空间光调制器为2个，且无盲点重合，分别位于2个四分之一波片之后，所述容错控制电路控制所述空间光调制器。本发明可利用容错控制电路关闭空间光调制器中的相关好点，使得二个空间光调制器对应的两个相元中只有一个是好点，使入射光的强度调制相同，因而平衡了出射光强度，进一步降低了误码率，提高了调制器光信号处理能力。
空间调制器缺陷容错方法系统

[发明专利]全息投影照明系统-CN201210062624.7有效
发明人：谈顺毅 -专利权人：江苏慧光电子科技有限公司
申请日： 2012-03-13 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G03B21/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种全息投影照明系统，包括：将光源发出的光束调制到预设参数的光源整形器；与所述光源整形器耦合的空间光调制器，所述空间光调制器根据输入的全息图像调制所述光束，还原原图像；与所述空间光调制器相连的控制模块，所述控制模块向所述空间光调制器提供所述全息图像。
全息投影照明系统

[实用新型]全息投影照明系统-CN201220092483.9有效
发明人：谈顺毅 -专利权人：江苏慧光电子科技有限公司
申请日： 2012-03-13 - 公布日： 2012-10-10 - 主分类号： G03B21/20 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种全息投影照明系统，包括：将光源发出的光束调制到预设参数的光源整形器；与所述光源整形器耦合的空间光调制器，所述空间光调制器根据输入的全息图像调制所述光束，还原原图像；与所述空间光调制器相连的控制模块，所述控制模块向所述空间光调制器提供所述全息图像。
全息投影照明系统