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[发明专利]光脉冲产生装置及光脉冲产生方法-CN202180086148.X在审
发明人： 高桥考二 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2021-10-05 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：本发明的光脉冲产生装置具备：模式同步型的光共振器、光源、及波形控制部。光共振器包含光放大介质，产生及放大并输出激光。光源与光共振器光学耦合，将激发光赋予光放大介质。波形控制部配置在光共振器内，在规定期间内控制激光的时间波形，并将激光转换为包含位于光共振器的周期内的二个以上的光脉冲的光脉冲列。光共振器在规定期间后放大光脉冲列并作为激光输出。
脉冲产生装置方法

[发明专利]光传送介质测定方法、光传送介质测定装置、光传送介质测定程序和存储介质-CN202080090097.3在审
发明人： 高桥考二;新垣隆 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2020-11-19 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：在光传送介质测定方法中，对光传送介质进行中心波长彼此相等且特性不同的多次光输入，取得与多次光输入分别对应的来自光传送介质的多次光输出的强度谱的实测值。使非线性系数和波长分散值变化并且计算基于多次光输入各自的强度谱和相位谱、光传送介质的非线性系数和波长分散值、多次光输出各自的强度谱的理论关系计算出的强度谱的推定值与实测值的误差。然后，基于非线性系数和波长分散值与误差的关系的、起因于特性的差异的多次光输入间的差异，决定光传送介质的非线性系数和波长分散值。由此，实现了高精度地取得光传送介质的非线性系数和波长分散值的测定方法。
传送介质测定方法装置程序存储

[发明专利]数据制作装置、光控制装置、数据制作方法以及数据制作程序-CN201780052952.X有效
发明人：渡边向阳;高桥考二;井上卓 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-07-28 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：本发明提供数据制作装置、光控制装置、数据制作方法以及数据制作程序。本发明的数据制作装置中，对包括强度谱函数和相位谱函数的频域中的第一波形函数进行傅立叶变换，生成包括时间强度波形函数和时间相位波形函数的时域中的第二波形函数；以使第二波形函数的谱图接近按照所期望的波形和所期望的波长带预先生成的目标谱图的方式修正所述第二波形函数；对修正后的第二波形函数进行傅立叶逆变换，生成频域中的第三波形函数；基于第三波形函数的强度谱函数或相位谱函数生成数据。由此，能够控制构成时间强度波形的光的波长分量(频率分量)。
数据制作装置控制制作方法以及程序

[发明专利]脉冲光生成装置、光照射装置、光加工装置、光响应测定装置、显微镜装置及脉冲光生成方法-CN201780020472.5有效
发明人：伊藤晴康;高桥考二;渡边向阳 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-03-15 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：脉冲光生成装置(1A)具备：色散部(12)，将脉冲光按每个波长色散；偏光依赖型的空间光调制器(14)，按每个波长调制被色散的脉冲光；合成部(16)，合成从空间光调制器(14)被输出的脉冲光的各个波长成分。输入到空间光调制器(14)的脉冲光的偏光面相对于空间光调制器(14)具有调制作用的偏光方向进行倾斜。空间光调制器(14)使时间差产生于沿着偏光方向的脉冲光的第1偏光成分和与该第1偏光成分相交叉的脉冲光的第2偏光成分之间。由此，能够实现容易抑制2个脉冲光成分的时间差的变动的脉冲光生成装置。
脉冲生成装置照射加工响应测定显微镜方法

[发明专利]调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法、调制图案计算程序以及存储介质-CN201680027961.9有效
发明人：渡边向阳;井上卓;高桥考二 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2016-05-11 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：调制图案计算装置(20)具备迭代傅里叶变换部(23a)、滤波处理部(23b)以及调制图案计算部(24)。迭代傅里叶变换部(23a)对包含强度谱函数以及相位谱函数的波形函数进行傅里叶变换，在傅里叶变换后进行了基于所期望的波形的时间强度波形函数的置换之后进行傅里叶逆变换，在傅里叶逆变换后进行用于约束相位谱函数的置换。滤波处理部(23b)对频域中的强度谱函数进行去除超过每个波长的截止强度的部分的滤波处理。由此，实现了能够容易地计算出用于使光的时间波形接近所期望的波形的强度谱的调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法以及调制图案计算程序。
调制图案计算装置控制计算方法程序以及存储介质

[发明专利]脉冲光的波形测量方法及波形测量装置-CN201780020106.X有效
发明人： 高桥考二;伊藤晴康;渡边向阳 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-03-15 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：波形测量方法中，首先，将初始脉冲光(Lp)按每一个波长在空间上分散。其次，在偏振依赖型的SLM中使偏振面相对于调制轴方向倾斜的状态下，将初始脉冲光(Lp)输入至SLM，对沿调制轴方向的初始脉冲光(Lp)的第一偏振分量的相位光谱进行调制，由此，使由第一偏振分量构成的第一脉冲光(Lp1)、与由正交于该第一偏振分量的初始脉冲光(Lp)的第二偏振分量构成的第二脉冲光(Lp2)之间产生时间差。将各波长分量合成之后，向对象物(24)照射脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)，并检测产生于对象物(24)的光。一边变更脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)的时间差，一边进行上述检测处理，根据检测结果求出脉冲光(Lp1)的时间波形。由此，实现能够减少因对象脉冲光与参照脉冲光的干涉引起的噪声的脉冲光的波形测量方法及波形测量装置。
脉冲波形测量方法测量装置

[发明专利]摄像系统和摄像方法-CN201780018766.4有效
发明人：渡边向阳;高桥考二;井上卓;伊藤晴康 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-03-15 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：摄像系统(1A)包括：输出初始脉冲光(Lp)的光源(21)；使初始脉冲光(Lp)的偏光面旋转的偏光控制部(22)；光脉冲整形部(10A)，输入使偏光面旋转后的初始脉冲光(Lp)，使具有第1偏光方向的第1脉冲光(Lp1)和具有与第1偏光方向不同的第2偏光方向的第2脉冲光(Lp2)彼此具有时间差而输出；将脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)照射到摄像对象物(B)的照射光学系统(23)；基于偏光方向将在摄像对象物(B)反射或透过后的脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)分离的光分离元件(24)；对分离后的脉冲光(Lp1)进行摄像的摄像部(25)；和对分离后的脉冲光(Lp2)进行摄像的摄像部(26)。由此，实现了摄像速度能够进一步高速化的摄像系统和摄像方法。
摄像系统方法

[发明专利]调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法、调制图案计算程序以及存储介质-CN201680027962.3有效
发明人：渡边向阳;井上卓;高桥考二 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2016-05-11 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：调制图案计算装置(20)的迭代傅立叶变换部(22a)对包含强度谱函数以及相位谱函数的波形函数进行傅立叶变换，在傅立叶变换后进行了基于所期望的波形的时间强度波形函数的置换之后进行傅立叶逆变换。迭代傅立叶变换部(22a)使用对表示所期望的波形的函数乘以系数后的乘积来进行置换，系数具有与该系数的乘法运算前相比较，使乘法运算后的函数与傅立叶变换后的时间强度波形函数之差变小的值。由此，实现了能够抑制在迭代傅立叶运算时被引导到局部解并且能够高精度地计算出用于使光的时间波形接近所期望的波形的强度谱或者相位谱的调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法以及调制图案计算程序。
调制图案计算装置控制计算方法程序以及存储介质

[发明专利]波形测量装置和脉冲光生成装置-CN201580020774.3有效
发明人：井上卓;渡边向阳;高桥考二;松本直也 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2015-04-08 - 公布日： 2019-06-25 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明的波形测量装置具有：输入光谱取得部，取得作为脉冲光的强度光谱的输入强度光谱；光学元件，输入脉冲光，输出具有与脉冲光的相位光谱对应的强度光谱的光；输出光谱取得部，取得作为从光学元件输出的光的强度光谱的输出强度光谱；相位光谱确定部，将具有输入强度光谱和假想的相位光谱的脉冲光假设被输入到光学元件时所计算出的输出强度光谱、与在输出光谱取得部中取得的输出强度光谱进行比较，确定脉冲光的相位光谱。相位光谱确定部使控制相位光谱变形，设定假想的相位光谱。
波形测量装置脉冲生成

[发明专利]波形重构装置、波形重构系统以及波形重构方法-CN201380010306.9有效
发明人：小西毅;高桥考二;永岛知贵 -专利权人：国立大学法人大阪大学
申请日： 2013-02-06 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：波形重构装置(140)具备相位频谱算出部(143)，(a)按输入光信号的每个强度，设想为输入光信号具有给定的相位频谱，来进行输入光信号在光传输媒体内的传播模拟，从而算出输出光信号的计算功率谱，(b)以使计算功率谱和测量功率谱的按输入光信号的每个强度的差异变小的方式，使给定的相位频谱变化，进行传播模拟，从而探索输入光信号的相位频谱；波形重构部(144)，利用探索出的相位频谱来对输入光信号的时间波形进行重构，相位频谱算出部(143)只根据非线性光学效果以及色散效果中的一方，来使给定的相位频谱变化，或者进行传播模拟。
波形装置系统以及方法

[发明专利]光物理常数测量方法及光物理常数推测装置-CN201380070881.8在审
发明人：小西毅;高桥考二;川西健太郎 -专利权人：国立大学法人大阪大学
申请日： 2013-12-24 - 公布日： 2016-02-03 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：光物理常数测量方法，包括：分割步骤(S106)，沿着传播方向虚拟地分割光传输介质，从而设定多个第一段；第一推测步骤(S108～S114)，根据基于一模型的第一传播模拟的结果，推测多个第一段中每个段的光物理常数，在该模型中各个强度的输入光信号按顺序在多个第一段传播，在第一推测步骤中，采用对测量出的输出光信号的功率谱与作为第一传播模拟的结果而得到的输出光信号的功率谱的差异进行评价的评价函数，搜索多个第一段中每个段的光物理常数，从而推测多个第一段中每个段的光物理常数。
物理常数测量方法推测装置

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